СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИФРАКЦИОННЫХ ЛИНЗ

1. Способ измерения оптических свойств дифракционной линзы, содержащий этапы, на которых
пропускают свет через дифракционную линзу и на массив элементарных линз, в котором каждая элементарная линза принимает часть света и в котором дифракционная линза имеет границу зоны, покрывающую, по меньшей мере, часть одной элементарной линзы,
измеряют одно или несколько свойств дифракционной линзы на основании света, в общем случае, сфокусированного массивом элементарных линз и зарегистрированного датчиком,
регулируют результат измерения для компенсации предполагаемых оптических свойств дифракционного компонента линзы в измерительной системе.
2. Способ по п.1, в котором влияние дифракционной структуры вычисляют с использованием преобразования Фурье волнового фронта через каждую элементарную линзу для фазовой задержки, вносимой дифракционной структурой.
3. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором сравнивают позицию светового пятна, сфокусированного каждой элементарной линзой, с позицией пятна для полностью коллимированного волнового фронта, для определения поперечного перемещения пятна.
4. Способ по п.3, в котором влияние дифракционной структуры определяют путем сравнения измеренных значений для дифракционной линзы и эквивалентной однофокусной линзы для определения коррекции.
5. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором
идентифицируют размытые или двойные пятна, в котором наличие размытого или двойного пятна свидетельствует о наличии дифракционного участка поверхности линзы, и
регулируют локальный наклон для элементарной линзы для представления эквивалентной однофокусной линзы.
6. Способ по п.1, в котором на этапе сравнения одного или нескольких определенных свойств дифракционной линзы с одним или нескольких предполагаемых свойств дифракционной линзы определяют эквивалентную однофокусную линзу.
7. Способ по п.6, в котором при определении эквивалентной однофокусной линзы сравнивают теоретические расчеты и лабораторные измерения.
8. Способ по п.6, в котором при определении эквивалентной однофокусной линзы сравнивают теоретические расчеты и клинические измерения.
9. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором определяют наилучшую регулировку путем сравнения двух или более из теоретических расчетов, лабораторных измерений и клинических измерений.
10. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором анализируют участок волнового фронта.
11. Способ по п.1, в котором на этапе сравнения одного или нескольких определенных свойств дифракционной линзы с одним или нескольких предполагаемых свойств дифракционной линзы
оценивают теоретическое искажение данных на основании конструкции линзы; и
компенсируют оценку теоретического искажения.
12. Способ по п.1, в котором на этапе сравнения одного или нескольких определенных свойств дифракционной линзы с одним или нескольких предполагаемых свойств дифракционной линзы вычисляют приблизительный участок линзы, который будет покрывать элементарную линзу для оценивания величины двойного пятна.
13. Способ по п.1, в котором диаметр элементарной линзы меньше, чем у измеряемой дифракционной зоны.
14. Способ по п.1, в котором диаметр элементарной линзы больше, чем у измеряемой дифракционной зоны.
15. Способ измерения оптических свойств дифракционной линзы, содержащий этапы, на которых
пропускают свет через дифракционную линзу, в котором дифракционная линза имеет границу зоны, покрывающую, по меньшей мере, часть одной элементарной линзы,
с использованием системы, предназначенной для измерения оптических свойств линзы, измеряют одно или несколько свойств дифракционной линзы на основании света, выходящего из линзы,
вычисляют одно или несколько свойств дифракционной линзы для определения одного или нескольких предполагаемых свойств дифракционной линзы,
сравнивают одно или несколько определенных свойств дифракционной линзы с одним или несколькими теоретическими расчетами дифракционной линзы,
вычисляют одно или несколько свойств системы, используемой для измерения свойств линзы,
измеряют одно или несколько свойств системы, используемой для измерения свойств дифракционной линзы, и
корректируют измерение одного или нескольких свойств дифракционной линзы на основании сравнения с одним или несколькими предполагаемыми свойствами дифракционной линзы и одним или несколькими свойствами системы для измерения свойств линзы.
16. Способ по п.15, в котором при измерении одного или нескольких свойств дифракционной линзы измеряют сферическую аберрацию дифракционной линзы.