УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРНЫХ ПАРАМЕТРОВ СВЕРХПРОВОДНИКОВ

1. Устройство для измерения температурных параметров сверхпроводников, включающее две катушки индуктивности, установленные симметрично в общем корпусе с зазором для размещения образца сверхпроводника, емкость с криоагентом и термодатчик, отличающееся тем, что оси катушек индуктивности ориентированы параллельно друг другу и поверхности образца, катушки индуктивности выполнены с прямоугольным поперечным сечением и установлены меньшей стороной прямоугольника параллельно поверхности образца, а корпус выполнен из двух половин с плоскостью разъема для размещения образца сверхпроводника, при этом устройство дополнительно снабжено механизмом регулировки и фиксации расстояния между образцом и поверхностью криоагента.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что соотношение сторон прямоугольного сечения катушек индуктивности выбирают в интервале от 2 до 4.
3. Устройство по п.1, отличающееся тем, что оно дополнительно содержит установленный в корпусе защитный экран, выполненный из материала с высокой магнитной проницаемостью, установленный в одной плоскости с образцом, примыкающий к образцу с обеих сторон.
4. Устройство по п.1, отличающееся тем, что дополнительно содержит установленные в корпусе магнитные экраны, выполненные в форме разомкнутых цилиндрических поверхностей, п-образного поперечного сечения, установленные по наружным торцам катушек индуктивности со стороны, противоположной образцу, при этом расстояние между катушками индуктивности и защитными экранами 5÷10 мм, а между плоскостью размещения исследуемого образца и магнитными экранами не менее 5 мм.
5. Устройство по п.1, отличающееся тем, что термодатчик установлен в одной из половин корпуса с возможностью контакта с образцом.