Статистическое тестирование генераторов псевдослучайных чисел с использованием набора статистических тестов NIST STS

Применение математической модели в виде трапецеидальной аппроксимации формы ОИ впервые позволило получить оценочные аналитические выражения для оценки влияние полосы пропускания ФЭД и уровня амплитудной дискриминации на достоверность регистрации слабых световых потоков. Однако при выводе этих соотношений принималось, что флуктуации формы и амплитуды ОИ отсутствуют.

БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК

1. Румянцев К.Е. Одноэлектронные регистраторы световых сигналов: Учебное пособие. Таганрог: ТРТИ, 1991.

УДК 681.3.06

С.В. Поликарпов

СТАТИСТИЧЕСКОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ГЕНЕРАТОРОВ ПСЕВДОСЛУЧАЙНЫХ ЧИСЕЛ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ НАБОРА СТАТИСТИЧЕСКИХ ТЕСТОВ NIST STS

Генераторы случайных (СЧ) и псевдослучайных чисел (ПСЧ) являются важным элементом большинства алгоритмов защиты информации. Поэтому к данным генераторам предъявляются жёсткие требования на качество (случайность) выра-.

Для стандартизации требований к генераторам СЧ и ПСЧ Национальным институтом стандартов и технологий США (NIST) был разработан набор статистических тестов NIST STS [1], включающий в себя последние разработки в области

( ).

189 ,

«неслучайностей» в анализируемой последовательности битов. Результатом каждого теста является значение вероятности в диапазоне [0; 1), отражающее насколько

« ». -

ния правильных результатов, при помощи исследуемого генератора СЧ или ПСЧ

100 -тельностей длиной не менее 106 бит. Результатом выполнения NIST STS является отчёт, содержащий статистический портрет (матрицу вероятностей) исследуемого генератора СЧ или ПСЧ.

Использование большого количества тестов (189) отражает тот факт, что до настоящего времени ещё не создан алгоритм, позволяющий с достаточной точностью определить «случайность» последовательности битов.

БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК

1. A statistical test suite for random and pseudorandom number generators for cryptographic applications. NIST Special Publication 800-22. May 15, 2001.