СПОСОБ И УСТРОЙСТВО АТОМНО-ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА НАНООБЪЕКТОВ

1. Способ атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов по их свечению при испарении лазерным пучком, отличающийся тем, что нанообъекты помещают на поверхность прозрачной подложки, на поверхность с нанообъектами изнутри подложки направляют под регулируемым углом, большим угла полного внутреннего отражения, импульс лазерного излучения с энергией, достаточной для хотя бы частичного испарения нанообъектов, и излучение пара подвергают спектральному анализу известным методом.
2. Устройство для атомно-эмиссионного спектрального анализа нанообъектов по их свечению, содержащее подложку с анализируемыми нанообъектами на поверхности, излучатель, направляющий свое излучение на поверхность подложки под регулируемым углом, большим угла падения, монохроматор или полихроматор и устройство, фиксирующее элементы устройства друг относительно друга, отличающееся тем, что излучатель в световом пятне на подложке обеспечивает интенсивность излучения, достаточную для испарения нанообъектов, причем по обе стороны подложки или с одной ее стороны в потоке свечения нанообъектов установлен спектроанализатор, содержащий расположенные последовательно по ходу излучения нанообъектов оптический коллиматор их излучения, который входной апертурой обращен к нанообъектам, и полихроматор, в то время как подложка выполнена из материалов, прозрачных для излучения излучателя и которые могут быть прозрачными для собственного излучения нанообъектов.
3. Устройство по п. 2, отличающееся тем, что коллиматор в виде сферического или параболического отражателя расположен над поверхностью с нанообъектами вогнутостью к ним.
4. Устройство по п. 2, отличающееся тем, что коллиматором является световод, расположенный на поверхности с нанообъектами упомянутой подложки или над ней.