УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКОГО ЗНАКА ОПТИЧЕСКИ АКТИВНОГО КРИСТАЛЛА

Полезная модель относится к области оптического приборостроения, в частности, к приборам на основе оптической активности кристаллов: вращателям оптического излучения, используемым для кодирования и декодирования оптических изображений и сигналов; приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от положения плоскости поляризации излучения.
Общеизвестно, что оптически активные кристаллы имеют две модификации - правую и левую. При этом удельные вращения обеих модификаций оптически активных кристаллов по величине равны между собой и отличаются знаком вращения. Правовращающий оптически активный кристалл вращает плоскость поляризации излучения по часовой стрелке (направо), а левовращающий оптически активный кристалл - против часовой стрелки (налево).
Кроме того, кристаллы обеих модификаций характеризуются оптическим знаком. В кристаллах с положительным оптическим знаком скорость распространения обыкновенных лучей больше, чем необыкновенных, а в кристаллах с отрицательным оптическим знаком скорость распространения обыкновенных лучей меньше, чем необыкновенных.
Определение оптического знака оптически активных кристаллов основано на измерении и визуальном сравнении различных оптических параметров.
Достоверность определения оптического знака кристалла зависит от оптических характеристик кристалла (ориентации, оптической активности, знака вращения плоскости поляризации излучения, величины двулучепреломления и толщины кристалла), которые влияют на вид интерференционной (коноскопической) картины.
Одна из проблем определения оптического знака оптически активного кристалла заключается в необходимости снижения негативного влияния его оптических характеристик, влияющих на достоверность определения оптического знака любых оптически активных кристаллов.
Известно устройство для определения оптического знака кристалла, основанное на изменении коноскопической картины исследуемой кристаллической пластинки, по которой судят о ее знаке [Меланхолии, Н.М. Методы исследования оптических свойств кристаллов / Н.М. Меланхолии. - М.: Наука, 1970. 155 с].
Устройство для определения оптического знака кристалла представляет собой оптическую систему, которая содержит последовательно расположенные источник монохроматического излучения, рассеиватель, поляризатор, компенсатор с возможностью перемещения перпендикулярно оси системы, анализатор и экран, установленные перпендикулярно оси оптической системы.
Оси пропускания поляризатора и анализатора взаимно перпендикулярны.
Компенсатор представляет собой кварцевый клин, оптическая ось которого расположена в плоскости входной грани и перпендикулярна длинной стороне вышеупомянутого клина. Кварцевый клин установлен с возможностью его перемещения тонким концом в направлении, перпендикулярном оси оптической системы.
Для исследования выбрана кристаллическая пластинка из оптически неактивного или оптически активного кристалла с любым знаком вращения плоскости поляризации излучения с перпендикулярным расположением оптической оси относительно ее входной грани.
Оптический знак кристаллической пластинки определяется по виду коноскопической картины, получаемой на экране, в результате интерференции лучей, проходящих через упомянутое устройство.
Работа устройства для определения оптического знака кристаллической пластинки заключается в следующем.
Исследуемая кристаллическая пластинка устанавливается между поляризатором и анализатором. При этом оптическая ось исследуемой кристаллической пластинки сонаправлена с осью оптической системы, компенсатор находится вне оптической системы.
Монохроматическое излучение пропускается через рассеиватель, и далее сходящееся монохроматическое излучение пропускается вдоль оси оптической системы через поляризатор. В поляризаторе сходящееся монохроматическое излучение преобразуется в сходящееся монохроматическое линейно поляризованное излучение. Попадая на кристаллическую пластинку, вышеупомянутое излучение разбивается в каждом направлении (кроме направления оси оптической системы) на два луча - обыкновенный и необыкновенный, которые приобретают на выходе из исследуемой кристаллической пластинки фазовый сдвиг. В целом излучение после кристаллической пластинки содержит лучи с различными фазовыми сдвигами.
Далее излучение с различными фазовыми сдвигами преобразуется анализатором в линейно поляризованное с направлением вектора E, параллельным оси пропускания анализатора.
В результате в зависимости от оптической активности исследуемой кристаллической пластинки на экране получается определенная коноскопическая картина.
