СПОСОБ ПРОИЗВОДСТВА СТЕКЛЯННЫХ ИЗДЕЛИЙ ИЗ МАТЕРИАЛА ДЛЯ НИХ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫПОЛНЕНИЯ УКАЗАННОГО СПОСОБА

1. Способ производства стеклянных изделий из материала для них, включающий
a. нагрев материала для стеклянных изделий;
b. придание нагретому материалу для стеклянных изделий формы стеклянного изделия;
c. охлаждение сформованного стеклянного изделия;
d. проверку сформованных стеклянных изделий посредством по меньшей мере одного светочувствительного датчика, в частности посредством датчика, чувствительного к инфракрасному излучению,
отличающийся тем, что проверка включает
e. получение множества изображений стеклянного изделия при множестве взаимно различающихся направлений наблюдения относительно изделия соответственно;
f. сравнивание указанного множества изображений для обнаружения дефекта в изделии и, предпочтительно, определения протяженности такого дефекта.
2. Способ по п. 1, в котором
этап f. включает игнорирование возможного дефекта, не классифицирование возможного дефекта как существующего дефекта или классифицирование возможного дефекта как паразитного дефекта посредством сравнивания указанного множества изображений, если возможный дефект появляется только на одном из изображений, на меньшей части изображений в одном и том же положении на объекте или менее чем на предварительно заданном числе изображений в одном и том же положении на объекте; и/или в котором
этап f. включает игнорирование возможного дефекта или классифицирование возможного дефекта как паразитного дефекта посредством сравнивания указанного множества изображений, если возможный дефект появляется в различных положениях на изделии на указанном множестве изображений; и/или в котором
этап f. включает классифицирование возможного дефекта как существующего дефекта посредством сравнивания указанного множества изображений, если возможный дефект появляется на каждом из изображений в одном и том же положении на изделии, на большей части изображений в одном и том же положении на изделии или по меньшей мере на предварительно заданном числе изображений в одном и том же положении на изделии.
3. Способ по п. 1 или 2, в котором
этап f. включает обнаружение на указанном множестве изображений положения на изделии, которое показывает возможный дефект по меньшей мере на предварительно заданном числе изображений из указанного множества изображений.
4. Способ по п. 3, в котором
на этапе f. возможный дефект классифицируют как существующий дефект, если возможный дефект расположен в одном и том же положении на изделии по меньшей мере на предварительно заданном числе изображений из указанного множества изображений.
5. Способ по п. 1 или 2, в котором
этап e. включает:
- e1. получение первого изображения стеклянного изделия при первом направлении наблюдения относительно изделия;
- e2. получение по меньшей мере одного второго изображения указанного стеклянного изделия при втором направлении наблюдения относительно изделия, причем
первое направление наблюдения отличается от второго направления наблюдения; а
этап f включает сравнивание первого изображения и указанного по меньшей мере одного второго изображения для обнаружения дефекта на изделии и определения по возможности протяженности такого дефекта.
6. Способ по п. 5, в котором этап f. содержит
f1. определение, виден или нет возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении на стеклянном изделии, также на указанном по меньшей мере одном втором изображении в первом положении на изделии, и/или
f2. определение, виден или нет возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении, также на указанном по меньшей мере одном втором изображении во втором положении на изделии, причем первое положение отличается от второго положения, и/или
f3. определение того, что возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении на стеклянном изделии, не виден на указанном по меньшей мере одном втором изображении.
7. Способ по п. 6, в котором
на этапе f1. возможный дефект классифицируют как существующий дефект, если возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении на стеклянном изделии, также виден на указанном по меньшей мере одном втором изображении в первом положении на изделии.
8. Способ по п. 6 или 7, в котором
на этапе f2. возможный дефект не классифицируют как существующий дефект или игнорируют, если возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении, также виден на указанном по меньшей мере одном втором изображении во втором положении на изделии, причем первое положение отличается от второго положения.
9. Способ по п. 8, в котором
на этапе f2. возможный дефект классифицируют как паразитное отражение, если возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении, также виден на указанном по меньшей мере одном втором изображении во втором положении на изделии, причем первое положение отличается от второго положения.
10. Способ по пп. 6, 7 или 9, в котором
на этапе f3. возможный дефект не классифицируют как существующий дефект или игнорируют, если возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении на стеклянном изделии, не виден на указанном по меньшей мере одном втором изображении.
11. Способ по п. 10, в котором
на этапе f3. возможный дефект классифицируют как паразитное отражение, если возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении на стеклянном изделии, не виден на указанном по меньшей мере одном втором изображении.
12. Способ по п. 5, в котором
этап e. дополнительно включает
e3. получение по меньшей мере еще одного изображения стеклянного изделия при еще одном направлении наблюдения относительно изделия, отличном от первого направления наблюдения и от второго направления наблюдения.
