УСТРОЙСТВО УМЕНЬШЕНИЯ ПОГРЕШНОСТИ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ПО ДАВЛЕНИЮ И ТЕМПЕРАТУРЕ У ВЫСОКОТОЧНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ ПЕРЕМЕЩЕНИЯ

1. Устройство оценки исследуемого параметра, содержащее:
оптический измерительный преобразователь перемещения, включающий в себя:
оптическое измерительное устройство, способное принимать, по меньшей мере, один электромагнитный луч, оптическое измерительное устройство, содержащее:
первую отражающую поверхность;
вторую отражающую поверхность;
третью отражающую поверхность, неподвижно закрепленную относительно второй отражающей поверхности;
четвертую отражающую поверхность, неподвижно закрепленную относительно первой отражающей поверхности;
первый переменный зазор между первой отражающей поверхностью и второй отражающей поверхностью; и
второй переменный зазор между третьей отражающей поверхностью и четвертой отражающей поверхностью; и,
по меньшей мере, одну детекторную матрицу, способную принимать часть одного электромагнитного луча.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что каждое относительное перемещение между первой отражающей поверхностью и второй отражающей поверхностью и каждое относительное перемещение между третьей отражающей поверхностью и четвертой отражающей поверхностью могут служить признаком исследуемого параметра.
3. Устройство по п.2, отличающееся тем, что оптическое измерительное устройство содержит:
средний элемент, содержащий вторую отражающую поверхность и третью отражающую поверхность.
4. Устройство по п.3, отличающееся тем, что средний элемент содержит чувствительную массу.
5. Устройство по п.4, отличающееся тем, что чувствительная масса непрозрачна.
6. Устройство по п.1, отличающееся тем, что оптическое измерительное устройство содержит:
внешний элемент, содержащий первую отражающую поверхность и четвертую отражающую поверхность.
7. Устройство по п.6, отличающееся тем, что внешний элемент содержит чувствительную массу.
8. Устройство по п.1, отличающееся тем, что оптическое измерительное устройство может быть настроено таким образом, чтобы разность между первым переменным зазором и вторым переменным зазором в основном равнялась нулю при работе устройства в номинальных условиях.
9. Устройство по п.8, отличающееся тем, что номинальные условия включают в себя, по меньшей мере, одно из следующих условий: i) гравитационный ориентир; ii) нулевое усилие; iii) нулевое ускорение; iv) нулевое давление.
10. Устройство по п.1, отличающееся тем, что, по меньшей мере, один электромагнитный луч содержит несколько электромагнитных лучей, и отличающееся тем, что устройство способно направлять первый электромагнитный луч в первый переменный зазор, а второй электромагнитный луч - во второй переменный зазор.
11. Способ оценки исследуемого параметра в формации, пересекаемой буровой скважиной, включающий в себя:
спуск оптического измерительного устройства в скважину;
генерацию данных от оптического измерительного устройства, относящихся к относительному перемещению исследуемого параметра между двумя или несколькими отражающими поверхностями оптического измерительного устройства; и
предотвращение изменений в данных, в результате изменений в оптическом измерительном устройстве из-за: i) температуры или ii) давления, путем компенсации изменений в оптическом измерительном устройстве.
12. Способ по п.11, отличающийся тем, что компенсация включает в себя корректировку, по меньшей мере, одного источника света, генерирующего электромагнитный луч, по меньшей мере, частично, принятого оптическим измерительным устройством в ответ на корректирующие данные, относящиеся к управлению оптическим измерительным устройством.
13. Способ по п.11, отличающийся тем, что компенсация предусматривает использование оптического измерительного преобразователя перемещения, содержащего:
первую отражающую поверхность;
вторую отражающую поверхность;
третью отражающую поверхность, неподвижно закрепленную относительно второй отражающей поверхности;
четвертую отражающую поверхность, неподвижно закрепленную относительно первой отражающей поверхности;
первый переменный зазор между первой отражающей поверхностью и второй отражающей поверхностью; и
второй переменный зазор между третьей отражающей поверхностью и четвертой отражающей поверхностью; и,
настройку оптического измерительного устройства таким образом, что разность между первым переменным зазором и вторым переменным зазором в основном равна нулю при работе устройства в номинальных условиях.