Коноскопическую картину в виде системы концентрических черных и светлых колец-изохром, пересеченных черным «мальтийским крестом», со сторонами, совпадающими с осями пропускания поляризатора и анализатора и делящими поле картины на четыре квадранта, дает оптически неактивная кристаллическая пластинка.
Коноскопическую картину в виде системы концентрических черных и светлых колец-изохром со светлым пятном в центре картины, пересеченных черным «мальтийским крестом» в периферическом поле картины, со сторонами, совпадающими с осями пропускания поляризатора и анализатора и делящими периферическое поле картины на четыре квадранта, дает оптически активная кристаллическая пластинка.
Таким образом, статическая коноскопическая картина позволяет определить наличие оптической активности кристаллической пластинки.
Для определения оптического знака кристаллической пластинки компенсатор-кварцевый клин перемещается перпендикулярно оси оптической системы, что приводит к изменению фазового сдвига между обыкновенным и необыкновенным лучами в каждом направлении сходящегося излучения после кристаллической пластинки. Изменение фазового сдвига приводит к смещению колец-изохром в соответствующих квадрантах коноскопической картины на фоне ряби, что является результатом наложения коноскопической картины любой исследуемой кристаллической пластинки и изменяющейся при перемещении коноскопической картины компенсатора.
Направление смещения колец-изохром свидетельствует об оптическом знаке исследуемой кристаллической пластинки.
Одновременное смещение колец-изохром в коноскопической картине, происходящее от самого центра к периферии в горизонтальных квадрантах и смещение колец-изохром, происходящее от периферии к самому центру в вертикальных квадрантах, свидетельствует о положительном оптическом знаке исследуемой оптически неактивной кристаллической пластинки любой толщины.
Одновременное смещение колец-изохром в коноскопической картине, происходящее от периферии к самому центру в горизонтальных квадрантах, и смещение колец-изохром от самого центра к периферии в вертикальных квадрантах, свидетельствует об отрицательном оптическом знаке исследуемой оптически неактивной кристаллической пластинки любой толщины.
В оптически активной кристаллической пластинке любой толщины кольца-изохромы находятся только на периферии коноскопической картины, поле которой затемнено и покрыто рябью от перемещаемого компенсатора, поэтому определить смещение колец-изохром затруднительно. Практически ненаблюдаемое смещение колец-изохром в коноскопической картине подтверждает оптическую активность кристаллической пластинки любой толщины без определения ее оптического знака.
Достоинством известного устройства является, во-первых, определение оптической активности кристаллической пластинки любой толщины.
Это обусловлено тем, что оптически активная кристаллическая пластинка любой толщины благодаря пропусканию излучения за счет влияния оптической активности через анализатор дает коноскопическую картину в виде светлого пятна в центре с кольцами-изохромами на периферической затемненной области с рябью, пересеченными черным «мальтийского крестом» со сторонами, совпадающими с осями пропускания поляризатора и анализатора и делящими периферическое поле картины на четыре квадранта. Именно появление светлого пятна без черного «мальтийского креста» в центре коноскопической картины свидетельствует об оптической активности кристаллической пластинки любой толщины.
Во-вторых, известное устройство позволяет определить оптический знак оптически неактивных кристаллических пластинок любой толщины за счет внесения компенсатором дополнительного фазового сдвига между обыкновенным и необыкновенным лучами, приводящего к смещению колец-изохром в коноскопической картине в зависимости от оптического знака кристаллической пластинки.
Недостатком известного устройства является ограничение функциональных возможностей, позволяющее определить оптический знак только оптически неактивной кристаллической пластинки любой толщины без возможности определения оптического знака оптически активной кристаллической пластинки.
Это обусловлено тем, что в коноскопической картине оптически активной кристаллической пластинки смещение колец-изохром происходит в затемненной области с рябью, что не позволяет увидеть направление смещения колец-изохром и определить оптический знак оптически активной кристаллической пластинки.
