СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ДИСПЕРСНЫХ ПИЩЕВЫХ ПРОДУКТОВ

Способ определения теплофизических характеристик дисперсных пищевых продуктов, включающий подготовку дисперсных пищевых продуктов, формирование образца насыпного слоя путем засыпки дисперсного пищевого продукта в емкость, измерение температуры окружающей среды, измерение температуры продукта на верхней и нижней поверхностях насыпного слоя, определение температурного поля внутри образца насыпного слоя перед облучением, поддержание температуры среды вокруг образца на постоянном уровне, облучение верхней поверхности насыпного слоя коротким импульсом радиационной энергии в инфракрасном (ИК) диапазоне, измерение плотности лучистого потока радиационной энергии на облучаемой поверхности, определение температурного поля внутри образца насыпного слоя после облучения, измерение времени, за которое температура на нижней поверхности образца насыпного слоя достигает максимального значения, и расчет коэффициентов температуропроводности, теплопроводности и удельной теплоемкости по следующим формулам:
2
где α - коэффициент температуропроводности продукта, м/с;
L - толщина насыпного слоя образца продукта, м;
0,5
τ - время, за которое температура на нижней поверхности насыпного слоя достигнет половины своего максимального значения после облучения, с,
,
max
2
где q - величина лучистого потока в фокальном пятне на облучаемой верхней поверхности образца пищевого продукта, Вт/м;
L - толщина насыпного слоя образца продукта, м;
mах
Т - максимальная температура на нижней поверхности насыпного слоя после облучения, К;
3
ρ - плотность продукта, кг/м;
3
c·ρ - коэффициент объемной теплоемкости, Дж/(м·К);
с - коэффициент удельной теплоемкости, Дж/(кг·К);
,
где λ - коэффициент теплопроводности, Вт/(м·К);
L - толщина насыпного слоя образца продукта, м;
0,5
τ - время, за которое температура на нижней поверхности насыпного слоя достигнет половины своего максимального значения после облучения, с;
max
2
q - величина лучистого потока в фокальном пятне на облучаемой верхней поверхности образца пищевого продукта, Вт/м;
max
T - максимальная температура на нижней поверхности насыпного слоя после облучения, К.