ПРИСТАВКА К МИКРОСКОПУ

Полезная модель относится к дополнительным устройствам микроскопов для крепления и регулирования положения исследуемого образца и предназначена для уточненного определения геометрических форм и размеров частиц пыли или измельченных материалов. Полезная модель может использоваться для определения дисперсного состава с повышенной точностью в отраслях промышленности, связанных с производством, обработкой и использованием материалов с вредным воздействием на организм человека, при нормировании факторов вредного воздействия, а также с производством и обработкой дорогостоящих материалов.
Известна приставка к микроскопу, содержащая жестко закрепленную на основании дуговую направляющую в виде полусферы и установленный на ней с возможностью перестановки держатель исследуемого образца (см. описание изобретения к авторскому свидетельству СССР №1485185, МПК G 02 В 21/26, публикация 07.06.1989 г.).
Известная приставка не может использоваться для измерения геометрических форм и размеров плоских габаритных сечений значительного количества частиц в различных плоскостях, получаемых
поворотами относительно осей приблизительной симметрии каждой исследуемой частицы.
Это связано с микроскопическими размерами множества разделенных между собой частиц, представляющих образец для исследования. Для измерений с помощью микроскопа габаритных плоских сечений множества частиц в различных плоскостях, получаемых поворотами относительно осей приблизительной симметрии каждой исследуемой частицы, требуется дополнительное устройство закрепления множества частиц для обеспечения их совместного требуемого условиями измерений перемещения относительно оптической оси микроскопа, т.е. дополнительный держатель образца.
Кроме того, возможные перемещения держателя образца относительно оптической оси микроскопа должны строго соответствовать условиям измерений габаритных сечений частиц в требуемых плоскостях.
Задачей заявляемой полезной модели является обеспечение возможности определения в исследуемой выборке частиц геометрических форм и размеров плоских габаритных сечений каждой частицы, наблюдаемых в микроскоп как изображение частицы, полученных при последовательных поворотах держателя образца с частицами относительно оси (например, лежащей в горизонтальной плоскости), перпендикулярной оптической оси микроскопа, на фиксированную величину угла поворота.
Это дает возможность уточненного определения объемов исследуемых в выборке частиц, по специально разработанной методике, что приводит в конечном итоге к уточнению дисперсного состава исследуемой выборки частиц.
Сущность полезной модели заключается в том, что в приставке к микроскопу, содержащей жестко закрепленную на неподвижном основании дуговую направляющую и установленный на ней с возможностью перестановки держатель исследуемого образца пыли или
измельченного материала, дуговая направляющая выполнена в виде сегмента кольца с перфорационными отверстиями с резьбой для фиксации держателя исследуемого образца винтом, а держатель исследуемого образца содержит тонкую бесцветную или тонированную ленту с чередующимися клейкими и неклейкими зонами, установленную на жесткой пластине с возможностью перемещения их относительно дуговой направляющей посредством двух регулировочных устройств, соединенных с устройством крепления.
Кроме того, каждое регулировочное устройство содержит регулировочный винт с головкой, направляющую втулку прямоугольного сечения, цилиндрическую пружину сжатия и направляющую втулку для пружины.
Кроме того, устройство крепления состоит из двух втулок прямоугольного сечения с внутренней резьбовой поверхностью для крепления регулировочного устройства и скобы для соединения всех деталей устройства крепления и обеспечения перемещения держателя образца вдоль дуговой направляющей.
Кроме того, ближняя к микроскопу торцевая поверхность жесткой пластины выполнена утонченной относительно общей толщины пластины.
Кроме того, дуговая направляющая имеет длину 0,75-0,8 длины кольца.
Это позволяет осуществлять измерение для значительного количества (выборки) частиц геометрических формы и размеров плоских габаритных сечений частицы, ориентированных друг относительно друга в различных плоскостях, пересекающихся по одной оси, являющейся приближением к оси симметрии несимметричной частицы.
Сущность полезной модели поясняется чертежом где:
на фиг.1 показана приставка к микроскопу, общий вид;
на фиг.2 - то же, сечение А-А;
на фиг.3 - жесткая пластина с клейкой лентой (в разрезе).
Приставка к микроскопу содержит жестко закрепленную на неподвижном основании 1 дуговую направляющую 2 и установленный на ней с возможностью перестановки держатель 3 исследуемого образца 4 и других конструктивных элементов приставки.
Дуговая направляющая 2 выполнена в виде 0,75-0,8 длины кольца с перфорационными отверстиями 5 с резьбой для фиксации держателя 3 винтом 6.
Перфорационные отверстия 5 с резьбой выполнены, как правило, на одинаковом расстоянии относительно соседних перфорационных отверстий, за исключением двух крайних перфорационных отверстий.
Держатель 3 содержит тонкую жесткую пластину 7 с утонением на торцевой поверхности незакрепленной части пластины, жестко установленную в устройстве крепления 8, и эластичную, тонкую и бесцветную или тонированную ленту 9 с клейкими зонами поверхности для приклеивания частиц, чередующимися с неклейкими зонами, установленную на тонкой жесткой пластине 7 с возможностью перемещения ленты относительно тонкой жесткой пластины посредством двух регулировочных устройств 10, соединенных с устройством 8 крепления.