Наиболее близким к заявляемому решению по совокупности существенных признаков и достигаемому результату является устройство для определения оптического знака кристалла, основанное на изменении коноскопической картины исследуемой кристаллической пластинки, по которой судят о ее оптическом знаке [Патент РФ 2319942. МПК G01M 11/02, G02B 26/06. Устройство для определения оптического знака кристалла [Текст] / Пикуль О.Ю.; заявитель и патентообладатель ДВГУПС (RU) - №2006114978. Заявл. 02.05.2006. Опубл. 20.03.2008. Бюл. №8. - 16 с: 2 ил.].
Устройство для определения оптического знака кристалла представляет собой оптическую систему, которая содержит последовательно расположенные источник монохроматического излучения, поляризатор, компенсатор, рассеиватель, анализатор и экран, установленные перпендикулярно оси оптической системы.
Оси пропускания поляризатора и анализатора ориентированы во взаимно перпендикулярных направлениях.
Компенсатор представляет собой плоскопараллельную пластинку произвольной толщины d из кристалла с любым известным оптическим знаком, например, с положительным оптическим знаком, и с любым расположением оптической оси относительно ее входной грани, например, с параллельным расположением оптической оси. Оптическая ось компенсатора расположена в плоскости входной грани, и совпадает с вертикальной кристаллофизической осью пластинки. Оптическая ось компенсатора составляет угол 45° с осью пропускания поляризатора.
Компенсатор установлен с возможностью поворота вокруг его вертикальной кристаллофизической оси.
Для исследования выбрана кристаллическая пластинка из оптически неактивного или оптически активного кристалла с любым знаком вращения плоскости поляризации излучения с перпендикулярным расположением оптической оси относительно ее входной грани.
Оптический знак кристаллической пластинки определяется по виду коноскопической картины, получаемой на экране, в результате интерференции лучей, проходящих через упомянутое устройство.
Работа устройства для определения оптического знака кристаллической пластинки заключается в следующем.
В устройстве для определения оптического знака исследуемая кристаллическая пластинка устанавливается между рассеивателем и анализатором. При этом оптическая ось исследуемой кристаллической пластинки сонаправлена с осью оптической системы.
Параллельное монохроматическое излучение пропускается вдоль оси оптической системы через поляризатор, который преобразует излучение в параллельное монохроматическое линейно поляризованное излучение с направлением вектора Е под углом 45° к осям компенсатора. Преобразованное излучение подается на компенсатор, в котором разбивается на два луча - обыкновенный и необыкновенный, которые на выходе из компенсатора приобретают фазовый сдвиг .
Далее излучение падает на рассеиватель, после которого оно становится сходящимся, представляющим собой конус лучей с фазовым сдвигом . Обыкновенный и необыкновенный лучи этого излучения, двигаясь с разными скоростями в каждом направлении, приобретают дополнительный фазовый сдвиг . В целом сходящееся излучение после исследуемой кристаллической пластинки содержит лучи с различными фазовыми сдвигами, а после анализатора становится линейно поляризованным с направлением вектора E, параллельным оси пропускания анализатора.
На экране в зависимости от оптической активности исследуемой кристаллической пластинки получается определенная коноскопическая картина.
Оптически неактивная кристаллическая пластинка дает коноскопическую картину в виде системы концентрических черных и светлых колец-изохром, расположенных от самого центра картины и пересеченных черным «мальтийским крестом», со сторонами, совпадающими с осями пропускания поляризатора и анализатора и делящими поле картины на четыре квадранта.
Оптически активная кристаллическая пластинка дает коноскопическую картину в виде светлого пятна в центре и системы концентрических черных и светлых колец-изохром, расположенных только на периферии и пересеченных черным «мальтийским крестом» в периферическом поле картины, со сторонами, совпадающими с осями пропускания поляризатора и анализатора и делящими периферическое поле картины на четыре квадранта.
Таким образом, статическая коноскопическая картина позволяет определить наличие оптической активности кристаллической пластинки любой толщины.
Для определения оптического знака осуществляется поворот компенсатора вокруг своей вертикальной оптической оси.
При повороте компенсатора происходит непрерывное увеличение фазового сдвига параллельного излучения на выходе из компенсатора.
Параллельное излучение с непрерывно меняющимся фазовым сдвигом  после рассеивателя становится сходящимся и представляет собой конус лучей с фазовым сдвигом .
