ИДЕНТИФИКАЦИЯ И/ИЛИ АУТЕНТИФИКАЦИЯ ОБЪЕКТОВ НА ОСНОВАНИИ СВОЙСТВ ИХ ПОВЕРХНОСТИ

1. Способ для создания сигнатуры объекта, содержащий по меньшей мере следующие стадии:
А1: сканирование первого участка поверхности объекта и регистрацию сигнала сканирования, представляющего собой по меньшей мере часть структуры поверхности в пределах этого первого участка,
А2: генерацию сигнатуры из определенного на этапе А1 сигнала сканирования,
A3: привязку сигнатуры к объекту,
А4: сохранение сигнатуры в форме, в которой ее можно позднее использовать в целях сравнения.
2. Способ идентификации и/или аутентификации объекта, содержащий по меньшей мере следующие стадии:
В1: сканирование второго участка поверхности объекта и регистрацию сигнала сканирования, представляющего собой по меньшей мере часть структуры поверхности в пределах этого второго участка,
В2: генерацию сигнатуры из определенного на этапе В1 сигнала сканирования,
В3: сравнение сигнатуры, определенной на этапе В2 по меньшей мере с одной эталонной сигнатурой,
В4: генерацию сообщения об идентичности и/или аутентичности объекта в зависимости от результата сравнения на этапе В3.
3. Способ по п.2, отличающийся тем, что второй участок меньше первого участка из пункта 1 и располагается в пределах этого первого участка.
4. Способ по п.2, отличающийся тем, что второй участок больше первого участка из пункта 1 и полностью включает в себя этот первый участок.
5. Способ по п.2, отличающийся тем, что второй участок идентичен или по меньшей мере в значительной мере идентичен первому участку из пункта 1.
6. Способ по одному из пп.1-5, отличающийся тем, что сканирование осуществляют оптическим методом с помощью некогерентного излучения.
7. Способ по одному из пп.1-5, отличающийся тем, что для сканирования объект и устройство для сканирования объекта перемещают на постоянном расстоянии друг от друга, а сканирование проводят вдоль одной единственной линии.
8. Способ по п.7, отличающийся тем, что сканирование осуществляют с использованием луча, имеющего профиль в форме линии, большая протяженность которого располагается перпендикулярно направлению движения.
9. Способ по п.8, отличающийся тем, что ширина профиля луча, имеющего форму линии, превышает толщину этого луча более чем в 50 раз.
10. Способ по п.7, отличающийся тем, что толщина профиля луча, имеющего форму линии, находится в пределах средней ширины канавок имеющейся поверхности.
11. Датчик для сканирования поверхности, содержащий по меньшей мере:
- блок с наружной поверхностью, первым проемом, направленным к наружной поверхности под углом γ относительно перпендикуляра к наружной поверхности, и вторым проемом, который направлен к наружной поверхности под углом δ относительно перпендикуляра к наружной поверхности, причем абсолютные величины углов γ и δ одинаковы,
- источник излучения, размещенный в первом проеме и способный испускать сканирующий луч в направлении наружной поверхности,
- оптические элементы для формирования профиля луча в виде линии,
- фотодетектор, размещенный во втором проеме и направленный к наружной поверхности.
12. Датчик по п.11, отличающийся тем, что ширина луча находится в пределах от 3 мм до 6,5 мм, предпочтительно в пределах от 4 мм до 6 мм, особо предпочтительно в пределах от 4,5 мм до 5,5 мм, а толщина луча находится в пределах от 10 мкм до 30 мкм, предпочтительно в пределах от 15 мкм до 30 мкм, особо предпочтительно в пределах от 20 мкм до 27 мкм.
13. Датчик по одному из пп.11 или 12, отличающийся тем, что абсолютные значения углов γ и δ находятся в пределах от 5° до 90°, предпочтительно в пределах от 20° до 80°, особо предпочтительно в пределах от 30° до 70°, крайне предпочтительно в пределах от 40° до 60°.
1
2
1
2
14. Датчик по одному из пп.11 или 12, дополнительно включающий в себя еще два проема для размещения фотодетекторов, которые размещены относительно второго проема под углом ε либо же ε, причем величина угла ε и ε составляет 1°-20°, предпочтительно 5°-15°.