УСТРОЙСТВО НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ПУТЕМ АНАЛИЗА РАССЕЯНИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ

1. Устройство неразрушающего контроля детали (4), подвергаемой механическим напряжениям, путем анализа рассеяния излучения, отличающееся тем, что упомянутое устройство (1) содержит средства измерения, выполненные с возможностью определения поля излучения поверхности упомянутой детали, при этом упомянутые средства измерения интегрированы в гибкую подложку (2), предназначенную для покрытия зоны поверхности упомянутой контролируемой детали и повторяющую форму детали.
2. Устройство контроля по п.1, отличающееся тем, что упомянутые средства измерения имеют чувствительность, соответствующую определению изменений излучения, свидетельствующих о наличии дефектов на поверхности упомянутой детали.
3. Устройство контроля по п.2, отличающееся тем, что упомянутые средства измерения содержат сеть микродатчиков (3) излучения.
4. Устройство контроля по п.3, отличающееся тем, что упомянутая сеть микродатчиков (3) излучения сгруппирована в матрицу линии-столбцы.
5. Устройство контроля по п.4, отличающееся тем, что каждый микродатчик (3) излучения содержит элемент, выполненный с возможностью преобразования излучения, излучаемого поверхностью упомянутой детали, в электрические заряды, при этом упомянутый элемент соединяют с устройством переноса электрических зарядов для приема электрических зарядов.
6. Устройство контроля по п.2, отличающееся тем, что средства измерения содержат мембрану (7) из термочувствительных жидких кристаллов и сеть оптоэлектронных микродатчиков (6), наложенную на упомянутую мембрану (7) из термочувствительных жидких кристаллов.
7. Устройство контроля по п.6, отличающееся тем, что упомянутая сеть оптоэлектронных микродатчиков (6) сгруппирована в матрицу линии-столбцы.
8. Устройство контроля по п.7, отличающееся тем, что каждый оптоэлектронный микродатчик (6) содержит светочувствительный элемент для преобразования оптических сигналов в электрические сигналы, при этом упомянутый элемент соединяют с устройством переноса электрических зарядов для приема электрических зарядов.
9. Устройство контроля по одному из пп.1-8, отличающееся тем, что упомянутое устройство дополнительно содержит электронный интерфейс (10), соединяющий упомянутые средства измерения и детектирования с записывающим запоминающим устройством (11).
10. Устройство контроля по п.9, отличающееся тем, что электронный интерфейс (10) и запоминающее устройство (11) интегрированы в гибкую подложку (2) таким образом, чтобы получить монолитное устройство (1) контроля.
11. Устройство контроля по п.9, отличающееся тем, что электронный интерфейс (10) расположен на конце линий микродатчиков излучения или на конце столбцов микродатчиков излучения.
12. Устройство контроля по п.9, отличающееся тем, что электронный интерфейс (10) расположен на конце линий оптоэлектронных микродатчиков или на конце столбцов оптоэлектронных микродатчиков.
13. Устройство контроля по п.10, отличающееся тем, что устройство (1) контроля содержит вычислительную систему (13), такую как микропроцессорная система.
14. Устройство контроля по п.13, отличающееся тем, что вычислительная система (13) не интегрирована в гибкую подложку (2), и упомянутое устройство контроля содержит средства передачи для направления электрических сигналов, записанных в запоминающем устройстве (11), в вычислительную систему (13) при помощи проводной связи, беспроводной связи, радиосвязи или инфракрасной связи.
15. Устройство контроля по п.14, отличающееся тем, что вычислительная система (13) интегрирована в гибкую подложку (2) и соединена между интерфейсом (10) и записывающим запоминающим устройством (11).
16. Устройство контроля по одному из пп.14 или 15, отличающееся тем, что вычислительная система (13) содержит запоминающее устройство, содержащее, по меньшей мере, одну картографию эталонного поля излучения поверхности детали или деталей, средства вычисления, преобразующие электрические сигналы, принятые упомянутой вычислительной системой, в поле излучения, и средства анализа упомянутого поля излучения по отношению к эталонному полю излучения.
17. Устройство контроля по п.16, отличающееся тем, что упомянутую, по меньшей мере, одну картографию эталонного поля излучения определяют предварительно на эталонной детали.
18. Устройство контроля по п.16, отличающееся тем, что упомянутую, по меньшей мере, одну картографию эталонного поля излучения определяют предварительно путем моделирования.
19. Устройство контроля по п.16, отличающееся тем, что упомянутые средства анализа содержат средства дифференциального анализа для определения упомянутого поля повышения уровня излучения детали.
20. Устройство контроля по п.19, отличающееся тем, что упомянутые средства дифференциального анализа содержат средства генерирования сигнала состояния S, когда упомянутое поле повышения уровня излучения детали превышает пороговое значение.
21. Устройство контроля по п.16, отличающееся тем, что упомянутые средства анализа содержат средства спектрального анализа для определения данных, связанных с дефектами, присутствующими в детали.
22. Устройство контроля по п.20, отличающееся тем, что упомянутый сигнал состояния S и упомянутые данные передаются упомянутой вычислительной системой в средства (14) тревожной сигнализации.
23. Устройство контроля по п.20, отличающееся тем, что упомянутый сигнал состояния S и упомянутые данные записываются в записывающее запоминающее устройство (11), соединенное с вычислительной системой (13), затем передаются в средства (14) тревожной сигнализации при помощи проводной связи, беспроводной связи, радиосвязи или инфракрасной связи.
24. Устройство контроля по одному из пп.22 или 23, отличающееся тем, что средства (14) тревожной сигнализации содержат средства (22) отображения и световые или звуковые индикаторы (20).
25. Устройство контроля по п.5, отличающееся тем, что микродатчики (3) излучения или оптоэлектронные микродатчики (6) имеют размер порядка сотни микрон.
26. Устройство контроля по п.1, отличающееся тем, что толщина упомянутого устройства (1) контроля меньше или равна 50 мкм.
27. Устройство контроля по п.1, отличающееся тем, что гибкую подложку (2) устройства (1) контроля крепят на поверхности контролируемой детали (4) при помощи адгезивного материала.
28. Устройство контроля по одному из пп.3-8, отличающееся тем, что микродатчики (3) интегрируют непосредственно в слой покрытия, предназначенный для нанесения на поверхность контролируемой детали.