Обыкновенный и необыкновенный лучи этого излучения, двигаясь с разными скоростями в каждом направлении, приобретают дополнительный фазовый сдвиг.
Величина фазового сдвига  зависит от угла падения луча а в сходящемся пучке на входную грань исследуемой кристаллической пластинки и определяется длиной оптического пути d/cos α.
В целом сходящееся излучение после исследуемой кристаллической пластинки содержит лучи с различными фазовыми сдвигами. Общий фазовый сдвиг для данного угла падения луча на выходе из кристаллической пластинки  зависит от непрерывно изменяющегося значения  и постоянной величины
При этом в коноскопической картине наблюдается непрерывное смещение изохром исследуемой кристаллической пластинки.
При совпадении оптических знаков исследуемой пластинки и компенсатора в двух горизонтальных квадрантах происходит уменьшение фазовых сдвигов обыкновенного и необыкновенного лучей. Общий фазовый сдвиг равен . В другой паре противоположных квадрантов происходит увеличение фазовых сдвигов обыкновенного и необыкновенного лучей. Общий фазовый сдвиг, возникающий в результате прохождения излучения через компенсатор и пластинку, равен сумме фазовых сдвигов
Изменение фазового сдвига приводит к смещению колец-изохром в соответствующих квадрантах коноскопической картины. Знак исследуемой кристаллической пластинки определяется по направлению смещения колец-изохром.
Одновременное смещение колец-изохром в коноскопической картине, происходящее от самого центра к периферии в горизонтальных квадрантах и смещение колец-изохром, происходящее от периферии к самому центру в вертикальных квадрантах, свидетельствует о положительном оптическом знаке исследуемой оптически неактивной кристаллической пластинки любой толщины.
При несовпадении оптических знаков исследуемой пластинки и компенсатора в двух горизонтальных квадрантах происходит увеличение фазовых сдвигов обыкновенного и необыкновенного лучей. Общий фазовый сдвиг , возникающий в результате прохождения излучения через компенсатор и пластинку, равен сумме фазовых сдвигов . В двух вертикальных квадрантах происходит уменьшение фазовых сдвигов обыкновенного и необыкновенного лучей. Общий фазовый сдвиг равен . Изменение фазового сдвига приводит к смещению колец-изохром в соответствующих квадрантах коноскопической картины.
Знак исследуемой кристаллической пластинки определяется по направлению смещения колец-изохром.
Одновременное смещение колец-изохром в коноскопической картине, происходящее от периферии к самому центру в горизонтальных квадрантах, и смещение колец-изохром от самого центра к периферии в вертикальных квадрантах, свидетельствует об отрицательном оптическом знаке исследуемой оптически неактивной кристаллической пластинки любой толщины.
В коноскопической картине оптически активной кристаллической пластинки наблюдается следующее.
Коноскопическая картина толстой оптически активной кристаллической пластинки представляет собой светлое пятно в центре, окруженное большим количеством видимых и затемненных колец-изохром, пересеченных черным «мальтийским крестом» со сторонами, совпадающими с осями пропускания поляризатора и анализатора и делящими периферическое поле картины на четыре квадранта.
Одновременное смещение колец-изохром в коноскопической картине от центра к периферии в горизонтальных квадрантах и смещение колец-изохром от периферии к центру в вертикальных квадрантах свидетельствует о положительном оптическом знаке толстой оптически активной кристаллической пластинки.
Одновременное смещение колец-изохром в коноскопической картине, от периферии к центру в горизонтальных квадрантах, и смещение колец-изохром от центра к периферии в вертикальных квадрантах, свидетельствует об отрицательном оптическом знаке толстой оптически активной кристаллической пластинки.
Коноскопическая картина тонкой оптически активной кристаллической пластинки представляет собой светлое пятно, занимающее подавляющую часть поля зрения, окруженное небольшим количеством затемненных колец-изохром на периферии, пересеченных черным «мальтийским крестом» со сторонами, совпадающими с осями пропускания поляризатора и анализатора и делящими периферическое поле картины на четыре квадранта.
