УСТРОЙСТВА И СПОСОБЫ ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ ОСНОВАННЫХ НА ЭЛЕКТРОНИКЕ ПРОДУКТОВ

1. Устройство (110) для диагностики электронного продукта (150), причем устройство (110) содержит:
множество датчиков (210), связанных с электронным продуктом (150) для мониторинга множества параметров, ассоциированных с электронным продуктом (150), причем каждый датчик (210) выполнен с возможностью генерировать, по меньшей мере, один из аналогового сигнала и цифрового сигнала после мониторинга некоторого параметра;
множество конверторов (215), связанных с множеством датчиков (210) для преобразования аналоговых сигналов, генерируемых от множества датчиков (210), в цифровые сигналы;
модуль (220) обработки, связанный с множеством конверторов (215) для определения аномальных состояний параметров на основе, по меньшей мере, сравнения цифровых сигналов с пороговыми значениями параметров, причем каждое аномальное состояние параметра, соответствующее параметру, определяется на основе сравнения цифрового сигнала, ассоциированного с упомянутым параметром, и порогового значения параметра, соответствующего упомянутому параметру;
модуль (225) памяти, связанный с модулем (220) обработки, причем память (225) выполнена с возможностью хранить информацию, ассоциированную с аномальными состояниями параметров;
причем модуль (225) памяти выполнен с возможностью хранить информацию о временной метке, ассоциированную с аномальными состояниями параметров; и
интерфейс (240) связи, выполненный с возможностью обеспечения информации, ассоциированной с аномальными состояниями параметров, по меньшей мере, для одного внешнего устройства (160, 170) для диагностики одной или нескольких неисправностей в электронном продукте (150),
причем устройство (110) сконфигурировано в хост-модуле (120) электронного продукта (150).
2. Устройство (110) по п. 1, дополнительно содержащее систему (250) обработки, содержащую один или более логических модулей (235) для управления множеством датчиков (210) и множеством конверторов (215).
3. Устройство (110) по п. 1, в котором системой (250) обработки является, по меньшей мере, одно из интегральной схемы прикладной ориентации (ASIC), системы на чипе (SOC), микроконтроллера, обработки цифровых сигналов (DSP), электрически программируемого логического устройства (EPLC), комплексного программируемого логического устройства (CPLD) и системы программируемой пользователем вентильной матрицы (FPGA).
4. Устройство (110) по п. 2, в котором модуль (220) обработки сконфигурирован в системе (250) обработки.
5. Устройство (110) по п. 1, в котором хост-модулем (120) является, по меньшей мере, одно из монтажной платы электронного продукта (150), системной платы электронного продукта (150), центрального процессора (CPU) электронного продукта (150) и модуля ввода/вывода (I/O) электронного продукта (150), частично или полностью обеспеченного посредством одной или более частей электронного продукта (150), единственной платы электронного продукта (150), основной платы электронного продукта (150) и дочерней платы электронного продукта (150).
6. Устройство (110) по п. 1, в котором модуль (225) памяти выполнен с возможностью хранить информацию о временной метке, ассоциированной с аномальными состояниями параметров.
7. Устройство (110) по п. 1, в котором множество параметров содержит: разность потенциалов между 0 Вольт и потенциалом заземления; температуру окружающей среды, где размещен электронный продукт (150); ускорения, удары и вибрации, ассоциированные с компонентами электронного продукта (150); удары и вибрации на отсеке, где размещен электронный продукт (150); источник энергии, подаваемой к электронному продукту (150); электромагнитное возмущение в окружении электронного продукта (150); и открывание/закрывание одной или более дверей этого отсека, температуру электронного продукта (150); влажность в окружении электронного продукта (150); давление; высоту; угол ориентации по вертикали и горизонтали; локализацию относительно Земли; уровень света и яркости; уровень шума; уровень излучений; уровень загрязнения; уровень присутствия газов в окружении; уровень присутствия дымов и частиц в окружении; число переходов и длительность включения/выключения источника питания; и логические вводы для мониторинга одного или более объектов, помещенных в окрестности электронного продукта (150).
8. Устройство (110) по п. 1, в котором внешним устройством является, по меньшей мере, одно из устройства (170) связи и станции (160) управления.
9. Устройство (110) по п. 1, в котором модуль (220) обработки дополнительно выполнен с возможностью:
вычисления временной длительности, ассоциированной, по меньшей мере, с одним параметром;
подсчета числа появлений, по меньшей мере, одного параметра; и
вычисления математического моделирования, ассоциированного с параметром на основе, по меньшей мере, одного из временной длительности, ассоциированной с упомянутым параметром, числа появлений этого параметра и исторической информации, ассоциированной с упомянутым параметром.
