XXVII Российская конференция по электронной микроскопии - Решение

Решение XXVII Российской конференции по электронной микроскопии (РКЭМ-2018)
Август 2018 г.

С 26 по 30 августа 2018г. в г. Черноголовка (Московская область) проведена XХVII Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ-2018) и в рамках конференции 5-я Школа молодых ученых. В работе приняли участие в общей сложности более 400 человек из 118 организаций. Кроме российских докладов, на конференции были представлены доклады из Азербайджана, Армении, Беларуси, Германии, Испании, США, Бельгии, Англии. 47 работ были выполнены при поддержке РФФИ. На проводившейся в первые два дня Школе было прочитано 12 лекций известными учеными и специалистами из разных стран, посвященных новым методам электронной микроскопии и применению микроскопических методов в различных областях науки и техники. Тезисы докладов на конференции изданы в двух томах и на школе - в одном томе. Информация о конференции была размещена на сайте: http://www.crys.ras.ru/rcem/.

Тематика конференции была разбита на 10 секций, 8 из которых традиционно совпадали с предыдущей конференцией. Были добавлены два новых направления, которые отразили современные тенденции в развитии методов электронной микроскопии и их применений. Это секция по времяразрешающей электронной микроскопии, посвященная исследованиям в области структурной динамики вещества, и секция по применению электронной микроскопии к изучению объектов культурного наследия.

На высоком уровне были сделаны доклады иностранных коллег. В целом, уровень отечественных устных докладов, представленных на конференции, был достаточно высоким. Ряд интересных докладов был представлен на стендовой секции. Среди наиболее актуальных тематик следует отметить работы, направленные на получение трехмерной информации об исследуемых объектах, исследование сверхбыстрых процессов, динамическую электронную кристаллографию. Хотя в РФ имеется целый ряд центров, оснащенных современным электронно-микроскопическим оборудованием, в целом приборный парк требует дальнейшего обновления современными электронными микроскопами и системами с фокусированным ионным пучком.

Есть ряд направлений, где работы российских ученых соответствуют передовому мировому уровню. Однако следует отметить, что в данный момент степень влияния российских ученых на мировую науку невелика. Это связано с рядом объективных обстоятельств. Современные перспективные сложные исследования как, например, работы по крио-ЭМ томографии, которые упоминались выше, как комплексные исследования, сочетающие функциональный анализ биологических объектов методами конфокальной микроскопии с трехмерной ЭМ, требуют наличия современных дорогостоящих приборов и вычислительных возможностей. Незначительно представлена методология ПЭМ исследований с коррекцией аберраций (сферических и хроматических). Новые приборы есть только у ограниченного числа российских ученых, а ряд моделей пока вообще отсутствует в России. Есть также проблемы с финансированием поездок на конференции, особенно у исследователей из удаленных от Москвы регионов России. Следует также отметить, что серьезным сдерживающим фактором является недостаток отечественных образцов. Значительная часть исследований по актуальным для мировой науки направлениям проводится на образцах и структурах, полученных из-за рубежа.

Высокий уровень работ, соответствующих мировому уровню, отличают также работы по исследованию сегнетоэлектрических материалов методом МПО. Комплексное использование методик электрической АСМ и рентгеновских методов анализа позволило продемонстрировать преимущества метода сканирующей емкостной микроскопии для изучения примесной ростовой периодической структуры сегенетоэлектрических кристаллов.

В России, несмотря на предложенную российскими учеными идею нового направления, исследования в важнейшей области времяразрешающей электронной кристаллографии развиваются только в ИСАНе. Необходимо более широкое участие научных групп ряда ведущих научных учреждений, имеющих большой опыт в электронно-дифракционных и электронно-микроскопических исследованиях (например, ФНИЦ "Кристаллография и фотоника", НИЦ "Курчатовский институт" и ряде др.).

Развитие методов ионной литографии является, на сегодняшний день, одним из актуальных направлений. В представленных докладах показано, что ионные пучки могут иметь широкий спектр для применения. В то же время необходимо подчеркнуть, что в основном установки для электронной и ионной литографии производятся за рубежом. Поэтому существует отставание в оснащенности российских лабораторий приборами нового поколения литографического оборудования, что несколько ограничивает исследовательские возможности.

Среди работ, посвящённых изучению минералов, видно, что большинство описанных авторами минералов имеют ярко выраженные особенности своего образования. Работы, выполненные авторами представленных докладов, соответствуют, как минимум среднему мировому уровню исследований, а некоторые из них находятся на самом переднем крае мировых научных изысканий в минералогии.

Анализ представленных на конференции работ показывает, что есть ряд направлений, где работы российских ученых соответствуют передовому мировому уровню. Однако следует отметить, что в данный момент степень влияния российских ученых на мировую науку невелика. Следует констатировать, что по сравнению с 2016 годом (год проведения РКЭМ-2016) число участников увеличилось. В целом конференция продемонстрировала определенный прогресс в области развития методов и применения электронной микроскопии в нашей стране. Возросло число молодых ученых среди участников конференции, что отражает устойчивую тенденцию повышения интереса к микроскопическим методам, обусловленную развитием работ по созданию и исследованию наноматериалов. К сожалению, необходимо признать, что в большей части исследований в области просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения отечественная наука еще отстает от мирового уровня, хотя ряд работ и отражает актуальные направления мировой науки и вполне соответствует мировому уровню. Следует отметить определенную обеспокоенность научного сообщества недостаточным финансированием исследований в целом и дефицитом современного научного оборудования, в частности современных просвечивающих электронных микроскопов с корректорами сферической аберрации, сканирующих двухлучевых (электронный и ионный) микроскопов. Необходимо отметить, что за прошедшие 2 года снизилась обеспеченность научными кадрами и оборудованием, есть проблемы с финансированием поездок на конференции, что связано со сложной экономической ситуацией в России. В связи с этим необходимо особо отметить большое значение грантов РФФИ для науки в России: 16% представленных на конференции работ были выполнены при поддержке РФФИ. Конференция считает целесообразным проведение следующей Российской конференции по электронной микроскопии в 2020 году.

Организаторы конференции: Научный Совет РАН по электронной микроскопии, ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, ИПТМ РАН, НИЦ "КИ" выражают благодарность Российскому фонду фундаментальных исследований (грант № 18-02-20090) за финансовую поддержку конференции и работ в области электронной микроскопии, а также компании "ТехноИнфо" за помощь в организации и проведении конференции.