УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОРИЕНТИРОВАННОЙ НАКЛЕЙКИ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СЕКЦИЙ

Полезная модель относится к области радиоэлектроники, оптоэлектроники и оптики и касается технологической оснастки и приспособлений для обработки кристаллов, а более конкретно к устройствам для прецизионной ориентированной резки кристаллов на станках для абразивной резки стальными полотнами кварца, цинкита, лангасита и др.
Известно устройство для ориентированной наклейки кристаллических секций, содержащее рентгенгониометр, металлическую плату, установленную на последнем в горизонтальной плоскости под постоянным для выбранной атомной плоскости углом к падающему рентгеновскому лучу, закрепленную на плате стеклянную подложку под кристаллическую секцию и упор с полуцилиндрической поверхностью, контактирующей со срезом кристаллической секции (В.А.Мостяев и В.И.Дюжиков «Технология пьезо- и акустоэлектронных устройств», М., Ягуар, 1993, с.81).
Однако при использовании известного устройства погрешность установки требуемого угла довольно таки значительна и составляет порядка 5-10′. Это связано с тем, что для точной
установки требуемого угла необходимо одновременно выполнить два условия:
- срез кристаллической секции должен находиться на оси вращения столика гониометра;
- срез кристаллической секции должен находиться в контакте с упором гониометра.
Эти условия для упора с цилиндрической поверхностью выполняются только при установке грубо ориентированного среза кристаллической секции строго перпендикулярно упору и при повороте грубо ориентированного среза кристаллической секции вокруг упора для установки точного угла происходит его отклонение от оси вращения столика рентгенгониометра, падающий луч отражается от атомной плоскости кристаллической секции не на оси вращения и в результате отраженный луч отклоняется от центра входного окна датчика интенсивности излучения, что и приводит к ошибке установки угла среза кристаллической секции.
Технической задачей предлагаемой полезной модели является повышение точности установки требуемого угла среза кристаллической секции.
Поставленная задача в предлагаемом устройстве, содержащем рентгенгониометр, установленную на последнем в горизонтальной плоскости под постоянным для выбранной атомной
плоскости углом к падающему рентгеновскому лучу металлическую плату с закрепленной на ней стеклянной подложкой под кристаллическую секцию, и упор, контактирующий со срезом последней, решается тем, что упор выполнен с двумя плоскими поверхностями, расположенными под углом друг к другу с образованием ребра, контактирующего со срезом кристаллической секции.
Полезная модель поясняется чертежами, на которых:
Фиг.1 - схематично изображено предлагаемое устройство в аксонометрии,
Фиг.2 - упор в увеличенном размере и изображением падающего и отраженного рентгеновских лучей.
Устройство содержит рентгенгониометр 1, установленную на последнем металлическую плату 2 с закрепленной на ней подложкой 3. На подложке 3 клеем «Квант 401» закреплена кристаллическая секция 4. Над кристаллической секцией 4 установлен упор 5, имеющий две плоские поверхности 6, находящиеся под углом друг к другу с образованием ребра 7, контактирующего со срезом 8 кристаллической секции 4.
Ориентированная наклейка кристаллической секции осуществляется следующим образом.
Перед наклейкой металлическая плата 2 с закрепленной подложкой 3 устанавливается в горизонтальной плоскости рентенгониометра 1 под постоянным для выбранной атомной плоскости углом к падающему рентгеновскому лучу 9 от рентгеновской трубки 10. Кристаллическую секцию 4 устанавливают на подложке 3, покрытой тонким слоем клея «Квант 401». Кристаллическая секция 4 грубо ориентируют вплотную срезом 8 с ребром 7 упора 5. Затем кристаллическую секцию 4 вращают вкруг ребра 7 упора 5 до получения максимальной интенсивности отражения рентгеновского луча 11 от атомной плоскости кристаллической секции 4, регистрируемого датчиком 12. После достижения максимальной интенсивности отражения рентгеновского луча 11 для отверждения клея на 20÷25 секунд включают ртутную лампу (на чертеже не показана), расположенную над приклеиваемой соориентированной кристаллической секцией 4.
Предлагаемое устройство при его использовании обеспечивает повышение точности ориентированной наклейки кристаллической секции, что подтвердили проведенные испытания.