13. Способ по п. 12, в котором
этап f. включает этап f5., включающий
определение, виден или нет возможный дефект, который виден на первом изображении в первом положении на изделии, также на втором изображении в первом положении на изделии и на указанном по меньшей мере еще одном изображении в первом положении на изделии, предпочтительно причем, если одно или, предпочтительно, оба условия выполнены, возможный дефект классифицируют как существующий дефект.
14. Способ по п. 12 или 13, в котором
этап f. включает этап f6., включающий
определение, виден или нет возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении на изделии, также на втором изображении во втором положении на изделии и на указанном по меньшей мере еще одном изображении в третьем положении на изделии, причем предпочтительно, если первое положение отличается от второго положения и/или первое положение отличается от третьего положения, возможный дефект не классифицируют как существующий дефект, игнорируют или классифицируют как паразитное отражение.
15. Способ по п. 12 или 13, в котором
этап f. включает этап f6., включающий
определение того, что возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении на изделии, не виден на втором изображении и/или не виден на указанном по меньшей мере еще одном изображении, предпочтительно причем, если одно из этих условий выполнено, возможный дефект не классифицируют как существующий дефект, игнорируют или классифицируют как паразитное отражение.
16. Способ по п. 1 или 2, в котором
на этапе e. указанное множество изображений получают различными датчиками.
17. Способ по п. 1 или 2, в котором
на этапе e. используют по меньшей мере два датчика, которые расположены на каждой из сторон стеклянного изделия.
18. Способ по п. 1 или 2, в котором
на этапе e. указанное множество изображений получают одним и тем же датчиком.
19. Способ по п. 1 или 2, который включает
обеспечение оптической системы, и в котором этап e. включает использование оптической системы для получения любого из изображений указанного изделия при использовании по меньшей мере одного датчика.
20. Способ по п. 1 или 2, который дополнительно включает
перемещение сформованного стеклянного изделия посредством конвейера, и в котором изображения получаются во время перемещения.
21. Способ по п. 20, в котором
направление наблюдения за изделием задано углом наблюдения за изделием относительно направления, в котором перемещаются изделия.
22. Способ по п. 20, который дополнительно включает
размещение множества сформованных стеклянных изделий на конвейере;
одновременное перемещение множества сформованных стеклянных изделий посредством конвейера;
получение на этапе е. указанного множества изображений указанного множества сформованных стеклянных изделий во время перемещения указанного множества изделий в различные моменты времени и при взаимно различающихся направлениях наблюдения относительно направления, в котором перемещается указанное множество изделий, так что указанное множество изображений включает совокупность изображении изделия при различных направлениях наблюдения относительно изделия для каждого изделия из указанного множества изделий.
23. Способ по п. 22, в котором
на этапе f. из указанного множества изображений получают множество изображений по меньшей мере одного и того же изделия, причем указанное множество изображений по меньшей мере одного изделия включает изображения при различных углах наблюдения относительно изделия соответственно для сравнивания указанного множества изображений по меньшей мере одного изделия.
24. Способ по п. 22 или 23, в котором
скорость конвейера равна v, изделия на конвейере разделены в конвейерном направлении так, что расстояние между соседними изделиями равно S, а в последовательности для набора из m соседних изделий получают m изображений в течение момента времени, меньшего, чем S/v, при этом m изображений имеют взаимно различающиеся углы наблюдения для m изделий, а последовательность получения m (m=2, 3, 4, …) изображений при взаимно отличающихся направлениях наблюдения выполняется для наборов изделий Pj, Pj-1, Pj-2, Pj-3, …, Pj-(m-1) для j=0, +/-1, +1-2, +/-3, причем для каждого значения j Pj и Pj-1 являются соседними изделиями на конвейере, a Pj расположен выше по потоку относительно Pj-1.
25. Способ по п. 1 или 2, в котором
указанное множество изображений используют для создания по существу полного изображения стеклянного изделия, или в котором первое изображение и второе изображение и/или дальнейшие изображения используют для создания по существу полного изображения стеклянного изделия.
26. Способ по п. 1 или 2, в котором
область изделия с локально повышенной интенсивностью инфракрасного излучения признают возможным дефектом изделия.
27. Устройство для реализации способа производства стеклянных изделий из материала для них по любому из пп. 1-26, содержащее
нагревательный блок для нагрева материала для стеклянных изделий;
блок для формования изделия для придания формы стеклянного изделия нагретому материалу для стеклянных изделий;
поверхность для отжига для охлаждения сформованного стеклянного изделия;
проверяющий блок для проверки сформованного стеклянного изделия, содержащий по меньшей мере один светочувствительный датчик, причем датчик, в частности, чувствителен к инфракрасному излучению; и
блок для управления и обработки, соединенный с указанным по меньшей мере одним датчиком для приема выходных сигналов, доставленных указанным по меньшей мере одним датчиком, характеризующих по меньшей мере одно изображение стеклянного изделия, и выполненный с возможностью определения содержит ли стеклянное изделие дефекты или нет и определения по возможности протяженности такого дефекта;
причем проверяющий блок выполнен с возможностью получения множества изображений стеклянного изделия при множестве взаимно различающихся направлений наблюдения относительно этого изделия соответственно; и
при этом блок для обработки выполнен с возможностью сравнивания указанного множества изображений для обнаружения дефекта в изделии и определения по возможности протяженности такого дефекта.
