СПОСОБ СРАВНИТЕЛЬНОЙ ОЦЕНКИ ПАРТИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ ПО КАЧЕСТВУ И НАДЕЖНОСТИ

Способ сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий, в соответствии с которым на одинаковых произвольных выборках из сравниваемых партий полупроводниковых изделий проводятся измерения информативного параметра до испытаний на безотказность, после 100 ч испытания на безотказность и после 24 ч выдержки при нормальной температуре, отличающийся тем, что после измерений информативного параметра проводится сравнение партий по произведению коэффициентов изменения информативного параметра после испытаний на безотказность и выдержки по сравнению с начальным значением, после чего делают вывод о качестве и надежности партий полупроводниковых изделий.