СПОСОБ АНАЛИЗА ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ (ИОНОВ) В ГИПЕРБОЛОИДНЫХ МАСС-СПЕКТРОМЕТРАХ

0
Способ анализа заряженных частиц (ионов) по удельным зарядам в гиперболоидных масс-спектрометрах, по которому анализируемые заряженные частицы вводят в анализатор масс-спектрометра, удерживают в его рабочем объеме ионы с избранным значением удельного заряда путем воздействия на них импульсным высокочастотным с постоянной составляющей электрическим полем, заставляя такие ионы совершать движение по "базовым траекториям", а ионы с отличным от избранного значения удельного заряда выводят из рабочего объема на полезадающие электроды анализатора, после чего оставшиеся в объеме анализатора ионы с избранным значением удельного заряда направляют в измерительное устройство, отличающийся тем, что рабочую точку ионов с избранным удельным зарядом на общей диаграмме стабильности путем подбора параметров электрического поля размещают на прямой, перпендикулярной оси общей диаграммы стабильности, проходящей через точку пересечения этой оси с границей зоны стабильности, соответствующей значению параметра стабильности β=-1, при этом по другой координатной оси рабочую точку располагают в одной из стабильных областей общей диаграммы стабильности.