ПРОВЕРКА СИГНАТУРЫ ИЗДЕЛИЯ, СОЗДАННОЙ НА ОСНОВАНИИ СИГНАЛОВ, ПОЛУЧЕННЫХ БЛАГОДАРЯ РАССЕЯНИЮ КОГЕРЕНТНОГО ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ОТ ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЯ

1. Способ для проверки изделия, способ содержит этапы, на которых
сканируют изделие для создания первой сигнатуры изделия, причем для создания сигнатуры
последовательно освещают совокупность участков изделия когерентным оптическим излучением,
собирают набор, содержащий группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и
определяют сигнатуру изделия из набора элементов данных,
сохраняют первую сигнатуру в базе данных сигнатур,
сканируют изделие для создания второй сигнатуры изделия, причем для создания сигнатуры,
последовательно освещают совокупность участков изделия когерентным оптическим излучением,
собирают набор, содержащий группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и
определяют сигнатуру изделия из набора данных, и
сравнивают первую и вторую сигнатуры для определения, являются ли изделия, из которых получены первая и вторая сигнатуры, одним и тем же изделием,
в котором одна из первой и второй сигнатур является набором сигнатур, содержащим совокупность сигнатур, полученных из соответствующих разных участков изделия.
2. Способ по п.1, в котором совокупность сигнатур создают с использованием совокупности блоков сканирования.
3. Способ по п.1, в котором совокупность сигнатур создают с использованием блока сканирования в совокупности позиций.
4. Способ по п.1, в котором на этапе сравнения получают результат сверки в случае, когда, по меньшей мере, одна из сигнатур совокупности обеспечивает совпадение.
5. Способ по п.1, в котором на этапе сравнения
разбивают сигнатуру на смежные блоки данных и осуществляют операцию сравнения между каждым блоком и соответствующими блоками сохраненных сигнатур.
6. Способ по п.1, в котором на этапе сканирования для создания первой сигнатуры сканируют изделие, перемещающееся по транспортной системе.
7. Способ по п.1, в котором соответствующие разные участки изделия перекрываются.
8. Способ по п.1, в котором соответствующие разные участки изделия примыкают друг к другу.
9. Способ для проверки изделия, способ содержит этапы, на которых
сканируют изделие для создания сигнатуры изделия, причем для создания сигнатуры
последовательно освещают совокупность участков изделия когерентным оптическим излучением,
собирают набор, содержащий группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и
определяют сигнатуру изделия из набора элементов данных, и
сравнивают созданную сигнатуру с совокупностью сохраненных сигнатур, созданных в результате предыдущих сканирований совокупности изделий,
в котором с каждым изделием связывают набор сохраненных сигнатур, содержащий более одной сохраненной сигнатуры, причем каждая сохраненная сигнатура в наборе сигнатур связана с соответствующим участком каждого изделия, отличным от участков, с которыми связаны другие сигнатуры этого изделия.
10. Способ для проверки изделия, способ содержит этапы, на которых
создают набор сигнатур для каждого из совокупности изделий, причем для создания каждой сигнатуры
последовательно освещают совокупность участков изделия когерентным оптическим излучением,
собирают набор, содержащий группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и
определяют сигнатуру изделия из набора элементов данных, и
каждая сигнатура каждого набора получена на основании соответствующих разных участков данного изделия,
сохраняют набор сигнатур в базе данных сохраненных сигнатур,
создают сигнатуру изделия для проверки сигнатуры изделия, причем для создания сигнатуры
последовательно освещают совокупность участков изделия когерентным оптическим излучением,
собирают набор, содержащий группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и
определяют сигнатуру изделия из набора элементов данных, и
сравнивают сигнатуру с базой данных наборов сохраненных сигнатур для определения, является ли изделие для проверки изделием, набор сигнатур которого зарегистрирован в базе данных.
