СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ ПО НАДЕЖНОСТИ

Способ разделения полупроводниковых изделий по надежности, в соответствии с которым у полупроводниковых изделий измеряют интенсивность шума при разных температурах, отличающийся тем, что проводят контроль интенсивности шума для транзисторов по выводам «эмиттер-база» для нормальной и повышенной температуры, допустимой по техническим условиям, и по изменению интенсивности шума при повышенной температуре относительно нормальной вычисляют коэффициент M
,
где , - значение интенсивности шума при повышенной температуре, предельно допустимой по техническим условиям,  - значение интенсивности шума при нормальной температуре, по полученному коэффициенту определяют принадлежность изделия к надежным или потенциально ненадежным.