Способ диагностики римановой кривизны решетки нанотонких кристаллов

Способ диагностики римановой кривизны решетки нанотонких кристаллов, включающий получение электронно-микроскопического изображения нанотонкого кристалла в светлом поле, получение микроэлектронограммы от кристалла, микродифракционное исследование нанотонкого кристалла, анализ ротационного искривления решетки нанотонкого кристалла, отличающийся тем, что на электронно-микроскопическом изображении нанотонкого кристалла выбирают физическую точку М и двумерное направление, для этого выбирают пару - нелинейный изгибной экстинкционный контур и соответствующий ему рефлекс на микроэлектронограмме, испытывающий азимутальное размытие; проводят диагностику римановой геометрии решетки нанотонкого кристалла в данной точке М и данном двумерном направлении, задаваемом бивектором (a, b) - парой неколлинеарных векторов, исходящих из одной точки, совпадающей с центром микроэлектронограммы, полученной от нанотонкого кристалла, расположенных в плоскости микроэлектронограммы, где вектор b соответствует размытому рефлексу, путем совместного анализа пары - нелинейного изгибного экстинкционного контура, присутствующего на электронно-микроскопическом изображении кристалла в темном поле, и соответствующего ему рефлекса на микроэлектронограмме от кристалла, для установления непрерывности азимутального размытия рефлекса и непрерывности соответствующего ему изгибного контура, затем проводят диагностику римановой кривизны решетки нанотонкого кристалла путем определения численного значения римановой кривизны решетки нанотонкого кристалла в данной точке М и данном двумерном направлении, задаваемом бивектором (a, b), по формуле:
,
м
(a, b)
где К - риманова кривизна решетки нанотонкого кристалла в данной точке М - физической «точке» кристалла и данном двумерном направлении, задаваемом бивектором (a, b); ϕ - угол азимутального размытия рефлекса, определяемый с помощью цифровых измерений; S - площадь физической точки М - участка нанотонкого кристалла, охватывающая нелинейный изгибной экстинкционный контур, соответствующий рефлексу с непрерывным азимутальным размытием, определяемая в темном поле.