10. Устройство (110) по п. 9, в котором модуль (220) обработки дополнительно выполнен с возможностью определять аномальное состояние параметра на основе, по меньшей мере, одного из сравнения цифровых сигналов с пороговыми значениями параметров, временной длительности, ассоциированной, по меньшей мере, с одним параметром, числа появлений, по меньшей мере, одного параметра и математического моделирования.
11. Устройство (110) по п. 1, дополнительно содержащее антенну (245, 362) на печатных схемах, выполненную с возможностью детектировать сигналы, соответствующие электромагнитному возмущению, для мониторинга параметра электромагнитного возмущения.
12. Способ, выполняемый в устройстве (110) для диагностики электронного продукта (150), причем способ содержит:
мониторинг множества параметров, ассоциированных с электронным продуктом (150), причем мониторинг некоторого параметра выполняется для генерирования, по меньшей мере, одного из аналогового сигнала и цифрового сигнала, ассоциированного с упомянутым параметром;
преобразование аналоговых сигналов, ассоциированных с множеством параметров, в цифровые сигналы;
определение аномальных состояний параметров, ассоциированных с множеством параметров, на основе сравнения этих цифровых сигналов с пороговыми значениями параметров, причем каждое аномальное состояние параметра, соответствующее параметру, определяется на основе, по меньшей мере, сравнения цифрового сигнала, ассоциированного с упомянутым параметром, и порогового значения параметра, ассоциированного с упомянутым параметром; и
сохранение информации, ассоциированной с аномальными состояниями параметров, соответствующих множеству параметров, для диагностики одной или более неисправностей в электронном продукте (150),
сохранение информации о временной метке, ассоциированной с каждым аномальным состоянием параметра;
причем устройство (110) сконфигурировано как часть хост-модуля (120) электронного продукта (150).
13. Способ по п. 12, дополнительно содержащий:
передачу информации, ассоциированной с аномальными состояниями параметров, по меньшей мере, к одному внешнему устройству (160, 170), по меньшей мере, для одного из диагностики одной или более неисправностей в электронном продукте (150), сохранения, архивации и отображения этой информации.
14. Способ по п. 12, в котором сохранение информации, ассоциированной с каждым аномальным состоянием параметра, содержит сохранение информации о временной метке, ассоциированной с каждым аномальным состоянием параметра.
15. Способ по п. 12, в котором определение аномальных состояний параметров, ассоциированных с множеством параметров, дополнительно основано, по меньшей мере, на одном из временной длительности, ассоциированной, по меньшей мере, с одним параметром, числа появлений, по меньшей мере, одного параметра и математического моделирования на основе, по меньшей мере, одного из временной длительности, числа появлений и исторической информации, ассоциированной, по меньшей мере, с одним параметром.
16. Способ по п. 12, дополнительно содержащий, по меньшей мере, одно из:
облегчения планирования превентивного обслуживания электронного продукта (150) на основе информации, ассоциированной с аномальными состояниями параметров;
уведомления о диагностике неисправности в электронном продукте (150) на основе информации, ассоциированной с аномальными состояниями параметров; и
обеспечения аутентификации претензии, поданной для замены электронного продукта (150), в рамках действия гарантийного соглашения на основе информации, ассоциированной с аномальными состояниями параметров.
17. Способ по п. 12, в котором множество параметров содержит: разность потенциалов между 0 Вольт и потенциалом заземления; температуру окружающей среды, где размещен электронный продукт (150); ускорения, удары и вибрации, ассоциированные с компонентами электронного продукта (150); удары и вибрации на отсеке, где размещен электронный продукт (150); источник энергии, подаваемой к электронному продукту (150); электромагнитное возмущение в окружении электронного продукта (150); и открывание/закрывание одной или нескольких дверей этого отсека, температуру электронного продукта (150); влажность в окружении электронного продукта (150); давление; высоту; угол ориентации по вертикали и горизонтали; локализацию относительно Земли; уровень света и яркости; уровень шума; уровень излучений; уровень загрязнения; уровень присутствия газов в окружении; уровень присутствия дымов и частиц в окружении; число переходов и длительность включения/выключения источника питания; и логические вводы для мониторинга одного или более объектов, помещенных в окрестности электронного продукта (150).
18. Способ по п. 12, в котором хост-модулем (120) является одно из монтажной платы электронного продукта (150), системной платы электронного продукта (150), центрального процессора (CPU) электронного продукта (150) и модуля ввода/вывода (I/O) электронного продукта (150).