Статья

Статья

Высокотемпературные аппараты и конструкции

1981. Т. 19. № 5. С. 1050–1060

Залкинд В.И., Кириллов В.В., Тихоцкий А.С., Успенская Г.Л., Буренков Д.К., Стрекалов Н.В.

Экспериментальное исследование межэлектродного пробоя в МГД-каналах

Изложены результаты экспериментальных исследований межэлектродного пробоя в МГД-каналах Установки У-02, проводимых в развитие опубликованных работ. Разработанная ранее методика развита и дополнена определением параметров развитого пробоя. Исследования проведены с различными типами электродов в широком диапазоне температур их поверхности и при различной ширине межэлектродных промежутков. Определены условия возникновения двух типов пробоя: по плазме ("быстрый" пробой) и по поверхности межэлектродного изолятора ("медленный" пробой). Изучен механизм развития "медленного" пробоя. Установлена роль "привязок" тока на электродах в возникновении обоих типов пробоя; выявлены различия в развитии процессов на анодной и катодной стенках. В достаточно широком диапазоне изменения ширины межэлектродного промежутка получены данные о влиянии этого параметра на образование и характеристики пробоя. Получены данные о величине тока и мощности межэлектродного разряда после пробоя.

Ссылка на статью:

Залкинд В.И., Кириллов В.В., Тихоцкий А.С., Успенская Г.Л., Буренков Д.К., Стрекалов Н.В.

Экспериментальное исследование межэлектродного пробоя в МГД-каналах, ТВТ, 1981. Т. 19. № 5. С. 1050

High Temp. 1981, v.19, №5, pp. 766-774