СИСТЕМА И СПОСОБ ДЕТЕКТИРОВАНИЯ

1. Система детектирования, содержащая:
держатель для подложки (16), причем подложка имеет поверхность детектирования и выполнена с возможностью содержать объем образца так, что образец находится, по меньшей мере, частично в контакте с поверхностью детектирования;
источник (18) возбуждающего излучения для подачи возбуждающего излучения;
компоновку подачи излучения для подачи возбуждающего излучения на область возбуждения образца, причем область возбуждения содержит поверхность детектирования;
детектор (22), чтобы детектировать излучение детектирования, возникающее в результате взаимодействия возбуждающего излучения с образцом и собранное от анализируемой области в пределах области возбуждения образца, причем анализируемая область содержит поверхность детектирования;
причем система дополнительно содержит магнитную компоновку, расположенную вблизи и с той же стороны поверхности детектирования образца, и неподвижную относительно источника (18) возбуждающего излучения и компоновки подачи излучения, причем магнитная компоновка выполнена с возможностью притягивать магнитные гранулы (15) в пределах образца к поверхности детектирования, и компоновку (24) направления магнитного поля для фокусировки магнитного поля от магнитной компоновки на анализируемую область, причем компоновка (24) направления магнитного поля содержит отверстие, через которое компоновка подачи излучения может направить возбуждающее излучение и/или излучение детектирования.
2. Система детектирования по п.1, в которой возбуждающее излучение является затухающим (21).
3. Система детектирования по п.1, в которой компоновка подачи излучения подает возбуждающее излучение на анализируемую область вверх из центра компоновки (24) направления магнитного поля, и имеет компоновку (72) излучения, чтобы фокусировать излучение на анализируемую область для создания затухающего излучения в образце.
4. Система детектирования по п.3, в которой компоновка (72) излучения служит также для фокусировки собранного излучения детектирования на детектор (22), причем компоновка излучения содержит разделитель (70) луча, чтобы предоставить различные пути излучения для собранного излучения детектирования и возбуждающего излучения.
5. Система детектирования по п.1, в которой детектор (22) установлен на поверхности магнитной компоновки (50), которая наиболее близка к держателю образца.
6. Система по любому из пп.1 или 2, в которой детектор (22) и магнитная компоновка (82) находятся рядом на опоре (80), причем опора (80) подвижна между положением магнитной активации и положением детектирования.
7. Система детектирования по любому из пп.1-3, в которой детектор (22) содержит компоновку фокусировки излучения.
8. Система детектирования по любому из пп.1-3, в которой детектор (22) содержит полосовой фильтр излучения или фильтр верхних частот излучения.
9. Система детектирования по любому из пп.1 или 2, в которой компоновка подачи излучения содержит компоновку (26) излучения, связанную с источником (18) возбуждающего излучения, чтобы навести возбуждающее излучение на анализируемую область под острым углом относительно поверхности детектирования подложки (16) так, что подложка обеспечивает полное внутреннее отражение.
10. Система детектирования по любому из пп.1 или 2, в которой компоновка подачи излучения содержит направитель затухающего излучения.
11. Система детектирования по любому из пп.1-3, в которой возбуждающее излучение является светом, и детектируемое излучение представляет собой люминесцирующее излучение.
12. Система детектирования по любому из пп.1-3, в которой детектор содержит пиксельный детектор света.
13. Способ детектирования, содержащий этапы, на которых:
приводят в действие магнитную компоновку, расположенную ниже анализируемой области образца, поддерживаемого подложкой, при этом притягивают магнитные гранулы (15) в пределах образца к поверхности детектирования подложки в пределах анализируемой области, причем магнитное поле от магнитной компоновки фокусируется на анализируемую область посредством компоновки (24) направления магнитного поля, которая содержит отверстие;
подают возбуждающее излучение (18) из источника возбуждающего излучения на анализируемую область образца от первой стороны поверхности детектирования, в течение этих этапов магнитная компоновка неподвижна относительно источника (18) возбуждающего излучения и относительно компоновки подачи излучения;
собирают детектируемое излучение, возникающее в результате взаимодействия возбуждающего излучения с образцом, от анализируемой области образца и от первой стороны поверхности детектирования, причем возбуждающее излучение и/или излучение детектирования направляется через отверстие компоновки (24) направления магнитного поля; и
детектируют собранное излучение детектирования.