28. Устройство по п. 27, в котором
блок для обработки выполнен с возможностью игнорировать возможный дефект или классифицировать возможный дефект как паразитный дефект, если возможный дефект появляется только на одном из изображений, на меньшей части изображений в одном и том же положении на объекте или менее чем на предварительно заданном числе изображений в одном и том же положении на объекте; и/или в котором
блок для обработки выполнен с возможностью игнорировать возможный дефект или классифицировать возможный дефект как паразитный дефект, если возможный дефект появляется в различных положениях на изделии на указанном множестве изображений, и/или в котором
блок для обработки выполнен с возможностью классифицирования возможного дефекта как существующего дефекта, если возможный дефект появляется на каждом из изображений в одном и том же положении на изделии, на большей части изображений в одном и том же положении на изделии или по меньшей мере на предварительно заданном числе изображений в одном и том же положении на изделии.
29. Устройство по п. 27 или 28, в котором
блок для обработки выполнен с возможностью обнаружения на указанном множестве изображений положения на изделии, которое показывает возможный дефект по меньшей мере на предварительно заданном числе изображений из указанного множества изображений.
30. Устройство по п. 29, в котором
блок для обработки выполнен с возможностью классифицирования возможного дефекта как дефекта, если возможный дефект расположен в одном и том же положении на изделии по меньшей мере на предварительно заданном числе изображений из указанного множества изображений.
31. Устройство по п. 27 или 28, в котором
блок для обработки выполнен с возможностью получения первого изображения стеклянного изделия при первом направлении наблюдения относительно изделия и второго изображения стеклянного изделия при втором направлении наблюдения относительно изделия, причем
первое направление наблюдения отличается от второго направления
наблюдения, а
блок для обработки выполнен с возможностью сравнивания первого изображения и указанного по меньшей мере одного второго изображения для обнаружения дефекта на изделии и определения по возможности протяженности такого дефекта.
32. Устройство по п. 31, в котором
блок для обработки выполнен с возможностью определения, виден или нет возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении на стеклянном изделии, также на указанном по меньшей мере одном втором изображении в первом положении на изделии, причем
предпочтительно блок для обработки также выполнен с возможностью классифицирования возможного дефекта как существующего дефекта, если возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении на стеклянном изделии, также виден на указанном по меньшей мере одном втором изображении в первом положении на изделии, и/или
с возможностью определения, виден или нет возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении, также на указанном по меньшей мере одном втором изображении во втором положении на изделии, причем
первое положение отличается от второго положения, при этом
предпочтительно блок для обработки также выполнен с возможностью классифицирования возможного дефекта как существующего дефекта, если возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении, также виден на указанном по меньшей мере одном втором изображении во втором положении на изделии, причем
первое положение отличается от второго положения, и/или
предпочтительно блок для обработки также выполнен с возможностью классифицирования возможного дефекта как паразитного отражения, если возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении, также виден на указанном по меньшей мере одном втором изображении во втором положении на изделии, причем
первое положение отличается от второго положения; и/или
с возможностью определения того, что возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении на стеклянном изделии, не виден на указанном по меньшей мере одном втором изображении, причем
предпочтительно блок для обработки также выполнен с возможностью классифицирования возможного дефекта как существующего дефекта, если возможный дефект, который виден на первом изображении и расположен в первом положении на стеклянном изделии, не виден на указанном по меньшей мере одном втором изображении.
33. Устройство по п. 31, в котором
проверяющий блок выполнен с возможностью получения еще одного изображения при еще одном направлении наблюдения относительно изделия, отличном от первого и второго направлений наблюдения, причем блок для обработки выполнен с возможностью сравнивания указанного еще одного изображения стеклянного изделия с первым и/или вторым изображениями стеклянного изделия для обнаружения дефекта на изделии и определения по возможности протяженности такого дефекта.
34. Устройство по п. 27 или 28, в котором
блок для обработки дополнительно содержит оптическую систему для получения любого изображения из указанного множества изображений указанного стеклянного изделия посредством по меньшей мере одного датчика.
35. Устройство по п. 27 или 28, которое
дополнительно содержит конвейер для перемещения сформованных стеклянных изделий и размещающий блок для размещения множества сформованных стеклянных изделий на конвейере, а блок для управления выполнен с возможностью управления конвейером для одновременного перемещения указанного множества сформованных стеклянных изделий и с возможностью управления проверяющим блоком для получения изображений во время указанного перемещения, причем предпочтительно направление наблюдения за изделием задано углом наблюдения относительно направления транспортировки конвейера.
36. Устройство по п. 35, в котором
проверяющий блок содержит по меньшей мере два датчика, расположенных на каждой из сторон конвейера.
37. Устройство по п. 27 или 28, в котором
блок для управления и обработки выполнен с возможностью классифицирования области изделия с локально повышенной интенсивностью инфракрасного излучения как возможного дефекта на изделии.