СИСТЕМА КОНТРОЛЯ ОБЪЕКТА (ВАРИАНТЫ)

1. Система контроля объекта, состоящая из первого источника излучения, формирующего веерный луч проникающего излучения, сегментной матрицы детекторных элементов, измеряющей интенсивность проникающего излучения, проходящего через объект от первого источника излучения, второго источника излучения, формирующего острый луч проникающего излучения, по меньшей мере одного детектора рассеянного излучения, обнаруживающего проникающее излучение посредством отражения объектом сканирующего острого луча, процессора, дисплея и блока памяти, содержащей команды, посредством которых процессор выполняет операцию вычитания фонового сигнала из сигнала, измеренного детектором рассеянного излучения, при этом фоновый сигнал измеряется детектором рассеянного излучения, когда острый сканирующий луч не освещает объект, с формированием скорректированного измеренного сигнала подсистемы формирования изображений в рассеянном свете, и операцию отображения на дисплее указанного скорректированного сигнала, измеренного подсистемой формирования изображений в рассеянном свете и сигнала, измеренного подсистемой формирования изображений в проходящем свете, поступающего от сегментной матрицы детекторных элементов для использования этого отображения при проверке объекта.
2. Система по п.1, в которой первый источник излучения, формирующий веерный луч, и второй источник излучения, формирующий острый луч, являются одним и тем же источником излучения.
3. Система по п.1, в которой по меньшей мере один детектор рассеянного излучения содержит средства коллимирования проникающего излучения, обеспечивающие преимущественное детектирование проникающего излучения острого луча.
4. Система по п.1, в которой по меньшей мере один детектор рассеянного излучения имеет преимущественно плоскую переднюю поверхность, чувствительную к падающему излучению, нормаль к которой ориентирована в направлении точки падения сканирующего острого луча, рассеянного объектом.
5. Система по п.4, в которой по меньшей мере одна поверхность детектора рассеянного излучения, не являющаяся плоской передней поверхностью, экранируется с ослаблением вероятности детектирования проникающего излучения, порождаемого веерным лучом.
6. Система по п.1, которая содержит перегородку, расположенную между веерным лучом и последним детектором рассеянного излучения, посредством которой уменьшается сигнал на выходе детектора рассеянного излучения, обусловленный воздействием веерного луча.
7. Система по п.6, в которой перегородка представляет собой отражатель, параллельный веерному лучу.
8. Система по п.6, в которой перегородка представляет собой поворотный защитный экран, параллельный веерному лучу.
9. Система по п.6, в которой перегородка представляет собой экран, перпендикулярный веерному лучу.
10. Система по п.1, в которой блок памяти содержит команды, посредством которых процессор производит корректировку формата изображения и размера сигнала, измеренного подсистемой формирования изображений в проходящем свете, и скорректированного сигнала, измеренного подсистемой формирования изображений в рассеянном свете, с отображением размеров и формы объекта на дисплее подсистемы формирования изображений в проходящем свете и подсистемы формирования изображений в рассеянном свете.
11. Система по п.1, в которой сегментная матрица детекторных элементов состоит из первого и второго наборов элементов, измеряющих излучение в первом и во втором энергетических диапазонах, соответственно.
12. Система по п.11, в которой блок памяти содержит команды, посредством которых процессор определяет эффективный атомный номер, по крайней мере одной части объекта посредством данных измерений, полученных от первого и второго набора элементов, и отображает на дисплее по крайней мере одну часть объекта с отображением эффективного атомного номера этой части.
13. Система по п.1, в которой сегментная матрица детекторных элементов содержит коллиматор, служащий для ослабления проникающего излучения веерного луча, рассеянного от сегментной матрицы детекторных элементов и падающего на детектор рассеянного излучения.
14. Система контроля объекта, состоящая из первого источника излучения, формирующего веерный луч проникающего излучения, сегментной матрицы детекторных элементов, измеряющей интенсивность проникающего излучения, проходящего через объект от первого источника излучения и содержащей коллиматор отсечения излучения, рассеиваемого этой матрицей, второго источника излучения, формирующего острый луч проникающего излучения, по меньшей мере одного детектора рассеянного излучения, обнаруживающего проникающее излучение посредством отражения объектом острого сканирующего луча и содержащего средства отсечения излучения, порожденного рассеянием веерного луча, из процессора, дисплея и блока памяти, содержащей команды, посредством которых процессор выполняет операцию вычитания фонового сигнала из сигнала, измеренного детектором рассеянного излучения, при этом указанный фоновый сигнал измеряется детектором рассеянного излучения, когда второй источник излучения не облучает объект, с формированием скорректированного измеренного сигнала подсистемы формирования изображений в рассеянном свете, и операцию отображения на дисплее этого скорректированного сигнала, измеренного подсистемой формирования изображений в рассеянном свете, и сигнала, измеренного подсистемой формирования изображений в проходящем свете, поступающего от сегментной матрицы детекторных элементов при проверке объекта.
15. Система по п.14, в которой первый источник излучения, формирующий веерный луч, и второй источник излучения, формирующий острый сканирующий луч представляют собой один и тот же источник излучения.
16. Система по п.14, в которой сегментная матрица детекторных элементов состоит из первого и второго наборов элементов, измеряющих излучение в первом и во втором энергетических диапазонах, соответственно, при этом блок памяти содержит команды, посредством которых процессор производит корректировку формата изображения и размера сигнала, измеренного подсистемой формирования изображений в проходящем свете, и скорректированного сигнала, измеренного в подсистеме формирования изображений в рассеянном свете, до сближения размеров и формы объекта, полученных при отображении сигнала, измеренного подсистемой формирования изображений в проходящем свете, и сигнала, измеренного подсистемой формирования изображений в рассеянном свете, определяет эффективное атомное число по крайней мере одной части объекта посредством данных измерений, полученных от первого и второго набора элементов, отображает на дисплее по крайней мере одну часть объекта с отображением эффективного атомного номера этой части.