СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ ПО НАДЕЖНОСТИ

1
2
Способ разделения полупроводниковых изделий по надежности, включающий измерение низкочастотного шума на двух частотах f и f, различающихся не менее чем на удвоенные значения ширины полосы измерения, при номинальном напряжении питания и одинаковом значении ширины полосы измерения, и вычисление коэффициента γ, характеризующего вид спектра, по формуле:
1
2
1
2
2
1
где  и  - квадрат эффективного значения шума соответственно на частотах f и f, отличающийся тем, что измерение низкочастотного шума и вычисление коэффициента проводят до γ и γ после воздействия рентгеновским излучением допустимой по техническим условиям дозой и по значению коэффициента M=γ/γ, партию полупроводниковых изделий разделяют на надежные и ненадежные изделия.