РАСПОЗНАВАНИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

1. Способ распознавания и/или повторного обнаружения участка предмета, включающий в себя следующие шаги:
a) сканирование некоторой области предмета электромагнитным излучением и, при необходимости - после обработки сигнала - сохранение в банке данных по меньшей мере части излучения, испускаемого предметом вследствие сканирования, вместе с прочими параметрами, относящимися к отдельным участкам предмета, в форме эталонного профиля, причем применяемое для сканирования электромагнитное излучение имеет профиль луча в форме линии, а эталонный профиль содержит информацию о внутренних структурных свойствах предмета и местах предмета, в которых проявляются внутренние структурные свойства;
b) определение на основе эталонного профиля, принадлежащего к предмету, на каком участке предмета имеется предварительно заданный параметр;
c) для повторного обнаружения участка в соответствии с этапом b), на котором имеют место предварительно заданные параметры - повторное сканирование установленного участка электромагнитным излучением, регистрация по меньшей мере части электромагнитного излучения, испускаемого предметом вследствие сканирования, и создание локального профиля из полученного сигнала сканирования, при необходимости - с применением методов обработки сигнала, причем применяемое для сканирования электромагнитное излучение имеет профиль луча в форме линии;
d) сравнение локального профиля с той частью эталонного профиля, которая соответствует установленному участку согласно этапу b);
e) распознавание участка по этапу b).
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что ширина профиля луча, имеющего форму линии, превышает толщину этого луча более чем в 50 раз.
3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что ширина луча находится в пределах от 2 до 7 мм, предпочтительно в пределах от 3 до 6,5 мм, особо предпочтительно в пределах от 4 до 6 мм, а крайне предпочтительно - в пределах от 4, 5 до 5,5 мм, в то время как толщина луча находится в пределах от 5 до 35 мкм, предпочтительно в пределах от 10 до 30 мкм, особо предпочтительно в пределах от 15 до 30 мкм, крайне предпочтительно - в пределах от 20 до 27 мкм.
4. Способ по п. 1, отличающийся тем, что для сканирования применяют электромагнитное излучение с длиной волны в диапазоне от видимого до инфракрасного света.
5. Способ по п. 1, отличающийся тем, что сканирующий луч падает на поверхность предмета под прямым углом, а диффузно отраженное от поверхности излучение улавливают сбоку от сканирующего луча.
6. Способ по одному из пп. 1-5, отличающийся тем, что сканирующий луч падает на поверхность предмета косо, а по бокам от зеркально отраженного луча размещены один или несколько детекторов для улавливания возвращаемого излучения.