ОПТИМИЗИРОВАННЫЕ СЦИНТИЛЛИРУЮЩИЕ КРИСТАЛЛЫ ДЛЯ РЕТ-ТОМОГРАФИИ

1. Матрица детекторов излучения для атомного сканера, включающая в себя:
по меньшей мере, одну матрицу сцинтиллирующих кристаллов (10), причем каждый кристалл (10) имеет, по меньшей мере, одну обработанную поверхность (16), которая обработана, чтобы рассеивать падающий свет;
отражающий слой (30), обернутый вокруг каждого сцинтиллирующего кристалла; и,
по меньшей мере, один фотодетектор (32), соединенный с каждой матрицей.
2. Матрица детекторов по п. 1, при этом сцинтиллирующие кристаллы включают в себя один или более из:
лютеций-иттрий-окси-ортосиликатных (LYSO) кристаллов;
лютеций-окси-ортосиликатных (LSO) кристаллов;
лютеций-гадолиний-окси-ортосиликатных (LGSO) кристаллов;
лютеций-гадолиний-иттрий-окси-ортосиликатных (LGYSO) кристаллов и
кристаллов бромида лантана (LaBr).
3. Матрица детекторов по п. 1 или 2, при этом фотодетектор является устройством кремниевого фотоумножителя (SiPM).
4. Матрица детекторов по п. 1 или 2, при этом отражающий слой (30) включает в себя зеркальный отражатель, оптимизированный, чтобы отражать свет в диапазоне, который охватывает длину волны пикового светового выхода сцинтиллирующих кристаллов.
5. Матрица детекторов по п. 1 или 2, при этом сцинтиллирующие кристаллы имеют первую поверхность, которая оптически сопряжена с фотодетектором, и вторую поверхность, противоположную первой поверхности и расположенную по направлению к объекту, который должен быть исследован, и четыре боковые поверхности, и при этом каждая боковая поверхность имеет длину между первой и второй поверхностями и ширину, причем длина, по меньшей мере, в 2,5 раза больше ширины.
6. Матрица детекторов по п. 1 или 2, при этом, по меньшей мере, одна шероховатая сторона является стороной кристалла, которая оптически сопряжена с фотодетектором.
7. Матрица детекторов по п. 1 или 2, при этом, по меньшей мере, одна шероховатая сторона кристалла является длинной стороной кристалла, длинная сторона является стороной, смежной с принимающей излучение стороной, и стороной, которая оптически сопряжена с фотодетектором.
8. Матрица детекторов по п. 1 или 2, при этом, по меньшей мере, одна шероховатая сторона (16) имеет шероховатость, приблизительно эквивалентную шероховатости, полученной посредством шлифовки с помощью наждачной бумаги с размером зерна 150.
9. Атомный сканер, содержащий:
матрицу детекторов излучения по любому из п.п. 1-8;
процессор восстановления, который восстанавливает выходные сигналы от фотодетекторов в изображение; и
устройство отображения, которое отображает восстановленное изображение.
10. Способ увеличения обнаружения света в матрице детекторов, включающий в себя этапы, на которых:
придают шероховатость, по меньшей мере, одной стороне каждого из множества предварительно сформированных отполированных сцинтиллирующих кристаллов;
применяют отражающий материал к шероховатым кристаллам;
размещают кристаллы в матрице;
оптически соединяют каждую из множества матриц с матрицей фотодетекторов, чтобы формировать матрицу детекторов; и
устанавливают матрицу детекторов в модуле детектора.
11. Способ по п. 10, в котором сцинтиллирующие кристаллы включают в себя один или более из:
лютеций-иттрий-окси-ортосиликатных (LYSO) кристаллов;
лютеций-окси-ортосиликатных (LSO) кристаллов;
лютеций-гадолиний-окси-ортосиликатных (LGSO) кристаллов;
лютеций-гадолиний-иттрий-окси-ортосиликатных (LGYSO) кристаллов и
кристаллов бромида лантана (LaBr).
12. Способ по п. 10 или 11, в котором отражающий слой (30) включает в себя зеркальный материал, который оптимизирован, чтобы отражать свет в диапазоне, который охватывает длину волны пикового светового выхода сцинтиллирующих кристаллов.
13. Способ по п. 10 или 11, в котором этап придания шероховатости, по меньшей мере, одной стороне каждого из множества предварительно сформированных отполированных сцинтиллирующих кристаллов включает в себя, по меньшей мере, один из следующих этапов, на которых:
выполняют мокрую шлифовку, по меньшей мере, одной стороны каждого кристалла;
выполняют сухую шлифовку, по меньшей мере, одной стороны каждого кристалла;
выполняют пескоструйную обработку, по меньшей мере, одной стороны каждого кристалла;
шлифуют, по меньшей мере, одну сторону каждого кристалла;
подвергают, по меньшей мере, одну сторону каждого кристалла воздействию абразивной суспензии и
напыляют дополнительный кристаллический материал, по меньшей мере, на одну сторону каждого кристалла.
14. Способ по п. 10 или 11, в котором сцинтиллирующие кристаллы имеют первую поверхность, которая оптически сопряжена с фотодетектором, и вторую поверхность, противоположную первой поверхности и расположенную по направлению к объекту, который должен быть исследован, и четыре боковые поверхности, при этом каждая боковая поверхность имеет длину между первой и второй поверхностями и ширину, причем длина, по меньшей мере, в 2,5 раза больше ширины.
15. Способ по п. 10 или 11, в котором, по меньшей мере, одна шероховатая сторона имеет шероховатость, приблизительно эквивалентную шероховатости, полученной посредством шлифовки с помощью наждачной бумаги с зернистостью 150.