СПОСОБ И СИСТЕМА ДЛЯ МАГНИТОИНДУКЦИОННОЙ ТОМОГРАФИИ

1. Система (300) для реконструкции изображений исследуемого объекта (301), содержащая:
по меньшей мере, одну передающую катушку (312, 314), сконфигурированную с возможностью генерирования первичного магнитного поля, прикладываемого к исследуемому объекту; и
по меньшей мере, одну компоновку (315, 317) измерительных катушек, сконфигурированную с возможностью измерения электрических сигналов, индуцируемых вторичным магнитным полем, которое сгенерировано исследуемым объектом в ответ на первичное магнитное поле;
при этом, по меньшей мере одна компоновка (315, 317) измерительных катушек содержит множество измерительных катушек (201, 202, 203, 204), которые расположены, по существу, в одной и той же плоскости.
2. Система по п.1, дополнительно содержащая процессор (320) для реконструкции изображений исследуемого объекта на основании измеряемых электрических сигналов, индуцируемых вторичным магнитным полем, при этом процессор имеет блок (322) управления, сконфигурированный с возможностью управления каждой из множества измерительных катушек, чтобы измерять первый и второй электрические сигналы на катушке.
3. Система по п.2, в которой первый и второй электрические сигналы представляют собой индуцируемые напряжения, а процессор дополнительно содержит первый блок (324) выбора, сконфигурированный с возможностью выбора измерительной катушки из множества измерительных катушек, при этом выбранная измерительная катушка имеет наибольшее абсолютное значение отношения разностного напряжения между первым и вторым напряжениями к первому напряжению на катушке.
4. Система по п.2, в которой первый и второй электрические сигналы представляют собой индуцируемые напряжения, а процессор дополнительно содержит второй блок (325) выбора, сконфигурированный с возможностью выбора измерительной катушки из множества измерительных катушек, при этом выбранная измерительная катушка имеет наибольшее абсолютное значение разностного напряжения между первым и вторым напряжениями на катушке.
5. Система по п. 3 или 4, в которой процессор дополнительно содержит первый вычислитель (326), сконфигурированный с возможностью вычисления изменения распределения электропроводности исследуемого объекта на основании разностного напряжения, соответствующего выбранной измерительной катушке.
6. Система по п.2, в которой процессор дополнительно содержит второй вычислитель (328), сконфигурированный с возможностью вычисления изменения распределения электропроводности исследуемого объекта на основании множества взвешенных разностных напряжений, полученных из множества первых и вторых напряжений.
7. Система по п.1, в которой каждая из множества измерительных катушек является веерообразной, а множество измерительных катушек образует круговую плоскость.
8. Система по п.1, в которой каждая из множества измерительных катушек является квадратной, а множество измерительных катушек образует плоскость в виде квадрата.
9. Система по п. 7 или 8, в которой каждая из множества измерительных катушек охватывает по существу одну и ту же область.
10. Сканирующее устройство магнитоиндукционной томографии, содержащее систему по любому из пп. 1-9.
11. Способ реконструкции изображений исследуемого объекта, содержащий этапы, на которых:
(а) генерируют (410) первичное магнитное поле, прикладываемое к исследуемому объекту, с помощью, по меньшей мере, одной передающей катушки; и
(b) измеряют (420) электрические сигналы, индуцируемые вторичным магнитным полем, с помощью, по меньшей мере, одной компоновки измерительных катушек, содержащей множество измерительных катушек, которые расположены в, по существу, одной и той же плоскости, при этом вторичное магнитное поле сгенерировано исследуемым объектом в ответ на первичное магнитное поле.
12. Способ по п.11, в котором этап (b) содержит этап (430), на котором управляют каждой из множества измерительных катушек, чтобы измерять первый и второй электрический сигналы до и после изменения распределения электропроводности исследуемого объекта.
13. Способ по п.12, в котором первый и второй электрические сигналы представляют собой индуцируемые напряжения, при этом способ дополнительно содержит этап (440), на котором выбирают измерительную катушку из множества измерительных катушек, при этом выбранная измерительная катушка имеет наибольшее абсолютное значение отношения разностного напряжения между первым и вторым напряжениями к первому напряжению.
14. Способ по п.12, в котором первый и второй электрические сигналы представляют собой индуцируемые напряжения, при этом способ дополнительно содержит этап (440'), на котором выбирают измерительную катушку из множества измерительных катушек, при этом выбранная измерительная катушка имеет наибольшее абсолютное значение разностного напряжения между первым и вторым напряжениями.
15. Способ по п. 13 или 14, дополнительно содержащий этап (450), на котором вычисляют изменение распределения электропроводности исследуемого объекта на основании разностного напряжения, соответствующего выбранной измерительной катушке.
16. Способ по п.12, дополнительно содержащий этап (450'), на котором вычисляют изменение распределения электропроводности исследуемого объекта на основании множества взвешенных разностных напряжений, получаемых из множества первых и вторых напряжений.