ДЕТЕКТОР С ЧАСТИЧНО ПРОЗРАЧНОЙ ПОДЛОЖКОЙ СЦИНТИЛЛЯТОРА

1. Детектор для обследования представляющего интерес объекта аппаратом для обследования, причем детектор содержит:
подложку и отражающий слой;
причем отражающий слой выполнен с возможностью отражения части света, произведенного в сцинтилляторе, на матрицу детекторов; и
причем отражающий слой содержит множество отверстий, выполненных прозрачными для длины волны регенерирующего света, так, что отражающий слой является частично прозрачным для длины волны регенерирующего света.
2. Детектор по п.1, в котором
отражающий слой содержит материал, который является непрозрачным для длины волны регенерирующего света и для длины волны света, произведенного в сцинтилляторе.
3. Детектор по п.1, в котором
подложка представляет собой подложку сцинтиллятора, и отражающий слой расположен на подложке сцинтиллятора.
4. Детектор по п.1, в котором
матрица детекторов содержит множество пикселей; и
размер каждого отверстия в отражающем слое составляет менее чем 10% от размера пикселя матрицы детекторов.
5. Детектор по п.1, в котором
отражающий слой имеет поверхность;
часть поверхности отражающего слоя прозрачна для длины волны регенерирующего света; и
часть поверхности отражающего слоя, которая является прозрачной для длины волны регенерирующего света, составляет менее чем 30% от поверхности отражающего слоя.
6. Детектор по п.1, в котором
множество отверстий в отражающем слое производится на основе процесса лазерной абляции или процесса взрывной литографии.
7. Детектор по п.1, в котором
отражающий слой и подложка выполнены с возможностью рассеяния или поглощения только малой части первичного излучения.
8. Детектор по п.1, в котором
подложка сцинтиллятора представляет собой стеклянную подложку;
детектор содержит жесткое уплотнение между подложкой сцинтиллятора и матрицей детекторов; и
жесткое уплотнение выполнено с возможностью герметичной изоляции фронтальной оконечности детектора от окружающей среды.
9. Детектор по п.1, в котором
детектор является плоским детектором, выполненным с возможностью детектирования рентгеновского излучения.
10. Аппарат для обследования представляющего интерес объекта, причем аппарат для обследования содержит:
детектор, имеющий подложку и отражающий слой;
причем отражающий слой выполнен с возможностью отражения части света, произведенного в сцинтилляторе, на матрицу детекторов; и
причем отражающий слой содержит множество отверстий, выполненных прозрачными для длины волны регенерирующего света, так, что отражающий слой является частично прозрачным для длины волны регенерирующего света.
11. Аппарат для обследования по п.10, выполненный или как аппарат двумерной рентгеновской визуализации, или как аппарат компьютерной томографии, или как аппарат компьютерной томографии с когерентным рассеянием, или как рентгеновский аппарат для обследования для кардиологической визуализации, визуализации сосудов или универсальной рентгенографии и флюороскопической визуализации.
12. Способ для изготовления комбинации частично прозрачной подложки сцинтиллятора и отражающего слоя для детектора для обследования представляющего интерес объекта при помощи аппарата для обследования, причем способ содержит этапы:
предоставления подложки сцинтиллятора;
нанесения отражающего слоя на подложку сцинтиллятора и
выполнения множества отверстий в отражающем слое, причем отверстия являются прозрачными для длины волны регенерирующего света, так, что комбинация подложки сцинтиллятора и отражающего слоя оказывается частично прозрачной для длины волны регенерирующего света;
причем отражающий слой выполнен с возможностью отражения части света, произведенного в сцинтилляторе, на матрицу детекторов.
13. Способ по п.12, дополнительно содержащий этап
изменения поверхностной структуры подложки сцинтиллятора на стороне, где будет выращен сцинтиллятор, что приводит к поверхностной шероховатости для предотвращения отслоения подложки сцинтиллятора во время использования детектора.
14. Способ для изготовления комбинации частично прозрачной подложки и отражающего слоя детектора для обследования представляющего интерес объекта при помощи аппарата для обследования, причем способ содержит этапы:
предоставления подложки матрицы детекторов;
нанесения матрицы детекторов на подложку матрицы детекторов;
нанесения сцинтиллятора на матрицу детекторов и
предоставления отражающего слоя на сцинтилляторе.
15. Способ по п.14, в котором отражающий слой выполнен как зеркало или как белое покрытие с маленькими отверстиями.