ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ОТБОРА ОБРАЗЦОВ

1. Способ отбора образцов, при этом способ содержит этапы, на которых
a. добавляют образец в камеру, в которой обеспечены магнитные частицы, при этом образец содержит целевой компонент, и камера имеет поверхность обнаружения;
b. прикладывают силу магнитного поля к магнитным частицам, чтобы притянуть магнитные частицы к поверхности обнаружения, при этом связанные магнитные частицы, которые захватывают целевой компонент в магнитных частицах, удерживаются на поверхности обнаружения, и несвязанные магнитные частицы, которые не захватывают целевой компонент в магнитных частицах, также удерживаются на поверхности обнаружения;
c. сбрасывают по меньшей мере часть образца из камеры и затем добавляют новый образец в камеру;
d. изменяют силу магнитного поля, прилагаемого к магнитным частицам, чтобы высвободить несвязанные магнитные частицы с поверхности обнаружения;
e. повторяют этапы b-d в течение определенного числа циклов, при этом перед этапом приложения этап b дополнительно содержит этап, на котором
смешивают магнитные частицы и целевой компонент посредством формирования переменного магнитного поля в течение заданного периода времени.
2. Способ по п. 1, дополнительно содержит этап, на котором
измеряют количество связанных магнитных частиц, которые удерживаются на поверхности обнаружения после завершения этапа повторения.
3. Способ по п. 1, в котором этап приложения содержит этап, на котором
формируют первое магнитное поле для притяжения магнитных частиц к поверхности обнаружения;
и этап изменения содержит этап, на котором
прекращают формирование первого магнитного поля, чтобы высвободить несвязанные магнитные частицы с поверхности
обнаружения; или прекращают формирование первого магнитного поля и формируют второе магнитное поле, чтобы оттянуть несвязанные магнитные частицы от поверхности обнаружения.
4. Способ по п. 3, в котором второе магнитное поле представляет собой магнитное поле, которое противоположно первому магнитному полю.
5. Способ по п. 1, в котором этап d дополнительно содержит этап, на котором
определяют, находится ли количество связанных магнитных частиц, которые удерживаются на поверхности обнаружения, выше заданной пороговой величины;
если нет, выполняют этапы b-d.
6. Способ по п. 5, в котором этап приложения содержит этап, на котором
формируют первое магнитное поле для притяжения магнитных частиц к поверхности обнаружения;
и этап изменения содержит этап, на котором
прекращают формирование первого магнитного поля, чтобы высвободить несвязанные магнитные частицы с поверхности обнаружения; или
прекращают формирование первого магнитного поля и формируют второе магнитное поле, чтобы оттянуть несвязанные магнитные частицы от поверхности обнаружения.
7. Измерительное устройство, содержащее
камеру, в которой обеспечены магнитные частицы, при этом камера имеет поверхность обнаружения и выполнена с возможностью приема образца, в который включен целевой компонент;
магнитный манипулятор, выполненный с возможностью приложения силы магнитного поля к магнитным частицам, чтобы притянуть магнитные частицы к поверхности обнаружения, при этом связанные магнитные частицы, которые захватывают целевой компонент в магнитных частицах, удерживаются на поверхности обнаружения, и несвязанные магнитные частицы, которые не захватывают целевой компонент в магнитных частицах, также удерживаются на поверхности обнаружения; затем изменения силы магнитного поля, прилагаемого к магнитным частицам, чтобы высвободить несвязанные магнитные частицы с поверхности обнаружения;
модуль замены образца, выполненный с возможностью замены по меньшей мере части образца в камере новым образцом;
измерительный блок, выполненный с возможностью измерения количества связанных магнитных частиц, которые удерживаются на поверхности обнаружения;
блок управления, соединенный с магнитным манипулятором, модулем замены образца и измерительным блоком, при этом блок управления выполнен с возможностью многократного выполнения следующих операций до достижения определенного числа циклов,
управления магнитным манипулятором для приложения силы магнитного поля к магнитным частицам, чтобы притянуть магнитные частицы к поверхности обнаружения,
управления модулем замены образца для замены по меньшей мере части образца в камере новым образцом,
управления магнитным манипулятором для изменения силы магнитного поля, прилагаемого к магнитным частицам, чтобы высвободить несвязанные магнитные частицы с поверхности обнаружения;
и дополнительно выполнен с возможностью управления измерительным блоком для измерения количества связанных магнитных частиц, которые связаны с поверхностью обнаружения, когда достигнуто определенное число циклов,
при этом до этапа приложения магнитный манипулятор дополнительно выполнен с возможностью смешивания магнитных частиц и целевого компонента посредством формирования переменного магнитного поля в течение заданного отрезка времени.
8. Измерительное устройство по п. 7, в котором магнитный манипулятор содержит первый магнит, расположенный ниже поверхности обнаружения, при этом блок управления выполнен с возможностью управления первым магнитом, чтобы тот был включен для формирования первого магнитного поля, чтобы притянуть магнитные частицы к поверхности обнаружения, и управления первым магнитом, чтобы тот был выключен, чтобы высвободить несвязанные магнитные частицы с поверхности обнаружения.
9. Измерительное устройство по п. 8, в котором магнитный манипулятор дополнительно содержит второй магнит, при этом блок управления выполнен с возможностью управления первым магнитом, чтобы тот был выключен, и управления вторым магнитом, чтобы тот был включен, чтобы оттянуть несвязанные магнитные частиц от поверхности обнаружения.
10. Измерительное устройство по п. 7, в котором магнитный манипулятор дополнительно выполнен с возможностью определения, находится ли количество связанных магнитных частиц, которые удерживаются на поверхности обнаружения, выше заданной пороговой величины;
если нет, блок управления дополнительно выполнен с возможностью выполнения следующей операции,
управления магнитным манипулятором для приложения силы магнитного поля к магнитным частицам, чтобы притянуть магнитные частицы к поверхности обнаружения;
управления модулем замены образца для замены по меньшей мере части образца в камере новым образцом;
управления магнитным манипулятором для изменения силы магнитного поля, прилагаемого к магнитным частицам, чтобы высвободить несвязанные магнитные частицы с поверхности обнаружения;
и затем повторения операции.
11. Измерительное устройство по п. 10, в котором магнитный манипулятор содержит первый магнит, расположенный ниже поверхности обнаружения, при этом блок управления выполнен с возможностью управления первым магнитом, чтобы тот был включен для формирования первого магнитного поля, чтобы притянуть магнитные частицы к поверхности обнаружения, и управления первым магнитом, чтобы тот был выключен, чтобы высвободить несвязанные магнитные частицы с поверхности обнаружения.
12. Измерительное устройство по п. 11, в котором магнитный манипулятор дополнительно содержит второй магнит, при этом блок управления выполнен с возможностью управления первым магнитом, чтобы тот был выключен, и управления вторым магнитом, чтобы тот был включен, чтобы оттянуть несвязанные магнитные частиц от поверхности обнаружения.