УСТРОЙСТВО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК СЦИНТИЛЛЯЦИОННОГО МАТЕРИАЛА

1. Устройство определения характеристик сцинтилляционного материала (3), содержащее:
- источник (2) первого излучения для облучения сцинтилляционного материала (3) первым излучением (4) с длиной волны менее 450 нм,
- источник (5) второго излучения для облучения сцинтилляционного материала (3) импульсным вторым излучением (6) с длиной волны более 600 нм и с длительностью импульса, равной или меньшей 50 с, после облучения сцинтилляционного (3) материала первым излучением (4),
- прибор (9) обнаружения третьего излучения (12) от сцинтилляционного материала (3) в течение и/или после облучения вторым излучением (6), причем третье излучение можно использовать в качестве индикатора количества ловушек, захватывающих носители заряда, с тем, чтобы создать возможность для определения характеристик сцинтилляционного материала (3) на основе обнаруженного третьего излучения (12).
2. Устройство определения характеристик по п.1, в котором источник (2) первого излучения выполнен с возможностью облучения сцинтилляционного материала (3) ионизирующим излучением.
3. Устройство определения характеристик по п.2, в котором источник (2) первого излучения выполнен с возможностью облучения сцинтилляционного материала (3) рентгеновским излучением и/или УФ-излучением, и/или гамма-излучением в качестве первого излучения (4).
4. Устройство определения характеристик по п.1, в котором источник (2) первого излучения выполнен с возможностью облучения сцинтилляционного материала (3) неионизирующим УФ-излучением или излучением в видимой части спектра с длиной волны менее 450 нм.
5. Устройство определения характеристик по п.1, в котором источник (5) второго излучения выполнен с возможностью облучения сцинтилляционного материала (3), после облучения сцинтилляционного (3) материала первым излучением (4), сначала вторым излучением с первой длиной волны более 600 нм, а затем вторым излучением со второй длиной волны, причем вторая длина волны меньше первой длины волны.
6. Устройство определения характеристик по п.1, в котором прибор (9) обнаружения выполнен с возможностью генерирования сигнала обнаружения в зависимости от обнаруженного третьего излучения (12), причем устройство (1) определения характеристик дополнительно содержит вычислительный блок (10) для интегрирования сигнала обнаружения с тем, чтобы создать возможность для определения характеристик сцинтилляционного материала (3) на основе интегрированного сигнала обнаружения.
7. Устройство определения характеристик по п.1, в котором сцинтилляционный материал (3) генерирует люминесценцию с длиной волны люминесценции при облучении ионизирующим излучением, причем прибор (9) обнаружения выполнен с возможностью обнаружения излучения с длиной волны люминесценции.
8. Устройство определения характеристик по п.7, в котором прибор (9) обнаружения содержит фильтр (7) длин волн, выполненный с возможностью позволить свету (12) с длиной волны люминесценции проходить фильтр (7) длин волн, и фотодетектор (8) для обнаружения отфильтрованного света.
9. Устройство определения характеристик по п.1, при этом устройство (1) определения характеристик выполнено так, что временной интервал между прекращением облучения сцинтилляционного материала (3) первым излучением (4) и началом облучения сцинтилляционного материала (3) вторым излучением (6) равен 500 с или менее.
10. Устройство определения характеристик по п.1, при этом устройство (1) определения характеристик выполнено с возможностью определения характеристик сцинтилляционного материала (3) для позитронно-эмиссионной томографии, сцинтилляционного материала (3) для однофотонной эмиссионной компьютерной томографии и/или сцинтилляционного материала (3) для компьютерной томографии.
11. Устройство определения характеристик по п.1, при этом устройство (1) определения характеристик выполнено с возможностью определения характеристик сцинтилляционного материала (3), содержащего германат висмута и/или вольфрамат кадмия, и/или ортосиликат лютеция, и/или ортосиликат лютеция, модифицированный 10-ю процентами иттрия вместо лютеция, и/или гранат на основе гадолиния.
12. Способ определения характеристик сцинтилляционного материала (3), включающий:
- облучение сцинтилляционного материала (3) первым излучением (4) с длиной волны менее 450 нм,
- облучение сцинтилляционного материала (3) импульсным вторым излучением (6) с длиной волны более 600 нм и с длительностью импульса, равной или меньшей 50 с, после облучения сцинтилляционного материала (3) первым излучением (4),
- обнаружение третьего излучения (12) от сцинтилляционного материала (3) в течение и/или после облучения вторым излучением (6), причем третье излучение можно использовать в качестве индикатора количества ловушек, захватывающих носители заряда, для того, чтобы создать возможность для определения характеристик сцинтилляционного материала (3) на основе обнаруженного третьего излучения (12).
13. Способ изготовления прибора обнаружения ионизирующего излучения, включающий:
- предоставление сцинтилляционного материала (3), который генерирует люминесценцию при облучении ионизирующим излучением, и предоставление датчика для обнаружения люминесценции,
- определение характеристик сцинтилляционного материала (3) путем выполнения способа определения характеристик по п.12,
- выбор сцинтилляционного материала (3), который должен использоваться для изготовления прибора (9) обнаружения, на основе определения характеристик,
- изготовление прибора (9) обнаружения на основе выбранного сцинтилляционного материала (3) и предоставленного датчика.
14. Компьютерная программа для управления устройством определения характеристик по п.1, причем компьютерная программа содержит средство программного кода для побуждения устройства определения характеристик выполнять этапы способа определения характеристик по п.12, когда компьютерная программа выполняется на компьютере, управляя устройством определения характеристик.