ДАТЧИК И СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ

1. Датчик, пригодный для измерения одного или более свойств одной или более структур, причем датчик содержит:
первый путь распространения оптического излучения, который является конфигурируемым, чтобы взаимодействовать со структурой, свойства которой должны быть измерены;
второй путь распространения оптического излучения, который является конфигурируемым, чтобы взаимодействовать со структурой, свойства которой должны быть измерены; и
третий путь распространения оптического излучения;
средство для усиления сигнала, который распространяется по третьему пути распространения оптического излучения таким образом, что сигнал усиливается перед тем, как он начинает распространение по второму пути распространения оптического излучения;
средство для предотвращения распространения сигналов из второго пути распространения оптического излучения в третий путь распространения оптического излучения.
2. Датчик по п. 1, дополнительно содержащий средство для предотвращения распространения сигналов из первого пути распространения оптического излучения во второй путь распространения оптического излучения.
3. Датчик по п. 2, в котором средство дополнительно выполнено с возможностью позволять распространяться сигналам из второго пути распространения оптического излучения в первый путь распространения оптического излучения и из третьего пути распространения оптического излучения во второй путь распространения оптического излучения.
4. Датчик по п. 1, в котором средство для предотвращения распространения сигналов из второго пути распространения оптического излучения в третий путь распространения оптического излучения содержит контур циркулятора.
5. Датчик по п. 1, в котором третий путь распространения оптического излучения является конфигурируемым для размещения удаленно по отношению к одной или более структурам, таким образом, что на сигнал, распространяющийся по третьему пути распространения оптического излучения, не влияют свойства одной или более структур.
6. Датчик по п. 1, дополнительно содержащий средство для обеспечения первого сигнала накачки в первый путь распространения оптического излучения, средство для обеспечения второго сигнала накачки в третий путь распространения оптического излучения и средство для обеспечения измерительного сигнала второму пути распространения оптического излучения таким образом, что могут выполняться одна или более технологий распределенного измерения для определения свойств одной или более структур.
7. Датчик по п. 6, при этом первый сигнал накачки сконфигурирован, чтобы иметь более высокую мощность, чем второй сигнал накачки.
8. Датчик по п. 6, при этом средство для обеспечения первого сигнала накачки в первый путь распространения оптического излучения и средство для обеспечения второго сигнала накачки в третий путь распространения оптического излучения могут содержать соединительное средство, которое выполнено с возможностью деления основного сигнала накачки для обеспечения первого сигнала накачки и второго сигнала накачки.
9. Датчик по п. 1, в котором третий путь распространения оптического излучения конфигурирован так, что время распространения сигнала по длине третьего пути распространения оптического излучения по меньшей мере равно времени распространения сигнала по длине первого пути распространения оптического излучения.
10. Способ измерения свойств одной или более структур с использованием датчика по п. 1, содержащий этапы, на которых:
размещают первый путь распространения оптического излучения во взаимодействии со структурой, свойства которой должны быть измерены;
размещают второй путь распространения оптического излучения во взаимодействии со структурой, свойства которой должны быть измерены; и
распространяют первый сигнал накачки по первому пути распространения оптического излучения и распространяют второй сигнал накачки по третьему пути распространения оптического излучения;
усиливают второй сигнал накачки только таким образом, что второй сигнал накачки усиливается прежде, чем второй сигнал накачки начнет распространяться по второму пути распространения;
обеспечивают измерительный сигнал, который распространяется по первому и второму путям распространения оптического излучения, чтобы стимулировать бриллюэновское рассеяние как в первом сигнале накачки, который распространяется по первому пути распространения оптического излучения, так и во втором сигнале накачки, который распространяется по второму пути распространения оптического излучения;
предотвращают распространение измерительного сигнала по третьему пути распространения оптического излучения;
используют обратнорассеянный сигнал, полученный бриллюэновским рассеянием, для определения свойств одной или более структур.
11. Способ по п. 10, дополнительно содержащий этап, на котором блокируют распространение сигналов из первого пути распространения оптического излучения во второй путь распространения оптического излучения.
12. Способ по п. 10, дополнительно содержащий этап, на котором задерживают распространение второго сигнала накачки по третьему пути распространения оптического излучения.
13. Способ по п. 10, дополнительно содержащий этап, на котором делят основной сигнал накачки для обеспечения первого и второго сигналов накачки.
14. Способ по п. 10, дополнительно содержащий этап, на котором удаленно управляют усилением второго сигнала накачки.
15. Способ по п. 10, дополнительно содержащий этап, на котором обеспечивают управляющий сигнал, который управляет усилением, обеспечиваемым усилителем, выполненным с возможностью усиления сигнала накачки.