ДИНАМИЧЕСКОЕ УПРАВЛЕНИЕ НАПРЯЖЕНИЕМ И ЧАСТОТОЙ

1. Интегральная микросхема содержит:
логическую схему;
локальное устройство управления электропитанием, связанное с логической схемой и выполненное с возможностью передавать указание о запрошенной величине напряжения питания внешнему источнику питания; и
модуль самокалибровки в интегральной микросхеме, который выполнен с возможностью выполнять тест логической схемы, причем модуль самокалибровки выполнен с возможностью повторять тест на соответственно более низких запрошенных величинах напряжения питания до тех пор, пока не будет сбоя теста, и
при этом самая низкая запрошенная величина напряжения питания, на которой тест успешно проходит, используется для генерации запрошенной величины напряжения питания для работы интегральной микросхемы, и
при этом модуль самокалибровки дополнительно выполнен с возможностью повторять тест и определять самую низкую запрошенную величину напряжения питания в ответ на различную рабочую нагрузку логической схемы.
2. Интегральная микросхема по п.1 дополнительно содержит статическую таблицу величин напряжения питания, причем содержимое статической таблицы определяется во время заводской проверки интегральной микросхемы, и при этом локальное устройство управления электропитанием выполнено с возможностью считывать начальную величину напряжения питания из статической таблицы.
3. Интегральная микросхема по п.1, в которой интегральная микросхема может работать на множестве тактовых частот, и в которой модуль самокалибровки выполнен с возможностью повторять тест на соответственно более низких величинах напряжения питания для каждой из множества тактовых частот для определения самой низкой запрошенной величины напряжения питания для каждой из множества тактовых частот.
4. Интегральная микросхема по п.1, в которой модуль самокалибровки выполнен с возможностью повторять тест в ответ на начальную загрузку устройства, которое включает в себя интегральную микросхему.
5. Интегральная микросхема по п.4, в которой модуль самокалибровки выполнен с возможностью повторять тест и определять самую низкую запрошенную величину напряжения питания в ответ на превышение возрастом интегральной микросхемы определенной величины.
6. Интегральная микросхема по п.1, в которой локальное устройство управления электропитанием содержит таблицу самокалибровки сконфигурированную для сохранения самых низких величин напряжения, определенных посредством модуля самокалибровки, и при этом локальное устройство управления в ответ на запрос по изменению рабочей частоты интегральной микросхемы сконфигурировано проверять таблицу самокалибровки для самой низкой величины напряжения, соответствующей рабочей частоте, и при этом локальное устройство управления в ответ на обнаружение, что самая низкая величина соответствующая рабочей частоте не сохранена в таблице самокалибровки, сконфигурировано для вызова модуля самокалибровки для выполнения теста на соответственно более низкой запрошенной величине напряжения питания до тех пор, пока тест не приведет к сбою определять самую низкую величину напряжения для рабочей частоты.
7. Интегральная микросхема по п.6, в которой локальное устройство управления электропитанием сконфигурировано для определения вызвать ли модуль самокалибровки в ответ на обнаружение, что самая низкая величина напряжения соответствующая рабочей частоте не сохранена в самокалибровочной таблице, и при этом локальное устройство управления сконфигурировано запрашивать величину напряжения питания, определенную во время заводской проверки интегральной микросхемы в ответ на определение не вызывать самокалибровочную таблицу.
8. Способ содержит: повторение теста логической схемы модулем самокалибровки при соответственно более низких запрошенных величинах напряжения питания для интегральной микросхемы, которая содержит логическую схему и модуль самокалибровки, до тех пор, пока тест не даст сбой; модуль самокалибровки, который определяет самую низкую запрошенную величину напряжения питания, при которой тест проходит успешно; модуль самокалибровки, который выбирает самую низкую запрошенную величину напряжения питания для генерирования требуемой величины напряжения питания для работы интегральной микросхемы, при этом, способ выполняется в ответ на различную рабочую нагрузку логической схемы.
9. Способ по п.8 дополнительно содержит считывание начальной запрошенной величины напряжения питания из статической таблицы, причем содержание статической таблицы определяется во время заводской проверки интегральной микросхемы.
10. Способ по п.8, в котором интегральная микросхема может работать на множестве тактовых частот, способ дополнительно содержит модуль самокалибровки, который повторяет определение, повторение и выбор для каждой из множества тактовых частот.
11. Способ по п.8, выполняемый в ответ на начальную загрузку устройства, которое включает в себя интегральную микросхему.
12. Способ по п.11, выполняемый в ответ на превышение возрастом интегральной микросхемы определенной величины.
13. Способ по п.8, дополнительно содержащий:
в ответ на запрос по изменению рабочей частоты интегральной микросхемы проверять таблицу самокалибровки для самой низкой величины напряжения, соответствующей рабочей частоте, при этом таблица самокалибровки сконфигурирована для сохранения самых низких величин напряжения, определенных посредством модуля самокалибровки; и
в ответ на определение, что самая низкая величина соответствующая рабочей частоте не сохранена в таблице самокалибровки, вызывать модуль самокалибровки для выполнения теста на соответственно более низкой запрошенной величине напряжения питания до тех пор, пока тест не приведет к сбою определять самую низкую величину напряжения для рабочей частоты.
14. Способ по п.13, дополнительно содержащий
определение вызывать ли модуль самокалибровки в ответ на обнаружение, что самая низкая величина напряжения соответствующая рабочей частоте не сохранена в самокалибровочной таблице, и при этом вызов является дополнительным ответом на определение вызвать самокалибровочный модуль; и
запрос величины напряжения питания, определенной во время заводской проверки интегральной микросхемы в ответ на определение не вызывать самокалибровочную таблицу.