СБОР ИНФОРМАЦИИ

1. Детектор формирования изображения, содержащий:
матрицу (204) фотодетекторов, имеющую светочувствительную сторону и противоположную считывающую сторону;
матрицу (202) сцинтилляторов, оптически соединенную со светочувствительной стороной матрицы (204) фотодетекторов; и
обрабатывающие электронные схемы (208), электрически соединенные со считывающей стороной матрицы (204) фотодетекторов, причем матрица (204) фотодетекторов, матрица (202) сцинтилляторов и обрабатывающие электронные схемы (208) находятся в термическом контакте, а значение термического коэффициента обрабатывающих электронных схем (208) приблизительно равно отрицательному значению суммы термического коэффициента матрицы (204) фотодетекторов и термического коэффициента матрицы (202) сцинтилляторов.
2. Детектор по п.1, в котором обрабатывающие электронные схемы (208) включают в себя преобразователь (302) «ток-частота», преобразующий выходной заряд матрицы (204) фотодетекторов в цифровые данные с использованием частоты, являющейся показателем выходного заряда.
3. Детектор по любому из пп.1 и 2, в котором значение термического коэффициента обрабатывающих электронных схем (208) практически гасит термический коэффициент матрицы (204) фотодетекторов и термический коэффициент матрицы (202) сцинтилляторов.
4. Детектор по любому из пп.1 и 2, в котором чистый термический коэффициент обрабатывающих электронных схем (208), матрицы (204) фотодетекторов и термический коэффициент матрицы (202) сцинтилляторов составляют приблизительно 0,00%/°С.
5. Детектор по любому из пп.1 и 2, дополнительно содержащий:
блок (314) определения термического коэффициента, выполненный с возможностью определения термического коэффициента обрабатывающих электронных схем (208) на основе термических коэффициентов матрицы (204) фотодетекторов и матрицы (202) сцинтилляторов.
6. Детектор по п.5, в котором блок (314) определения термического коэффициента выполнен с возможностью идентификации рассогласования термических коэффициентов между матрицей (204) фотодетекторов, матрицей (202) сцинтилляторов и обрабатывающими электронными схемами (208), которое превышает предварительно определенный порог рассогласования, и изменения термического коэффициента обрабатывающих электронных схем (208) таким образом, чтобы термический коэффициент обрабатывающих электронных схем (208) был приблизительно равен отрицательному значению суммы термического коэффициента матрицы (204) фотодетекторов и термического коэффициента матрицы (202) сцинтилляторов.
7. Детектор по любому из пп.1 и 2, в котором термический коэффициент обрабатывающих электронных схем (208) является программируемым.
8. Детектор по любому из пп.1 и 2, в котором обрабатывающие электронные схемы (208) содержат:
аналого-цифровой (A/D) преобразователь (302), выполненный с возможностью поочередного преобразования первого сигнала заряда, соответствующего падающему излучению, в первый цифровой сигнал, и второго сигнала заряда, соответствующего убывающему заряду сцинтиллятора, во второй цифровой сигнал; и
логический блок (308), выполненный с возможностью коррекции первого цифрового сигнала на основе второго цифрового сигнала.
9. Детектор по любому из пп.1 и 2, в котором обрабатывающие электронные схемы (208) дополнительно содержат:
аналого-цифровой (A/D) преобразователь (302), выполненный с возможностью преобразования выхода матрицы (204) фотодетекторов в цифровой сигнал;
блок (318) определения сигнала напряжения смещения интегратора, выполненный с возможностью подачи сигнала напряжения смещения интегратора на аналого-цифровой (A/D) преобразователь (302), что приводит к созданию электрического тока, измеримого посредством аналого-цифрового (A/D) преобразователя (302), и
логический блок (308), в котором аналого-цифровой (A/D) преобразователь (302) выполнен с возможностью измерения созданного электрического тока, и логический блок (308) выполнен с возможностью вычисления электрического сопротивления матрицы (204) фотодетекторов на основе сигнала опорного напряжения интегратора и измеренного электрического тока.
10. Способ, содержащий этап, на котором:
задают значение термического коэффициента обрабатывающих электронных схем (208) детекторного элемента (116) системы (100) формирования изображения, приблизительно равное сумме термических коэффициентов матрицы (204) фотодетекторов и матрицы (202) сцинтилляторов детекторного элемента (116).
11. Способ по п.10, в котором обрабатывающие электронные схемы (208) включают в себя аналого-цифровой (A/D) преобразователь (302), преобразующий заряд, выводимый посредством матрицы (204) фотодетекторов, в цифровой сигнал, имеющий частоту, являющуюся показателем заряда.
12. Способ по любому из п.10 или 11, в котором значение термического коэффициента обрабатывающих электронных схем (208) является программируемым.
13. Способ, содержащий этапы, на которых:
активируют и дезактивируют импульсное излучение в течение, по меньшей мере, периода интеграции, в течение процедуры формирования изображения;
обнаруживают первый сигнал в течение, по меньшей мере, одного периода интеграции, в момент активированного испускания излучения;
обнаруживают второй сигнал в течение, по меньшей мере, одного периода интеграции, исключительно, в момент, когда излучение дезактивировано; и
корректируют первый сигнал на основе второго сигнала.
14. Способ, содержащий этапы, на которых:
подают сигнал на вход аналого-цифрового (A/D) преобразователя (302) детекторного элемента (116), причем этот сигнал подлежит измерению посредством аналого-цифрового (A/D) преобразователя (302);
преобразовывают сигнал в цифровые данные посредством аналого-цифрового (A/D) преобразователя (302); и
вычисляют электрическое сопротивление матрицы (204) фотодетекторов детекторного элемента (116) на основе поданного сигнала и цифровых данных.