10-я годовщина летней школы ВОИС и Южной Африки

10-я годовщина летней школы ВОИС и Южной Африки

20-12-2018

С 26 ноября по 7 декабря 2018 г. в Центральном технологическом университетe провинции Фри-Стейт в южноафриканском Блумфонтейне прошла десятая летняя школа ВОИС и Южной Африки по вопросам интеллектуальной собственности (ИС) и передачи технологий, в которой приняли участие 39 слушателей из 9 стран.

Летняя школа, ставшая ежегодным мероприятием, является результатом совместных усилий министерства науки и технологий, национального ведомства по вопросам управления ИС (NIPMO) и Комиссии по делам компаний и интеллектуальной собственности (CIPC) Южно-Африканской Республики. По сложившейся традиции, Японское патентное ведомство предоставило гранты для участия в летней школе 2018 г. десяти человек.

Программа летней школы 2018 г.

Краткий, но интенсивный курс летней школы позволяет студентам магистратуры, аспирантам и молодым специалистам лучше понять взаимосвязь вопросов ИС и передачи технологий. При рассмотрении вопросов ИС в контексте согласования лицензионных соглашений слушатели разбирают конкретные примеры и участвуют в ситуативных играх, приобретая таким образом знания. Лекции, предусмотренные программой летней школы 2018 г., были посвящены следующим темам:

технический прогресс: что несет четвертая промышленная революция;
роль патентов и ноу-хау или коммерческой тайны в процессе передачи технологий;
роль товарных знаков в процессе передачи технологий;
данные, искусственный интеллект и владение правами ИС; и
ИС и цели в области устойчивого развития: как создать условия для технического прогресса, обеспечивая при этом рациональное использование ресурсов.

Торжества по случаю 10-й годовщины

По случаю 10-й годовщины летней школы ВОИС и Южной Африки для выпускников, чье участие стало залогом успеха программы на протяжении десяти лет, был организован торжественный ужин. Кроме того, была создана ассоциация выпускников летней школы ВОИС и Южной Африки, и представлены кандидатуры членов Временного комитета.

Дополнительная информация