СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОВОГО ИМПЕДАНСА СВЕРХБОЛЬШИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ - МИКРОПРОЦЕССОРОВ И МИКРОКОНТРОЛЛЕРОВ

T
Способ определения теплового импеданса сверхбольших интегральных схем (СБИС) - микропроцессоров и микроконтроллеров, состоящий в том, что в контролируемую СБИС, установленную на теплоотводе и подключенную к источнику питания, загружают «разогревающий» тест и программу управления, затем контролируемую СБИС включают в режим периодического нагрева путем переключения из режима выполнения «разогревающего» теста в режим паузы с частотой Ω и скважностью 2, на частоте переключения Ω измеряют амплитуду
первой гармоники потребляемого контролируемой СБИС тока, амплитуду
первой гармоники температурочувствительного параметра с известным отрицательным температурным коэффициентом K, например, напряжения на встроенном в ядро контролируемой СБИС p-n переходе или напряжения логической единицы на одном из нагруженных резистивной нагрузкой выводов контролируемой СБИС, логическое состояние которого не изменяется при переключении контролируемой СБИС из одного режима в другой, и разность фаз φ(Ω) между первой гармоникой тока, потребляемого контролируемой СБИС, и первой гармоникой температурочувствительного параметра; модуль теплового импеданса контролируемой СБИС на частоте Ω определяют по формуле:
,
пит
T
где U - напряжение питания контролируемой БИС, а фазу φ(Ω) теплового импеданса контролируемой СБИС определяют как уменьшенную на 180° разность фаз между и первой гармоникой температурочувствительного параметра и первой гармоникой тока, потребляемого контролируемой СБИС.