Система и связанный с ней способ обнаружения мелких дефектов на/в листе стекла на технологической линии

1. Устройство для измерения мелких оптических или препятствующих обзору дефектов в выбранной области листа стекла на технологической линии, при этом устройство для технологической линии установлено в системе изготовления листов стекла, содержащей одну или несколько станций обработки и один или несколько конвейеров для транспортировки листа стекла от станции к станции в ходе обработки, причем устройство для технологической линии содержит:
расположенный выше по потоку конвейер и расположенный ниже по потоку конвейер, каждый из которых транспортирует каждый лист стекла в условно горизонтальном положении, при этом расположенный выше по потоку конвейер и расположенный ниже по потоку конвейер расположены друг за другом, причем их смежные концы расположены на расстоянии друг от друга с образованием зазора выбранного размера, таким образом, что когда лист стекла транспортируют от расположенного выше по потоку конвейера к расположенному ниже по потоку конвейеру, часть листа стекла остается без опоры при транспортировке через зазор;
просветный экран, содержащий контрастные элементы, расположенные в виде предварительно заданного рисунка, при этом просветный экран проходит по всему размеру выбранной области в направлении, перпендикулярном направлению транспортировки;
однострочную камеру для получения набора данных изображения, содержащего множество изображений просветного экрана, причем каждое изображение связано с частью выбранной области листа стекла, когда лист стекла транспортируют по пути между камерой и просветным экраном, при этом просветный экран установлен так, что камера может получать множество изображений просветного экрана, когда часть листа стекла без опоры транспортируют между ними; и
вычислительное устройство, содержащее по меньшей мере один процессор, запрограммированный для реализации логики с целью получения набора данных изображения, разработки карты интенсивности из набора данных изображения, а также идентификации и определения местоположения мелких дефектов из карты интенсивности.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что дополнительно содержит идентификатор детали листа стекла, содержащий датчик для получения данных, связанных с формой листа стекла, движущегося на конвейере выше по потоку от устройства для технологической линии, при этом по меньшей мере один процессор содержит логику для анализа полученных данных и идентификации листа стекла как одной из набора известных форм деталей, и при этом выбранную область листа стекла определяют, частично исходя из идентифицированной формы детали.
3. Устройство по п. 2, отличающееся тем, что датчик представляет собой однострочную камеру, а полученные данные представляют собой набор данных изображения.
4. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что дополнительно содержит идентификатор детали листа стекла, содержащий датчик для получения данных, связанных с формой листа стекла, движущегося на конвейере выше по потоку от устройства для технологической линии, при этом по меньшей мере один процессор содержит логику для анализа полученных данных и идентификации формы листа стекла, и при этом выбранную область листа стекла определяют, частично исходя из идентифицированной формы.
5. Устройство по п. 4, отличающееся тем, что датчик представляет собой камеру, а полученные данные представляют собой набор данных изображения.
6. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что логика для разработки карты интенсивности из набора данных изображения включает логику для разработки Фурье-преобразования данных изображения, демодулирования Фурье-преобразования, разработки обратного Фурье-преобразования демодулированных данных, получения двумерного комплексного числа, связанного с каждым пикселем, причем указанное комплексное число имеет фазовую составляющую и составляющую величины, и разработки интенсивности для отображения обратного Фурье-преобразования посредством определения квадратного корня из суммы квадратов мнимой части двумерного комплексного числа и действительной части двумерного комплексного числа для каждой точки интереса в изображении.
7. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что мелкие оптические или препятствующие обзору дефекты идентифицируют, и их местоположение определяют для каждой точки интереса в изображении посредством анализирования карты интенсивности для определения местоположения краев мелких пузырьков.
8. Устройство для измерения мелких оптических и препятствующих обзору дефектов в выбранной области листа стекла на технологической линии в системе изготовления листов стекла, содержащей станцию нагрева для нагрева листа стекла до температуры, достаточной для размягчения стекла с целью придания ему требуемой формы, станцию гнутья, в которой размягченному листу придают требуемую форму, станцию охлаждения, в которой отформованный лист стекла охлаждают управляемым образом, и один или несколько конвейеров для транспортировки листа стекла от одной станции к другой в ходе обработки, причем устройство содержит:
расположенный выше по потоку конвейер и расположенный ниже по потоку конвейер, каждый из которых транспортирует каждый лист стекла в условно горизонтальном положении, при этом расположенный выше по потоку конвейер и расположенный ниже по потоку конвейер расположены друг за другом, причем их смежные концы расположены на расстоянии друг от друга с образованием зазора выбранного размера, таким образом, что когда лист стекла транспортируют от расположенного выше по потоку конвейера к расположенному ниже по потоку конвейеру, часть листа стекла остается без опоры при транспортировке через зазор;
просветный экран, содержащий контрастные элементы, расположенные в виде предварительно заданного рисунка, при этом просветный экран проходит по всему размеру выбранной области в направлении, перпендикулярном направлению транспортировки;
однострочную камеру для получения набора данных изображения, содержащего множество изображений просветного экрана, причем каждое изображение связано с частью выбранной области листа стекла, когда лист стекла транспортируют по пути между камерой и просветным экраном, при этом просветный экран установлен так, что камера может получать множество изображений просветного экрана, когда часть листа стекла без опоры транспортируют между ними; и
вычислительное устройство, содержащее по меньшей мере один процессор, запрограммированный для реализации логики с целью получения набора данных изображения, разработки карты интенсивности из набора данных изображения, а также идентификации и определения местоположения мелких дефектов из карты интенсивности.
9. Устройство по п. 8, отличающееся тем, что дополнительно содержит идентификатор детали листа стекла, содержащий датчик для получения данных, связанных с формой листа стекла, движущегося на конвейере выше по потоку от второго просветного экрана, и вычислительное устройство, содержащее по меньшей мере один процессор, запрограммированный для реализации логики с целью анализа полученных данных и идентификации листа стекла как одной из набора известных форм деталей.
10. Способ измерения мелких дефектов в выбранной области листа стекла в то время, как лист стекла транспортируют в системе изготовления листов стекла, содержащей одну или несколько станций обработки и один или несколько конвейеров для транспортировки листа стекла от станции к станции в ходе обработки, причем способ включает по меньшей мере следующие этапы:
предоставление расположенного выше по потоку конвейера и расположенного ниже по потоку конвейера, каждый из которых транспортирует каждый лист стекла в условно горизонтальном положении, при этом расположенный выше по потоку конвейер и расположенный ниже по потоку конвейер расположены друг за другом, причем их смежные концы расположены на расстоянии друг от друга с образованием зазора выбранного размера, таким образом, что когда лист стекла транспортируют от расположенного выше по потоку конвейера к расположенному ниже по потоку конвейеру, часть листа стекла остается без опоры при транспортировке через зазор;
предоставление просветного экрана, содержащего контрастные элементы, расположенные в виде предварительно заданного рисунка, при этом просветный экран проходит по всему размеру выбранной области в направлении, перпендикулярном направлению транспортировки листа стекла, и при этом просветный экран установлен так, что однострочная камера может получать множество изображений просветного экрана, когда часть листа стекла без опоры транспортируют между ними;
транспортировку листа стекла по пути между камерой и первым просветным экраном;
получение от камеры набора данных изображения, содержащего множество изображений просветного экрана, причем каждое изображение связано с частью выбранной области листа стекла, когда лист стекла транспортируют по пути между камерой и просветным экраном; и
реализацию логики на вычислительном устройстве, содержащем по меньшей мере один процессор, для получения набора данных изображения, разработки карты интенсивности из набора данных изображения, а также идентификации и определения местоположения мелких дефектов из карты интенсивности.