СПОСОБ И СИСТЕМА ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕСТОПОЛОЖЕНИЯ АРТЕФАКТОВ И/ИЛИ ВКЛЮЧЕНИЙ В ДРАГОЦЕННОМ КАМНЕ, МИНЕРАЛЕ ИЛИ ИХ ОБРАЗЦЕ

1. Способ определения местоположения артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце, содержащий этапы, на которых:
составляют карту поверхности драгоценного камня, минерала или их образца, чтобы определить рельеф поверхности, связанный по меньшей мере с участком поверхности драгоценного камня, минерала или их образца;
составляют подповерхностную карту драгоценного камня, минерала или его образца с использованием оптического луча, направленного на поверхность вдоль траектории оптического луча, причем оптический луч генерируют посредством оптического источника с использованием метода оптической томографии;
определяют нормаль поверхности на поверхности в точке пересечения траектории оптического луча с указанным определенным рельефом поверхности;
определяют относительное позиционирование между нормалью поверхности и траекторией оптического луча; и
определяют местоположение артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце на основе этапа составления подповерхностной карты и определенного относительного позиционирования.
2. Способ по п. 1, в котором на основе определенного относительного позиционирования, во время составления подповерхностной карты драгоценного камня, минерала или их образца указанные драгоценный камень, минерал или их образец и оптический луч перемещают друг относительно друга, с тем чтобы траектория оптического луча оказалась практически выровненной с нормалью поверхности в точке, где траектория оптического луча пересекает поверхность.
3. Способ по п. 1 или 2, в котором этап определения местоположения артефактов и/или включений содержит этапы, на которых генерируют исходный набор трехмерных координат артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце на основе начальной подповерхностной карты драгоценного камня, минерала или их образца и изменяют исходные трехмерные координаты на основе определенного относительного позиционирования, чтобы создать измененные трехмерные координаты артефактов и/или включений.
4. Способ по п. 3, в котором на этапе изменения определяют угол падения, который является углом между траекторией оптического луча и нормалью поверхности, и изменяют исходные трехмерные координаты на основе угла падения и одного или более параметров преломления, связанных с траекторией оптического луча и указанным драгоценным камнем, минералом или их образцом.
5. Способ по п. 1, в котором этап составления карты поверхности и этап составления подповерхностной карты выполняют одновременно как один этап составления карты.
6. Способ по п. 1, в котором этап составления карты поверхности выполняют до или после этапа составления подповерхностной карты.
7. Способ по п. 1, в котором на этапе составления карты поверхности определяют рельеф поверхности с использованием по меньшей мере одного из следующих методов: рентгеновская компьютерная томография, оптическая когерентная томография, лазерное сканирование и структурированное освещение.
8. Способ по п. 1, в котором на этапе составления подповерхностной карты применяют оптическую когерентную томографию и/или оптическую проекционную томографию.
9. Способ по п. 1, содержащий этап, на котором уточняют установленное местоположение артефактов и/или включений на основе согласованности результатов составления подповерхностной карты, полученных под разными углами обзора или в разных точках пересечения поверхности драгоценного камня, минерала или их образца.
10. Способ по п. 1, в котором этап определения местоположения содержит этапы определения трехмерных координат местоположения артефактов и/или включений и генерации трехмерной карты на основе определенных трехмерных координат.
11. Способ по п. 1, в котором артефакты представляют собой визуальные артефакты.
12. Система для определения местоположения артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце, содержащая:
устройство для составления карты поверхности, выполненное с возможностью составлять карту драгоценного камня, минерала или их образца, чтобы определить рельеф поверхности, связанный по меньшей мере с участком поверхности указанного драгоценного камня, минерала или их образца;
устройство для составления подповерхностной карты, выполненное с возможностью составления подповерхностной карты драгоценного камня, минерала или его образца с использованием оптического луча, направляемого на поверхность вдоль траектории оптического луча, причем оптический луч генерируется оптическим источником с использованием метода оптической томографии;
вычислительную систему, выполненную с возможностью определения нормали поверхности на поверхности в точке пересечения траектории оптического луча с установленным рельефом поверхности, определения относительного позиционирования между нормалью поверхности и траекторией оптического луча и определения местоположения артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце на основе этапа составления подповерхностной карты и установленного относительного позиционирования.
13. Система по п. 12, которая выполнена с возможностью, исходя из установленного относительного позиционирования, во время составления подповерхностной карты драгоценного камня, минерала или их образца, перемещать друг относительно друга драгоценный камень, минерал или их образец и оптический луч, так чтобы траектория оптического луча оказалась практически выровненной с нормалью поверхности в точке, где траектория оптического луча пересекает поверхность.
14. Система по п. 12 или 13, которая выполнена с возможностью определения местоположение артефактов и/или включений путем генерации исходного набора трехмерных координат артефактов и/или включений в драгоценном камне, минерале или их образце на основе начальной подповерхностной карты драгоценного камня, минерала или их образца и изменения исходных трехмерных координат на основе установленного относительного позиционирования, чтобы создать измененные трехмерные координаты артефактов и/или включений.
15. Система по п. 14, которая выполнена с возможностью изменения исходных трехмерных координат путем определения угла падения, который является углом между траекторией оптического луча и нормалью поверхности, и изменения исходных трехмерных координат на основе угла падения и одного или более параметров преломления, связанных с траекторией оптического луча и указанным драгоценным камнем, минералом или их образцом.
16. Система по п. 12, которая выполнена с возможностью выполнять этап составления карты поверхности и этап составления подповерхностной карты одновременно как один этап составления карты.
17. Система по п. 12, которая выполнена с возможностью выполнять этап составления карты поверхности до или после этапа составления подповерхностной карты.
18. Система по п. 12, в которой устройство для составления карты поверхности выполнено с возможностью определять рельеф поверхности с использованием по меньшей мере одного из следующих методов: рентгеновская компьютерная томография, оптическая когерентная томография, лазерное сканирование и структурированное освещение.
19. Система по п. 12, в которой устройство для составления подповерхностной карты выполнено с возможностью составлять подповерхностную карту с применением оптической когерентной томографии и/или оптической проекционной томографии.
20. Система по п. 12, в которой компьютерная система выполнена с возможностью уточнять определенное местоположение артефактов и/или включений на основе согласованности результатов составления подповерхностной карты, полученных под разными углами обзора или в разных точках пересечения поверхности драгоценного камня, минерала или их образца.
21. Система по п. 12, в которой компьютерная система выполнена с возможностью определять местоположение артефактов и/или включений путем определения трехмерных координат местоположения артефактов и/или включений и формирования трехмерной карты на основе определенных трехмерных координат.
22. Система по п. 12, в которой артефакты представляют собой визуальные артефакты.