Каждое регулировочное устройство 10 для обеспечения требуемого условиями измерений положения ленты 9 относительно пластины 7 в результате перемещения ленты 9 относительно поверхности пластины 7 содержит регулировочный винт 1 1, направляющую втулку 12 с прямоугольным поперечным сечением, прокладку 13, закрепленную на направляющей втулке и уменьшающей трение ленты о жесткую пластину, цилиндрическую пружину 14, направляющую втулку 15 для пружины 14.
Устройство 8 крепления состоит из двух втулок 16 прямоугольного сечения с внутренней резьбовой поверхностью, связанных с
регулировочными устройствами 10 и удерживающими жесткую пластину 7 посредством штифта 17, скобы 18, соединяющей две втулки 16 между собой посредством четырех винтов 19 и обеспечивающей перемещение держателя образца вдоль дуговой направляющей 2.
Микроскоп 20 показан на фиг.1.
На ленту 9 нанесены клейкие зоны 21, чередующиеся с неклейкими зонами 22.
Приставка к микроскопу работает следующим образом.
Вначале на ленту 9, начиная с первой и заканчивая последней клейкой зонами 21, наносят равномерно напылением частицы пыли или измельченного материала.
Длина каждой клейкой зоны 21 выполняется равной толщине утонченной торцевой поверхности пластины.
Утонение торцевой поверхности незакрепленной части жесткой пластины 7 предназначено для уменьшения длины каждой клейкой зоны и тем самым увеличения количества предназначенных для исследования клейких зон, а также для предотвращения обрыва ленты при ее натяжении вдоль пластины за счет увеличения углов перехода между утонченной торцевой и наклонными поверхностями пластины.
Углы перехода между утонченной торцевой и наклонными поверхностями пластины способствуют отрыву oт клейкой зоны ленты за счет уменьшения поверхностей контакта с клейкой зоной частиц, расположенных на линиях сгиба ленты в местах углов перехода торцевой поверхности пластины, и тем самым компенсируют возможную неточность установки границ клейкой зоны на границах торцевой поверхности. Компенсация неточности установки происходит за счет отсутствия частиц на углах перехода и тем самым обеспечения возможности проведения измерений ориентированных под различными
углами относительно друг друга габаритных поперечных сечений каждой частицы, для оставшихся на торцевой поверхности крайних рядов частиц.
Расстояние между двумя соседними клейкими зонами одинаково для всех клейких зон и является длиной одной неклейкой зоны. Это расстояние по величине выполняется не более длины одной клейкой зоны.
После напыления пыли или измельченного материала, ленту с двух концов закрепляют стягиванием совместно с прокладками 13 к поверхностям втулок двух регулировочных устройств К), и с помощью регулировочных устройств 10 устанавливают на пластине 7 таким образом, что начало первой клейкой зоны ленты находится у верхнего конца утонченной торцевой поверхности пластины 7; при этом конец первой клейкой зоны располагается у нижнего конца утонченной торцевой поверхности пластины 7.
Последующие клейкие зоны 21 ленты 9, чередующиеся с неклейкими зонами 22, располагаются при такой начальной установке ленты на пластине 7 ниже пластины. При этом с поверхностей неклейких зон, находящихся ниже пластины, частицы пыли или измельченного материала падают вниз под действием силы тяжести, и частиц на неклейких зонах практически не остается, что важно для измерений.
Измерения с помощью микроскопа 20 для каждой исследуемой частицы габаритных сечений в пересекающихся по одной центральной оси частицы плоскостях проводятся для крайних рядов частиц, расположенных на установленной параллельно утонченной торцевой поверхности пластины 7 клейкой зоне 21 вдоль длин границ с неклейкими зонами. Измерения габаритных сечений двух крайних рядов частиц, расположенных на одной клейкой зоне 21 при одинаковом положении держателя 3 образца вместе с двумя регулировочными устройствами 10 и устройством крепления 8 относительно дуговой направляющей 2 осуществляют путем дополнительных регулировочных установок
оптической оси микроскопа для получения качественных изображений габаритных сечений каждой исследуемой частицы.
Переход к измерениям образующих последующий дискретный угол с оптической осью микроскопа габаритных сечений исследуемых крайних рядов частиц, расположенных на одной клейкой зоне 21, осуществляется перестановкой держателя 3 образца вместе с двумя регулировочными устройствами 10 посредством устройства крепления 8 относительно дуговой направляющей 2 на минимальный дискретный угол перестановки, с фиксацией устройства крепления 8 винтом 6 в резьбовом отверстии 5 дуговой направляющей 2.
После проведения описанных выше комплексных измерений частиц крайних рядов на установленной параллельно горновой поверхности пластины клейкой зоне, с помощью регулировочных устройств 10 на утонченную торцевую поверхность пластины 7 для измерений устанавливают следующую клейкую зону 21 пленки с частицами. Комплексные измерения крайних рядов частиц проводят аналогичным образом.
Затем устанавливают на утонченную торцевую поверхность пластины 7 следующую клейкую зону 21 с частицами. И так далее, до последней клейкой зоны включительно.
После проведения комплексных измерений для крайних рядов частиц всех клейких зон, пленку отсоединяют от втулок регулировочных устройств 10 и удаляют от приставки. Приставка к микроскопу готова к установке следующей пленки с нанесенными на нее частицами.
Предлагаемая конструкция приставки к микроскопу позволяет получать изображения плоских габаритных сечений значительного количества частиц в различных плоскостях, получаемых поворотами относительно осей приблизительной симметрии каждой частицы. Это позволяет более точно определять объемы частиц и тем самым уточнять
определение дисперсного состава исследуемой пыли или измельченного материала.