Стереоскопический способ измерений отстояний и формы объектов

Стереоскопический способ измерения отстояний и формы объектов от измерительной базы, включающий облучение объекта источником волнового поля, проектирование отраженного сигнала двумя приемными устройствами с параллельными осями наблюдений, установленными на известной базе, на измерительные оси, обладающие требуемой дискретностью, и вычисление отстояний наблюдаемой точки на объекте от центра базы, отличающийся тем, что вычисляют коэффициент общей относимости трансформации положения каждой точки и требуемые линейные параметры положения и размеров объекта по формулам:
A
где k - коэффициент общей относимости трансформации отстояний точки наблюдения A;
f - отстояние измерительной оси от приемных устройств;
d - размер базы;
A
Г - проекция размера базы из точки наблюдения A;
A
D - размер проекции прямолинейного отрезка между двумя точками, обладающими равными значениями коэффициента общей относимости.