СПОСОБ ТЕСТИРОВАНИЯ ОПЕРАТИВНЫХ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ

Способ тестирования ОЗУ путем использования P-разрядного генератора псевдослучайных чисел на основе циклического регистра сдвига с линейной обратной связью и периодом повторения М, структуру которого предварительно определяют на основе системы неравенств
где L - разрядность тестируемого ОЗУ;
N - количество ячеек тестируемого ОЗУ, заключающийся в том, что проводят подряд не менее K циклов тестирования, в каждом из которых выполняют, последовательно чередуя, процедуру записи тестовых L-разрядных псевдослучайных чисел во все N ячейки ОЗУ, а затем процедуру чтения из каждой ячейки ОЗУ записанных в них данных и сравнения их с тестовыми псевдослучайными числами, причем для формирования тестовых псевдослучайных чисел сначала в генератор псевдослучайных чисел записывают новое начальное двоичное P-разрядное число, отличное от нуля, L-разрядов которого позже используют как первое тестовое число, затем последовательно осуществляют (N-1) циклических сдвигов в регистре сдвига с линейной обратной связью, и таким образом формируют все N L-разрядные тестовые числа, отличающийся тем, что структуру циклического регистра сдвига первоначально определяют на основе следующей системы неравенств
,
где int[X] - целая часть X,
а затем в процедуру генерации тестовых псевдослучайных чисел дополнительно вводят операцию селекции, где из подряд формируемых псевдослучайных чисел в качестве тестовых выбирают только те, которые отстоят друг от друга точно на L псевдослучайных чисел по следующей зависимости
,
j - номер ячейки ОЗУ,
j
H - номер псевдослучайного числа, записываемого в j-ю ячейку ОЗУ.