Происходящее в затемненной области поля зрения смещение затемненных колец-изохром в коноскопической картине увидеть и определить оптический знак тонкой оптически активной кристаллической пластинки не представляется возможным.
Достоинство известного устройства заключается в расширении функциональных возможностей, позволяющих определить оптический знак любых оптически неактивных кристаллических пластинок и оптический знак толстых оптически активных кристаллических пластинок за счет получения четкой коноскопической картины, позволяющей вести наблюдение смещения колец-изохром, определяющего оптический знак кристаллической пластинки.
Недостатком известного устройства является ограничение функциональных возможностей, позволяющее определить оптический знак только толстой оптически активной кристаллической пластинки без возможности определения оптического знака тонкой оптически активной кристаллической пластинки. Это обусловлено тем, что в тонких оптически активных кристаллических пластинках наблюдение смещения колец-изохром происходит в затемненной области, что затрудняет наблюдение смещения колец-изохром и делает невозможным определение оптического знака тонкой оптически активной кристаллической пластинки.
Задача, решаемая полезной моделью, заключается в разработке устройства для определения оптического знака оптически активного кристалла, расширяющего функциональные возможности за счет обеспечения возможности определения оптического знака тонкой оптически активной кристаллической пластинки.
Устройство для определения оптического знака оптически активного кристалла в виде кристаллической пластинки из оптически активного кристалла с любым знаком вращения плоскости поляризации излучения с перпендикулярным расположением оптической оси относительно ее входной грани, представляющее собой оптическую систему, содержащую последовательно расположенные источник монохроматического излучения, поляризатор, компенсатор, рассеиватель, анализатор и экран, установленные перпендикулярно оси оптической системы, при этом оси пропускания поляризатора и анализатора ориентированы во взаимно перпендикулярных направлениях, компенсатор выполнен в виде плоскопараллельной пластинки из кристалла с положительным оптическим знаком, с оптической осью в плоскости входной грани, совпадающей с вертикальной кристаллофизической осью пластинки и составляющей угол 45° с осью пропускания поляризатора, в которой в качестве компенсатора использована фазовая пластинка λ/4.
Устройство для определения оптического знака кристалла, в котором коноскопическая картина в виде спиралевидных изохром, закрученных по часовой стрелке, и с началами спиралей в первом и третьем квадрантах коноскопической картины характеризует правовращающий оптически активный кристалл любой толщины с оптическим знаком, совпадающим с оптическим знаком компенсатора, коноскопическая картина в виде спиралевидных изохром, закрученных по часовой стрелке, и с началами спиралей во втором и четвертом квадрантах коноскопической картины характеризует правовращающий оптически активный кристалл любой толщины с оптическим знаком, не совпадающим с оптическим знаком компенсатора, коноскопическая картина в виде спиралевидных изохром, закрученных против часовой стрелки, и с началами спиралей во втором и четвертом квадрантах коноскопической картины характеризует левовращающий оптически активный кристалл любой толщины с оптическим знаком, совпадающим с оптическим знаком компенсатора, коноскопическая картина в виде спиралевидных изохром, закрученных против часовой стрелки, и с началами спиралей в первом и третьем квадрантах коноскопической картины характеризует левовращающий оптически активный кристалл любой толщины с оптическим знаком, не совпадающим с оптическим знаком компенсатора.
Совокупность существенных признаков заявляемого решения отличается от совокупности существенных признаков известного прототипа выбором в качестве компенсатора фазовой пластинки λ/4.
Выбор в оптической системе в качестве компенсатора фазовой пластинки λ/4 позволяет получить четкую коноскопическую картину, позволяющую определить знак как толстой оптически активной кристаллической пластинки, так и тонкой оптически активной кристаллической пластинки, что расширяет функциональные возможности использования заявляемого устройства.
Наличие существенного отличительного признака свидетельствует о соответствии заявляемого решения критерию патентоспособности полезной модели «новизна».
На фигурах представлены графические материалы, иллюстрирующие работоспособность и «промышленную применимость» устройства для определения оптического знака оптически активного кристалла.
На фиг. 1 представлена схема устройства для определения оптического знака оптически активного кристалла.