11. Система для проверки изделия, система содержит
первый сканер, способный сканировать изделие для создания первой сигнатуры изделия, причем сканер способен
последовательно освещать совокупность участков изделия когерентным оптическим излучением,
собирать набор, содержащий группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и
определять сигнатуру изделия из набора элементов данных,
базу данных, способную хранить первую сигнатуру,
второй сканер, способный сканировать изделие для создания второй сигнатуры изделия, причем сканер способен
последовательно освещать совокупность участков изделия когерентным оптическим излучением,
собирать набор, содержащий группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и
определять сигнатуру изделия из набора элементов данных, и
блок сравнения, способный сравнивать первую и вторую сигнатуры для определения, являются ли изделия, из которых получены первая и вторая сигнатуры, одним и тем же изделием,
в которой одна из первой и второй сигнатур является набором сигнатур, содержащим совокупность сигнатур, полученных из соответствующих разных участков изделия.
12. Система по п.11, в которой совокупность сигнатур создают с использованием совокупности блоков сканирования первого и/или второго сканера.
13. Система по п.11, в которой совокупность сигнатур создают с использованием блока сканирования первого и/или второго сканера в совокупности позиций.
14. Система по п.11, в которой блок сравнения способен возвращать результат сверки в случае, когда, по меньшей мере, одна из сигнатур совокупности обеспечивает совпадение.
15. Система по п.11, в которой первый и второй сканеры содержат
объем считывания, предназначенный для приема изделия,
источник, способный генерировать когерентный световой пучок,
элемент, способный последовательно направлять пучок на разные участки объема считывания,
детекторное устройство, способное собирать группы элементов данных из сигналов, полученных при рассеянии когерентного светового пучка из объема считывания, и
модуль сбора и обработки данных, способный определять сигнатуру изделия из набора элементов данных.
16. Система по п.11, в которой блок сравнения способен разбивать сгенерированную сигнатуру на смежные блоки данных и осуществлять операцию сравнения между каждым блоком и соответствующими блоками сохраненных сигнатур.
17. Система по п.11, в которой первый сканер предназначен для сканирования изделия, перемещающегося по транспортной системе.
18. Система по п.11, в которой соответствующие разные участки изделия перекрываются.
19. Система по п.11, в которой соответствующие разные участки изделия примыкают друг к другу.
20. Система для проверки изделия, содержащая
первый сканер, способный сканировать изделие для создания сигнатуры изделия, причем сканер способен
последовательно освещать совокупность участков изделия когерентным оптическим излучением,
собирать набор, содержащий группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и
определять сигнатуру изделия из набора элементов данных, и
компаратор, способный сравнивать созданную сигнатуру с совокупностью сохраненных сигнатур, созданных в результате предыдущих сканирований совокупности изделий,
в которой с каждым изделием связан набор сохраненных сигнатур, содержащий более одной сохраненной сигнатуры, причем каждая сохраненная сигнатура в наборе сигнатур связана с соответствующим участком каждого изделия, отличным от участков, с которыми связаны другие сигнатуры этого изделия.
21. Система для проверки изделия, система содержит
генератор сигнатур, способный создавать набор сигнатур для каждого из совокупности изделий, причем каждая сигнатура создается посредством
последовательного освещения совокупности участков изделия когерентным оптическим излучением,
сбора набора, содержащего группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и
определения сигнатуры изделия из набора элементов данных и получения каждой сигнатуры каждого набора на основании соответствующих разных участков данного изделия,
базу данных, способную хранить набор сигнатур, блок создания сигнатур, способный создавать сигнатуру изделия для проверки, причем сигнатуру создают посредством
последовательного освещения совокупности участков изделия когерентным оптическим излучением,
сбора набора, содержащего группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и
определения сигнатуры изделия из набора элементов данных, и компаратор, способный сравнивать сигнатуру с базой данных наборов сохраненных сигнатур для определения, является ли изделие для проверки изделием, набор сигнатур которого зарегистрирован в базе данных.