СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СВОЙСТВ ОТРАЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ

1. Способ определения светоотражательных свойств конкретной поверхности путем выбора из множества "таблиц коэффициентов уменьшенной яркости" (r-таблиц), измеренных для сравнительных поверхностей, таблицы, подходящей для характеристики упомянутой конкретной поверхности, отличающийся тем, что содержит этапы, на которых
измеряют для образцов множества сравнительных поверхностей параметры для их r-таблиц, используя устройство измерения в соответствии с рекомендациями стандарта МКО,
измеряют для этих же образцов множества сравнительных поверхностей выбранный параметр отражения света для выбранной комбинации углов (γ) падающего света и углов (90°-α) и (β) отраженного света, используя "портативное" измерительное устройство,
измеряют на месте во множестве точек измерения упомянутой конкретной поверхности упомянутый выбранный параметр отражения света для упомянутой выбранной комбинации углов (γ) падающего света и углов (90°-α) и (β) отраженного света, используя упомянутое "портативное" устройство, при этом исключаются измерения отраженного света под углом наблюдения приблизительно 1°,
сравнивают, используя математический и/или графический анализ, угловое распределение упомянутого выбранного параметра для конкретной поверхности с угловым распределением упомянутого выбранного параметра для упомянутых сравнительных поверхностей для выбора сравнительной поверхности, представляющей наилучшее совпадение по распределению, необязательно, учитывая коэффициент Q0 масштабирования по яркости, и
устанавливают для упомянутой конкретной поверхности светоотражательные свойства r-таблицы, соответствующей упомянутой выбранной сравнительной поверхности, при этом, необязательно, используют упомянутый необязательный коэффициент масштабирования.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что выполняют, по меньшей мере, 60 измерений для каждого измеряемого образца/каждой точки измерения, для определения углового распределения упомянутого выбранного параметра, включая, по меньшей мере, 2 выбранных угла (γ) падающего света и, по меньшей мере, 5 выбранных углов (α) и, по меньшей мере, 2 выбранных угла (β) отраженного света.
3. Способ по п.2, отличающийся тем, что, по существу, выполняют 180 измерений для 4 выбранных углов (γ) падающего света и для 9 выбранных углов (α) и 5 выбранных углов (β) отраженного света.
4. Способ по п.3, отличающийся тем, что в упомянутых 180 измерениях используют углы (γ), выбранные, по существу, равными 0°, 30°, 50° и 70°, углы (α), выбранные, по существу, равными 5°, 10°, 20°, 30°, 40°, 50°, 60°, 70° и 80° относительно поверхности измерения, и углы (β), выбранные, по существу, равными 0°, 10°, 20°, 30° и 150° между плоскостями падающего света и отраженного света, перпендикулярными поверхности измерения.
5. Способ по любому из пп.1-4, отличающийся тем, что математический сравнительный анализ углового распределения выбранного параметра для конкретной поверхности с угловым распределением выбранного параметра для сравнительных поверхностей включает анализ по методу "наименьших квадратов".
6. Способ по любому из пп.1-4, отличающийся тем, что упомянутый измеренный параметр отражения света представляет собой измеренную яркость (L), разделенную на измеренную освещенность (Е), при этом при упомянутом сравнительном анализе угловых распределений сравнивают распределения L/E в функции от угла (γ), угла (α) и угла (β) соответственно.
7. Способ по п.5, отличающийся тем, что упомянутый измеренный параметр отражения света представляет собой измеренную яркость (L), разделенную на измеренную освещенность (Е), при этом при упомянутом сравнительном анализе угловых распределений сравнивают распределения L/E в функции от угла (γ), угла (α) и угла (β) соответственно.
8. Портативное устройство измерения параметров отражения света для использования в способе по любому из пп.1-7, содержащее множество источников света (2а, 2b, 2с, 2d), излучающих свет в направлении одной и той же области (3) измеряемой поверхности, множество датчиков (4) отраженного света, расположенных над упомянутой областью и с обеих сторон от плоскости, проходящей вдоль оси упомянутых источников света, перпендикулярной упомянутой поверхности, и разнесенных от этой плоскости, отличающееся тем, что упомянутые датчики отраженного света направлены под углами α относительно упомянутой измеряемой поверхности, исключая угол наблюдения приблизительно 1°,
9. Портативное измерительное устройство по п.8, отличающееся тем, что содержит датчики отраженного света под углами α, равными 5° или больше.
10. Портативное измерительное устройство по п.9, отличающееся тем, что содержит,
по меньшей мере, три источника света, направленные в упомянутую область измеряемой поверхности под разными углами (γ),
по меньшей мере, два набора калиброванных по освещенности фотогальванических элементов с опорными трубками для коллимации отраженного света, при этом каждый элемент одного набора направлен с помощью его опорной коллимационной трубки в направлении упомянутой области измеряемой поверхности под разными углами (α) и каждый из упомянутых, по меньшей мере, двух наборов элементов установлен в разных плоскостях, перпендикулярных упомянутой измеряемой поверхности, под углами (β),
по меньшей мере, один дополнительный фотогальванический элемент на источник света для его самокалибровки
11. Портативное измерительное устройство по п.9, отличающееся тем, что содержит четыре источника света, расположенные в одной плоскости, перпендикулярной упомянутой измеряемой поверхности, причем каждый источник соответственно направлен в соответствии с углами (γ), по существу, 0°, 30°, 50° и 70° и источники снабжены оптическими системами для освещения одной и той же круглой области измеряемой поверхности, имеющей диаметр от 5 до 15 см, предпочтительно от 100 до 125 мм, с уровнем освещенности выше 5000 лк, предпочтительно выше 15000 лк.
12. Портативное измерительное устройство по п.9, отличающееся тем, что содержит пять наборов элементов, причем каждый набор расположен в плоскости, перпендикулярной упомянутой измеряемой поверхности, и направлен под углами (β), по существу, равными 0°, 10°, 20°, 30° и 150° соответственно относительно упомянутой плоскости, содержащей упомянутые источники света, и каждый набор содержит девять элементов, направленных соответственно под углами (α), по существу, равными 5°, 10°, 20°, 30°, 40°, 50°, 60°, 70° и 80° соответственно относительно упомянутой измеряемой поверхности.