ИГЛЫ ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ ИЗ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО ВОЛЬФРАМА И СПОСОБ ИХ ПОЛУЧЕНИЯ

1. Иглы для сканирующей туннельной микроскопии изготавливают из высокочистых монокристаллов вольфрама с осевой ориентацией [001], [011] или [111].
2. Способ получения игл для сканирующей туннельной микроскопии, состоящий в электрохимическом травлении заготовки в растворе электролита, отличающийся тем, что электрохимическое травление монокристаллической заготовки с поперечным сечением 0,5×0,5 мм проводят в области мениска, высота которого уменьшается по мере образования шейки между верхней и нижней частями заготовки, при этом нижняя часть заготовки погружена в электролит на 3 мм, ведут травление до отрыва нижней части заготовки под действием собственной массы, затем проводят заострение в сверхвысоком вакууме, последовательно используя коаксиальную электронную и ионную бомбардировку ионами аргона, причем острие иглы направлено навстречу бомбардировке.