На фиг. 2 приведена таблица коноскопических картин для различных исследуемых оптически активных кристаллов.
Устройство для определения оптического знака оптически активного кристалла представляет собой оптическую систему, которая содержит последовательно расположенные источник монохроматического излучения 1, поляризатор 2, компенсатор 3, рассеиватель 4, анализатор 5 и экран 6, установленные перпендикулярно оси оптической системы.
Оси пропускания поляризатора 2 и анализатора 5 ориентированы во взаимно перпендикулярных направлениях.
Компенсатор 3 представляет собой фазовую пластинку λ/4, выполненную из кристалла с положительным оптическим знаком и с параллельным расположением оптической оси относительно ее входной грани. Оптическая ось компенсатора 3 расположена в плоскости входной грани, и совпадает с вертикальной кристаллофизической осью пластинки. Оптическая ось компенсатора 3 составляет угол 45° с осью пропускания поляризатора 2.
В качестве исследуемого оптически активного кристалла выбрана кристаллическая пластинка 7, выполненная из оптически активного кристалла с известным знаком вращения и с перпендикулярным расположением оптической оси относительно ее входной грани любой толщины. Для исследования кристаллическая пластинка 7 установлена между рассеивателем и анализатором оптической системы. При этом оптическая ось исследуемой кристаллической пластинки 7 сонаправлена с осью оптической системы.
Оптический знак оптически активного кристалла определяется по виду коноскопической картины, получаемой на экране 6, в результате интерференции лучей, проходящих через упомянутое устройство.
Работа устройства для определения оптического знака оптически активного кристалла заключается в следующем.
Параллельное монохроматическое излучение от источника излучения 1 пропускается вдоль оси оптической системы через поляризатор 2, который преобразует излучение в параллельное монохроматическое линейно поляризованное излучение с направлением вектора E под углом 45° к осям компенсатора 3.
Преобразованное излучение подается на компенсатор 3, в котором разбивается на два луча - обыкновенный и необыкновенный, которые на выходе из компенсатора 3 приобретают фазовый сдвиг, эквивалентный фазовому сдвигу . Далее, падая на рассеиватель 4, такое излучение становится сходящимся, представляющим собой конус лучей с фазовым сдвигом . Обыкновенный и необыкновенный лучи этого излучения, двигаясь с разными скоростями в каждом направлении, приобретают дополнительный фазовый сдвиг . В целом сходящееся излучение после исследуемой кристаллической пластинки 7 содержит лучи с различными фазовыми сдвигами, а после анализатора 5 становится линейно поляризованным с направлением вектора E, параллельным оси пропускания анализатора 5.
Такое излучение проявляется на экране 6 в виде коноскопической картины, представляющей собой светлое пятно в центре, окруженное двумя вложенными друг в друга спиралевидными изохромами с началами спиралей в центральной части картины.
Коноскопическая картина исследуемой правовращающей оптически активной кристаллической пластинки 7 любой толщины - как толстой, так и тонкой, со спиралевидными изохромами, закрученными по часовой стрелке, и с началами спиралей в первом и третьем квадрантах коноскопической картины характеризует правовращающий оптически активный кристалл с оптическим знаком, совпадающим с оптическим знаком компенсатора. Следовательно, правовращающий оптически активный кристалл имеет положительный оптический знак.
Коноскопическая картина исследуемой правовращающей оптически активной кристаллической пластинки любой толщины - как толстой, так и тонкой, со спиралевидными изохромами, закрученными по часовой стрелке, и с началами спиралей во втором и четвертом квадрантах коноскопической картины характеризует правовращающий оптически активный кристалл с оптическим знаком, не совпадающим с оптическим знаком компенсатора. Следовательно, правовращающий оптически активной кристалл имеет отрицательный оптический знак.
Коноскопическая картина исследуемой левовращающей оптически активной кристаллической пластинки любой толщины - как толстой, так и тонкой, со спиралевидными изохромами, закрученными против часовой стрелки, и с началами спиралей во втором и четвертом квадрантах коноскопической картины характеризует левовращающий оптически активный кристалл с оптическим знаком, совпадающим с оптическим знаком компенсатора. Следовательно, левовращающий оптически активный кристалл имеет положительный оптический знак.
