СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА СВЕТОДИОДНОЙ СТРУКТУРЫ

a
Способ контроля качества светодиодной структуры, заключающийся в регистрации излучения светодиодной структуры, обработке излучения для получения характеристик светодиодной структуры, на основе которых судят о качестве светодиодной структуры, отличающийся тем, что для каждой светодиодной структуры из партии изделий регистрируют спектр электролюминесценции светодиодной структуры, проводят построение зарегистрированного спектра в полулогарифмическом масштабе, разделяют коротковолновую область полученного спектра на участки, которые аппроксимируют зависимостью у=·ехр(-bx), где
у - интенсивность излучения,
х - энергия фотонов,
b - коэффициент, численно равный 1/kT,
g
а - весовой коэффициент, учитывающий зависимость E(T),
Т - температура светодиодной структуры,
g
E - ширина запрещенной зоны активной области СД,
и выбирают аппроксимированные участки с максимальным и минимальным наклоном, далее, определяют максимальную и минимальную температуры светодиодной структуры на выбранных участках, определяют значение разницы этих температур, вычисляют среднее значение разницы температур, проводят сравнение значения разницы температур для каждой светодиодной структуры со средним, если значение разницы температур больше среднего, делают вывод о низком качестве структуры.