СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ МНОГОЛУЧЕВОГО ПОИСКА

1. Способ многолучевого поиска, в котором:
в процессе многолучевого поиска выполняют процесс интерполяции с нулевыми значениями для множества дискретизированных пиковых профилей задержка-амплитуда (ADP) и процесс фильтрации для множества интерполированных пиковых профилей ADP;
определяют, присутствует ли интенсивный луч в множестве интерполированных и отфильтрованных пиковых профилей ADP, и если да, то выбирают интерполируемую точку из каждого из раннего, среднего и позднего лучей каждого пикового профиля ADP из множества интерполированных и отфильтрованных пиковых профилей ADP, выполняют процесс устранения помех интенсивного соседнего луча для трех выбранных интерполируемых точек,
на основе принципа раннего-среднего-позднего луча выполняют интерполяцию позиции пика для трех интерполируемых точек после выполнения процесса устранения помех интенсивного соседнего луча для корректировки позиции пика каждого пикового профиля ADP и сохраняют скорректированную позицию пика.
2. Способ по п.1, в котором перед шагом выполнения процесса интерполяции с нулевыми значениями для множества дискретизированных профилей ADP
вычисляют корреляцию с различными временными задержками для принимаемого сигнала основной полосы частот с локальным кодом скремблирования и частотой пилот-сигнала для получения профиля ADP;
выполняют фильтрацию профиля ADP с использованием фильтра с бесконечной импульсной характеристикой (IIR) и вычисляют шумовой порог профиля ADP по упомянутым отфильтрованным данным; а также
выполняют выделение пика в соответствии с вычисленным шумовым порогом профиля ADP для получения множества пиковых профилей ADP.
3. Способ по п.1, в котором шаг выполнения процесса фильтрации множества интерполированных пиковых профилей ADP включает:
выполнение процесса фильтрации ненулевых значащих данных в множестве интерполированных пиковых профилей ADP с помощью поиска по хеш-таблице, при этом хеш-таблица хранит ненулевые значащие данные после процесса интерполяции, или
выполнение процесса фильтрации для всех данных в множестве интерполированных пиковых профилей ADP с помощью поиска по упорядоченной таблице.
4. Способ по п.1, в котором шаг выбора интерполируемой точки из каждого из раннего, среднего и позднего лучей каждого пикового профиля ADP включает
выбор позиции пика каждого пикового профиля ADP в качестве интерполируемой точки среднего луча, выбор позиции пика минус симметричная с обеих сторон позиции пика позиция в качестве интерполируемой точки раннего луча и выбор позиции пика плюс симметричная с обеих сторон позиции пика позиция в качестве интерполируемой точки позднего луча.
5. Способ по п.4, в котором шаг выполнения процесса устранения помех интенсивного соседнего луча для трех выбранных интерполируемых точек включает:
взятие пикового профиля ADP, в котором расположены три интерполируемые точки, в качестве корректируемого пикового профиля ADP, выполнение аппроксимации кривой для пикового профиля ADP раннего-позднего соседнего луча за исключением корректируемого пикового профиля ADP в трех интерполируемых точках для получения данных аппроксимации кривой пикового профиля ADP раннего-позднего соседнего луча и
вычитание из данных, соответствующих трем интерполируемым точкам огибающей, сформированной из множества интерполированных и отфильтрованных пиковых профилей ADP, соответственно данных аппроксимации кривой для пикового профиля ADP раннего-позднего соседнего луча для получения трех интерполируемых точек без помех интенсивного соседнего луча.
6. Способ по п.1, включающий, после шага сохранения скорректированной позиции пика,
определение, достигло ли число раз выполнения процесса устранения помех интенсивного соседнего луча заранее заданного порогового числа, если да, то завершение выполнения; если нет, то выбор скорректированной позиции пика каждого пикового профиля ADP в качестве интерполируемой точки среднего луча, выбор позиции положения пика минус симметричная с обеих сторон позиции пика позиция в качестве интерполируемой точки раннего луча, выбор позиции положения пика плюс симметричная с обеих сторон позиции пика позиция в качестве интерполируемой точки позднего луча, выполнение процесса устранения помех интенсивного соседнего луча для трех выбранных интерполируемых точек и возвращение к шагу выполнения интерполяции позиции пика для трех интерполируемых точек.
7. Способ по п.1, включающий, после шага выполнения процесса фильтрации для множества интерполированных пиковых профилей ADP,
когда нет интенсивного луча в множестве интерполированных и отфильтрованных пиковых профилей ADP, выполнение интерполяции позиции пика для всех пиковых профилей ADP из множества пиковых профилей ADP непосредственно на основе принципа раннего-среднего-позднего луча для корректировки позиции пика каждого пикового профиля ADP и сохранение скорректированной позиции пика.
8. Способ по п.4 или 6, в котором симметричная с обеих сторон позиции пика позиция составляет 1/2 чипа.
