СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНФИГУРИРОВАНИЯ НАБОРА ПАРАМЕТРОВ ТЕСТИРОВАНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ОПТИЧЕСКОГО ВРЕМЕННОГО РЕФЛЕКТОМЕТРА (OTDR)

1. Способ конфигурирования набора параметров тестирования с использованием оптического временного рефлектометра (OTDR), включающий:
получение, системой администрирования оптоволоконной сети (FMS), соответствующей информации об оптической распределительной сети (ODN) согласно результатам тестирования, возвращенным оптическим временным рефлектометром; и
конфигурирование, системой администрирования оптоволоконной сети, набора параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих тестов с использованием оптического временного рефлектометра, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что упомянутая соответствующая информация включает по меньшей мере одно из следующего:
длину магистрального сегмента, длину оконечного сегмента, потери в магистральном сегменте и потери, вносимые оптическим сплиттером.
3. Способ по п. 2, отличающийся тем, что необходимый набор параметров тестирования включает одно из следующего:
набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте, типовой набор параметров тестирования.
4. Способ по п. 3, отличающийся тем, что каждый набор из набора параметров для локализации отказа в магистральном сегменте, набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте и типового набора параметров тестирования включает минимальную длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования.
5. Способ по п. 4, отличающийся тем, что конфигурирование, системой FMS, набора параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает:
согласно потерям в магистральном сегменте, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
согласно длине магистрального сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и
согласно потерям в магистральном сегменте, определение и конфигурирование времени тестирования.
6. Способ по п. 4, отличающийся тем, что конфигурирование, системой FMS, набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает:
согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, определение теоретических расчетных потерь в отказавшем оконечном сегменте;
согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
согласно длине магистрального сегмента и длине оконечного сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и
согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, определение и конфигурирование времени тестирования.
7. Способ по п. 4, отличающийся тем, что конфигурирование, системой FMS, типового набора параметров тестирования, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает:
согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, определение теоретических расчетных потерь в сети ODN;
согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
согласно длине магистрального сегмента и длине оконечного сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и
согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, определение и конфигурирование времени тестирования.
8. Способ по п. 1, отличающийся тем, что после конфигурирования, системой FMS, набора параметров тестирования, необходимого для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией способ также включает:
коррекцию, системой FMS, необходимого набора параметров тестирования в соответствии с одним или более параметрами измерений, поддерживаемыми в текущий момент оптическим временным рефлектометром; и
конфигурирование, системой FMS, скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR.
9. Способ по любому из пп. 1-8, отличающийся тем, что после конфигурирования, системой FMS, скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR, способ также включает:
прием, системой FMS, результатов тестирования от оптического временного рефлектометра; и
инициирование выполнения, системой FMS, шага повторного получения соответствующей информации согласно результатам тестирования, и повторного конфигурирования набора параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.
10. Устройство для конфигурирования набора параметров тестирования с использованием оптического временного рефлектометра (OTDR), включающее:
компонент получения, сконфигурированный для получения соответствующей информации об оптической распределительной сети (ODN) согласно результатам тестирования с использованием оптического временного рефлектометра; и
компонент конфигурирования, сконфигурированный для конфигурирования набора параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих испытаний с использованием оптического временного рефлектометра, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.
11. Устройство по п. 10, отличающееся тем, что упомянутая соответствующая информация включает по меньшей мере одно из следующего:
длину магистрального сегмента, длину оконечного сегмента, потери в магистральном сегменте и потери, вносимые оптическим сплиттером.
12. Устройство по п. 11, отличающееся тем, что необходимый набор параметров тестирования включает одно из следующего:
набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте, типовой набор параметров тестирования.
13. Устройство по п. 12, отличающееся тем, что каждый набор из набора параметров для локализации отказа в магистральном сегменте, набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте и типового набора параметров тестирования включает минимальную длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования.
14. Устройство по п. 13, в котором компонент конфигурирования включает:
первый элемент определения, сконфигурированный для определения, согласно потерям в магистральном сегменте, динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
первый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
второй элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования интервала тестирования согласно длине магистрального сегмента; и
третий элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования времени тестирования согласно потерям в магистральном сегменте.
15. Устройство по п. 13, в котором компонент конфигурирования включает:
второй элемент определения, сконфигурированный для определения теоретических расчетных потерь в отказавшем оконечном сегменте согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером;
третий элемент определения, сконфигурированный для определения, согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
четвертый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
пятый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования интервала тестирования согласно длине оконечного сегмента; и
шестой элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования времени тестирования согласно теоретическим вычисленным потерям в отказавшем оконечном сегменте.
16. Устройство по п. 13, в котором компонент конфигурирования включает:
четвертый элемент определения, сконфигурированный для определения теоретических расчетных потерь в сети ODN согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером;
пятый элемент определения, сконфигурированный для определения, согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
седьмой элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
восьмой элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования интервала тестирования согласно длине магистрального сегмента и длине оконечного сегмента; и
девятый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования времени тестирования согласно теоретическим вычисленным потерям в сети ODN.
17. Устройство по любому из пп. 10-16, включающее также компонент коррекции, сконфигурированный для коррекции необходимого набора параметров тестирования в соответствии с параметром измерений, поддерживаемым в текущий момент оптическим временным рефлектометром;
при этом компонент конфигурирования сконфигурирован также для конфигурирования скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR.