СВЧ-УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ МАТЕРИАЛА

1. Устройство (100) для проверки материала (150), содержащее, по меньшей мере, средства (110) испускания электромагнитного сигнала с несущей частотой Fp для облучения материала (150) и средства (130) приема электромагнитного сигнала, отличающееся тем, что содержит первые средства модуляции электромагнитного сигнала частотой Fm1, расположенные на пути распространения сигнала между средствами (110) испускания и материалом (150) и выполненные с возможностью пространственного разделения испущенного электромагнитного сигнала, и вторые средства (140) модуляции электромагнитного сигнала частотой Fm2, расположенные на пути распространения сигнала между материалом (150) и средствами (130) приема электромагнитного сигнала и выполненные с возможностью пространственного разделения электромагнитного сигнала, прошедшего сквозь материал (150).
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что первые и вторые средства (140) модуляции содержат решетку датчиков (200) пространственной модуляции, причем каждый из датчиков (200) содержит нелинейный электронный компонент или схему из нескольких нелинейных электронных компонентов (230), получающих питание с требуемой частотой Fm модуляции и подающих сигналы на два или более излучающих элемента (220), каждый из которых соединен с указанным компонентом или компонентами.
3. Устройство по п.2, отличающееся тем, что каждый из датчиков (200) содержит два проводника (240) питания, обеспечивающих подачу питания на нелинейный электронный компонент (230), причем проводники (240) питания расположены перпендикулярно направлению поляризации средств (110) испускания сигнала.
4. Устройство по п.2 или 3, отличающееся тем, что нелинейный электронный компонент (230) представляет собой электрический диод, фотоэлектрический диод или терморезистор, а проводники (240) питания представляют собой печатные электрические проводники или электрические провода или оптические волокна.
5. Устройство по п.2 или 3, отличающееся тем, что датчики (200) представляют собой электрические диполи, на которые поступает сигнал от нелинейных электронных компонентов, таких как электрические диоды, фотоэлектрические диоды или терморезисторы.
6. Устройство по п.2 или 3, отличающееся тем, что датчики (200) попарно расположены на равном расстоянии один от другого.
7. Устройство по п.6, отличающееся тем, что все датчики (200) каждой из решеток, обращенные к материалу (150), расположены в один или более рядов в общей плоскости, перпендикулярной направлению распространения сигнала, испущенного средствами (110) испускания.
8. Устройство по п.6, отличающееся тем, что каждый из датчиков (200) содержит излучающие элементы (220), расположенные под углом ±45° к направлению поляризации средств (110) испускания.
9. Устройство по любому из пп.1, 2 или 3, отличающееся тем, что средства (110) испускания и вторые средства (140) модуляции со средствами (130) приема расположены по разные стороны материала (150) так, что вторые средства (140) модуляции принимают сигнал, прошедший сквозь материал (150).
10. Устройство по любому из пп.1, 2 или 3, отличающееся тем, что средства (110) испускания и вторые средства (140) модуляции со средствами (130) приема расположены по одну и ту же сторону от материала (150) так, что вторые средства (140) модуляции принимают сигнал, отраженный материалом (150).
11. Устройство по любому из пп.1, 2 или 3, отличающееся тем, что средства (110) испускания и средства (130) приема содержат антенные решетки одного и того же типа.
12. Устройство по любому из пп.1, 2 или 3, отличающееся тем, что содержит средства (180) демультиплексирования модулирующего сигнала, используемого вторыми средствами (140) модуляции.
13. Устройство по предшествующему пункту, отличающееся тем, что средства (180) демультиплексирования представляют собой средства временного или пространственного демультиплексирования.
14. Устройство по любому из пп.1, 2 или 3, отличающееся тем, что дополнительно содержит средства (190) фильтрации сигналов, принятых средствами (130) приема.
15. Устройство по п.2 или 3, отличающееся тем, что датчики (200) содержат гибкую подложку, обеспечивающую возможность придания требуемой формы каждой из решеток датчиков (200).
16. Способ проверки материала (150), отличающийся тем, что испускают электромагнитный сигнал с частотой Fp для облучения материала (150), модулируют испущенный электромагнитный сигнал частотой Fm1 модуляции до достижения им материала (150), модулируют выходящий из материала (150) электромагнитный сигнал частотой Fm2 модуляции и принимают указанный сигнал, и формируют изображение материала (150) на основе сигнала, полученного в результате модуляций.