Тестирование цифровых устройств с использованием интерфейса JTAG

Секция автоматизации научных исследований и экспериментов

строгом подходе к формированию критерия погрешности следует учитывать не только метрику, но и характер доступной информации. В связи с этим предложено рассматривать три вида критериев: погрешность с точки зрения наблюдателя в проблемной области (Р-погрешность), с точки зрения наблюдателя в области реализации (Я-погрешность) и погрешность в проблемной области с точки зрения наблюдателя в области реализации (смешанная ЯР-погрешность).

Исследованы свойства и оценки погрешностей для различных видов . ,

Т-подобны для некоторой формальной теории Т. Обратное же, вообще говоря, неверно. В случае гомоморфизма Я-погрешность равна нулю, а Р- и ЯР-погрешности совпадают. Сформулирована общая методика анализа погрешности замены точной модели приближенной. Показано как могут быть найдены априорные оценки погрешностей, в частности предельные, средние, средние квадратичные и т.п.

УДК 621.081

С.В. Левонюк, О.А. Рабинович

ТЕСТИРОВАНИЕ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ

ИНТЕРФЕЙСА JTAG

До недавнего времени для тестирования цифровых устройств применялись такие методы, как самоконтроль, контроль с помощью ПЭВМ и контроль на основе использования процессоров тестирования. Данные методы характеризуются рядом недостатков, что ограничивает область их применения. Так, например, самоконтроль возможен только при наличии в составе тестируемого устройства микропроцессора. Контроль с помощью ПЭВМ или процессоров тестирования требует дополнительных аппаратных за.

процесса тестирования был разработан и принят международный стандарт IEEE1149.1 (JTAG). В соответствии с данным стандартом в состав цифровой интегральной микросхемы включается дополнительный сдвигающий регистр, который связан со всеми выводами данной микросхемы. С помощью этого регистра можно задавать тестовые воздействия на саму микросхему и на другие микросхемы, а также контролировать входные и выходные сигналы данной микросхемы. Для обмена информацией с регистром сдвига можно использовать стандартный параллельный порт ПЭВМ.

В докладе рассматривается методика тестирования цифровых устройств с использованием встроенных в микросхемы регистров сдвига. Тестирование упрощается, если все активные микросхемы устройства (микропроцессоры, ПЛИС) обладают интерфейсом JTAG. В данном случае может быть применен подход, аналогичный методу самоконтроля, когда с помощью микропроцессора тестируются все пассивные элементы устройства ( , ) . , , JTAG. ,

аналогичный тестированию микропроцессоров в пошаговом режиме. При этом в состав устройства вводится дополнительный триггер, который формирует сигнал «READY» для микропроцессора. В начале каждого машин-

ного цикла микропроцессор сбрасывает триггер, переводя себя в режим « ». -мощью регистра сдвига устанавливается в единицу и микропроцессор выходит из режима «Ожидание». Выполнение в пошаговом режиме тестовых программ дает возможность с помощью микропроцессора проверить пассивные элементы устройства и связи между ними. Пошаговый режим позволяет реализовать эффективную синхронизацию активных элементов

. -торами при тестировании специализированных цифровых устройств на основе ПЛИС EPF10K50. Для разработки тестовых программ использовался язык Jam Programming&Test Language. Для выполнения тестовых программ применялся интерпретатор Jam Player.