9. Устройство для многолучевого поиска, содержащее:
блок интерполяции и фильтрации, сконфигурированный для выполнения, в процессе многолучевого поиска, процесса интерполяции с нулевыми значениями для множества дискретизированных пиковых профилей задержка-амплитуда (ADP) и для выполнения процесса фильтрации множества интерполированных пиковых профилей ADP;
блок определения интенсивного луча, сконфигурированный для определения, присутствует ли интенсивный луч в множестве интерполированных и отфильтрованных пиковых профилей ADP, и если да, то для запуска блока устранения помех интенсивного соседнего луча;
блок устранения помех интенсивного соседнего луча, сконфигурированный так, чтобы, если блок определения интенсивного луча определяет, что интенсивный луч присутствует в множестве интерполированных и отфильтрованных пиковых профилей ADP, выбирать интерполируемую точку из каждого из раннего, среднего и позднего лучей каждого пикового профиля ADP из множества интерполированных и отфильтрованных пиковых профилей ADP и выполнять процесс устранения помех интенсивного соседнего луча для трех выбранных интерполируемых точек, и
первый блок корректировки позиции пика, сконфигурированный для выполнения, на основе принципа раннего-среднего-позднего луча, интерполяции позиции пика для трех интерполируемых точек, после выполнения процесса устранения помех интенсивного соседнего луча, для корректировки позиции пика каждого пикового профиля ADP, а также сконфигурированный для сохранения скорректированной позиции пика.
10. Устройство по п.9, также содержащее блок определения порога, при этом
первый блок корректировки позиции пика также сконфигурирован для запуска блока определения порога после сохранения скорректированной позиции пика,
а блок определения порога сконфигурирован для определения, достигло ли число раз выполнения процесса устранения помех интенсивного соседнего луча заранее заданного порогового числа, и если да, то для окончания выполнения; а если нет, то для выбора скорректированной позиции пика каждого пикового профиля ADP в качестве интерполируемой точки среднего луча, для выбора позиции положения пика минус симметричная с обеих сторон позиции пика позиция в качестве интерполируемой точки раннего луча, для выбора позиции положения пика плюс симметричная с обеих сторон позиции пика позиция в качестве интерполируемой точки позднего луча, для выполнения процесса устранения помех интенсивного соседнего луча для трех выбранных интерполируемых точек и для запуска первого блока корректировки позиции пика.
11. Устройство по п.9, также содержащее второй блок корректировки позиции пика, при этом
блок определения интенсивного луча также сконфигурирован так, чтобы, если определено, что нет интенсивного луча в множестве интерполированных и отфильтрованных пиковых профилей ADP, запускать второй блок корректировки позиции пика; и
второй блок корректировки позиции пика сконфигурирован так, чтобы, если блок определения интенсивного луча определяет, что нет интенсивного луча в множестве интерполированных и отфильтрованных пиковых профилей ADP, выполнять интерполяцию позиции пика для всех пиковых профилей ADP из множества пиковых профилей ADP непосредственно на основе принципа раннего-среднего-позднего луча, корректировать позицию пика каждого пикового профиля ADP и сохранять скорректированную позицию пика.
12. Устройство по п.9, также содержащее:
модуль получения множества пиковых профилей ADP, сконфигурированный для вычисления корреляции с различными задержками для принимаемого сигнала основной полосы частот с локальным кодом скремблирования и частотой пилот-сигнала для получения профиля ADP; для выполнения фильтрации профиля ADP фильтром с бесконечной импульсной характеристикой (IIR) и для вычисления шумового порога профиля ADP по упомянутым отфильтрованным данным; а также для выделения пика согласно вычисленному шумовому порогу профиля ADP для получения множества пиковых профилей ADP.
13. Устройство по п.9, в котором блок интерполяции и фильтрации сконфигурирован для выполнения процесса фильтрации множества интерполированных пиковых профилей ADP
путем выполнения процесса фильтрации ненулевых значащих данных в множестве интерполированных пиковых профилей ADP с помощью поиска по хеш-таблице, при этом хеш-таблица хранит ненулевые значащие данные после процесса интерполяции, или
путем выполнения процесса фильтрации всех данных в множестве интерполированных пиковых профилей ADP посредством поиска по упорядоченной таблице.
14. Устройство по п.9, в котором блок устранения помех интенсивного соседнего луча сконфигурирован для выбора интерполируемой точки из каждого из раннего, среднего и позднего лучей каждого пикового профиля ADP путем
выделения позиции пика каждого пикового профиля ADP в качестве интерполируемой точки среднего луча, выбора позиции пика минус симметричная с обеих сторон позиции пика позиция в качестве интерполируемой точки раннего луча и выбора позиции пика плюс симметричная с обеих сторон позиции пика позиция в качестве интерполируемой точки позднего луча.
15. Устройство по п.14, в котором блок устранения помех интенсивного соседнего луча сконфигурирован для выполнения процесса устранения помех интенсивного соседнего луча для трех выбранных интерполируемых точек путем
принятия пикового профиля ADP, в котором расположены три интерполируемые точки, в качестве корректируемого пикового профиля ADP и выполнения аппроксимации кривой для пикового профиля ADP раннего-позднего соседнего луча за исключением корректируемого пикового профиля ADP в трех интерполируемых точках для получения данных аппроксимации кривой для пикового профиля ADP раннего-позднего соседнего луча и
путем вычитания из данных, соответствующих трем интерполируемым точкам огибающей, сформированной из множества интерполированных и отфильтрованных пиковых профилей ADP, соответственно данных аппроксимации кривой для пикового профиля ADP раннего-позднего соседнего луча для получения трех интерполируемых точек без помех от интенсивного соседнего луча.