СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ ПО НАДЕЖНОСТИ

Способ разделени  полупроводниковых изделий по надежности, включающий измерение низкочастотного шума, отличающийс  тем, что партию полупроводниковых изделий раздел ют на надежные и менее надежные по величине коэффициента γ, а величину коэффициента γ определ ют по формуле
1
2
где  и  - квадрат эффективного значени  шума соответственно на частотах f и f при одинаковом значении ширины полосы измерени  шума.