Коноскопическая картина исследуемой левовращающей оптически активной кристаллической пластинки любой толщины - как толстой, так и тонкой, со спиралевидными изохромами, закрученными против часовой стрелки, и с началами спиралей в первом и третьем квадрантах коноскопической картины характеризует левовращающий оптически активный кристалл с оптическим знаком, не совпадающим с оптическим знаком компенсатора. Следовательно, левовращающий оптически активный кристалл имеет отрицательный оптический знак.
Экспериментальные исследования по определению оптического знака оптически активного кристалла проведены в научно-исследовательской лаборатории оптики на кафедре «Физика и теоретическая механика» ДВГУПС. При проведении эксперимента в оптической системе в качестве источника излучения использовано излучение He-Ne лазера с длиной волны 0,6328 мкм, в качестве поляризатора -поляроид ПФ36, в качестве рассеивателя - матовая стеклянная пластинка. В качестве компенсатора использована кварцевая фазовая пластинка λ/4 толщиной 3 мм, в качестве анализатора - поляроид ПФ36.
В примерах 1-8 оптический знак исследуемых оптически активных кристаллов определен с использованием заявляемого устройства, в примерах 9-16 оптический знак исследуемых оптически активных кристаллов - с использованием устройства-прототипа.
Результаты эксперимента зафиксированы цифровой фотокамерой «Practica».
2
Пример 1. Исследуется правовращающая оптически активная кристаллическая пластинка с известным положительным оптическим знаком, выполненная из кристалла парателлурита TeO толщиной 7,0 мм в направлении оптической оси. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
2
Пример 2. Исследуется правовращающая оптически активная кристаллическая пластинка с известным положительным оптическим знаком, выполненная из кристалла парателлурита TeO толщиной 0,5 мм в направлении оптической оси. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
3
Пример 3. Исследуется правовращающая оптически активная кристаллическая пластинка с известным положительным оптическим знаком, выполненная из кристалла иодата лития LiJO толщиной 3,1 мм в направлении оптической оси. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
3
Пример 4. Исследуется правовращающая оптически активная кристаллическая пластинка с известным положительным оптическим знаком, выполненная из кристалла парателлурита иодата лития LiJO толщиной 1,0 мм в направлении оптической оси. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
2
Пример 5. Исследуется левовращающая оптически активная кристаллическая пластинка с известным положительным оптическим знаком, выполненная из кристалла парателлурита TeO толщиной 3,0 мм в направлении оптической оси. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
2
Пример 6. Исследуется левовращающая оптически активная кристаллическая пластинка с известным положительным оптическим знаком, выполненная из кристалла парателлурита TeO толщиной 1,2 мм в направлении оптической оси. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
3
Пример 7. Исследуется левовращающая оптически активная кристаллическая пластинка с известным положительным оптическим знаком, выполненная из кристалла парателлурита иодата лития LiJO толщиной 3,8 мм в направлении оптической оси. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
3
Пример 8. Исследуется левовращающая оптически активная кристаллическая пластинка с известным положительным оптическим знаком, выполненная из кристалла парателлурита иодата лития LiJO толщиной 0,3 мм в направлении оптической оси. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
Пример 9. Исследуется кристаллическая пластинка, как в примере 1. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
Пример 10. Исследуется кристаллическая пластинка, как в примере 2. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
Пример 11. Исследуется кристаллическая пластинка, как в примере 3. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
Пример 12. Исследуется кристаллическая пластинка, как в примере 4. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
Пример 13. Исследуется кристаллическая пластинка, как в примере 5. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
Пример 14. Исследуется кристаллическая пластинка, как в примере 6. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
Пример 15. Исследуется кристаллическая пластинка, как в примере 7. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
Пример 16. Исследуется кристаллическая пластинка, как в примере 8. Коноскопическая картина представлена в таблице коноскопических картин исследуемых оптически активных кристаллических пластинок.
Использование заявляемого устройства для определения оптического знака оптически активного кристалла расширяет функциональные возможности исследования кристаллических пластинок за счет определения оптического знака оптически активных кристаллических пластинок любой толщины.