ТРИГГЕР КОМПЛЕМЕНТАРНОЙ МЕТАЛЛ-ОКСИД-ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ СТРУКТУРЫ МИКРОСХЕМЫ
TRIGGER FOR COMPLEMENTARY MICROCIRCUIT OF METAL-OXIDE-SEMICONDUCTOR STRUCTURE

Изобретение относится к логическим элементам микросхем с наноразмерными проектными нормами для высоконадежной вычислительной техники и может быть использовано в элементах управления микропроцессорных микросхем и элементах считывания запоминающих устройств.
Наиболее близкой по технической сущности и достигаемому результату является триггер комплементарной металл-оксид-полупроводниковой структуры микросхемы, состоящий из пар NMOП и РМОП транзисторов, соединенных между собой, с шиной источника питания, линиями управления и выходными линиями и размещенных на кристалле интегральной микросхемы (см. Wang W., Gong Н. Edge triggered pulse latch design with delayed latching edge for radiation hardened application // IEEE Trans. Nucl. Science. 2004. V.51. №6. P.3616-3630).
Недостатком описанного триггера является недостаточная помехоустойчивость и сниженная радиационная стойкость транзисторов триггера к воздействию одиночных ядерных частиц.
Техническим результатом, ожидаемым от использования изобретения, является повышение сбоеустойчивости к воздействию одиночных ядерных частиц без избыточного увеличения площади, занимаемой триггером на кристалле.
Указанный технический результат достигается тем, что в триггере комплементарной металл-оксид-полупроводниковой структуры микросхемы, состоящем из пар NМОП и РМОП транзисторов, соединенных между собой, с шиной источника питания, линиями управления и выходными линиями и размещенных на кристалле интегральной микросхемы, согласно изобретению транзисторы объединены в два блока, каждый из которых содержит две группы из двух NМОП транзисторов и двух РМОП транзисторов, стоки РМОП транзисторов в каждой группе соединены с затвором первого NМОП транзистора в группе, сток которого соединен с затвором первого из двух РМОП транзисторов, а исток со стоком второго NМОП транзистора в этой группе, сток первого РМОП транзистора первой группы блока соединен со стоком первого NМОП транзистора второй группы этого блока, причем два блока транзисторов размещены на кристалле интегральной микросхемы один от другого на расстоянии, равном или больше порогового расстояния, для исключения одновременного воздействия одиночной ядерной частицы на оба блока транзисторов с уровнем больше порогового.
Указанная совокупность признаков позволяет снизить вероятность сбоя состояния триггера при воздействии одиночной ядерной частицы при одновременном снижении площади, занимаемой триггером на кристалле.
Изобретение поясняется чертежами, где на фиг.1 изображена электрическая принципиальная схема триггера, на фиг.2 изображена схема взаимного расположения транзисторов в блоках триггера и блоков относительно друг друга.
Триггер содержит два блока I, II транзисторов, первый блок I имеет пять выводов 1, 2, 3, 4, 5, второй блок II имеет пять выводов 6, 7, 8, 9, 10. В состав первого блока I входят четыре NМОП транзистора 11, 12, 13, 14 и четыре РМОП транзистора 15, 16, 17, 18, в состав второго блока II входят четыре NМОП транзистора 19, 20, 21, 22 и четыре РМОП транзистора 23, 24, 25, 26. Выводы 3 и 8 блоков I и II являются двумя прямыми выходами триггера, вывод 27, объединяющий выводы 4 и 10 блоков I и II, и вывод 28, объединяющий выводы 5 и 9 блоков I и II, являются двумя инверсными выходами триггера, выводы 1, 2, 6, 7 являются входами управления триггера.
Транзисторы 11, 12, 15, 16 образуют первую группу транзисторов первого блока I, транзисторы 13, 14, 17, 18 образуют вторую группу транзисторов первого блока I, транзисторы 19, 20, 23, 24 образуют первую группу второго блока II, транзисторы 21, 22, 25, 26 образуют вторую группу второго блока II.
Расстояние между двумя блоками транзисторов должно быть равным или больше порогового и определяется из выражения:
1,2
ПОР
ТР2
СБ2
n,p
ТР
ВЫХ.ОТКР
Н
ВЫХ
ПЕР
1/3
L≥L={(πQSD/(8Δl))(R·λλ/U)}×tgθ,
ТР2
ТР
где Q - заряд, образованный на отрезке трека Δl, наиболее близкого ко второму блоку II транзисторов;
СБ2
СБ2
СБ2
S=Δl×w - площадь сбора заряда во втором блоке II транзисторов;
СБ2
Δl - размер области сбора заряда в одном направлении с направлением трека, а
СБ2
w - в поперечном направлении;
n,p
D - коэффициент амбиполярной диффузии носителей заряда;
ТР
Δl - длина отрезка трека, из области которого диффундируют неравновесные носители во второй блок II транзисторов;
ВЫХ.ОТКР
R - выходное сопротивление (усредненное значение) открытого МОП транзистора, соединенного его собственным стоком со стоком транзистора, собирающего заряд во втором блоке II транзисторов;
ПЕР
U - напряжение переключения транзистора второго блока II триггера;
Н
Н
СП
Н
СП
Н
a
a
θ - угол наклона трека частицы относительно нормали к поверхности кристалла; λ=(τ/τ), =τ/(τ-τ).
Н
СП
D
Постоянные времени нарастания τ и спада τ импульса фототока, образованного диффузией заряда от трека частицы, зависят от постоянной времени диффузии неравновесных носителей τ из области трека до собирающей заряд области второго блока II транзисторов ячейки и их связь известна (см. Fulkerson D.E. A physics-based engineering methodology for calculating soft error rates of bulk CMOS and SiGe heterojunction bipolar transistor integrated circuits // IEEE Trans. Nucl. Science. 2010. Vol.57. №1. pp.348):
СП
D
n,р
Н
СП
2
2
τ=τ=4r/(πD) и τ=τ/9,
n,р
где D - коэффициент амбиполярной диффузии носителей заряда.
ВЫХ
ВЫХ
ВЫХ
СП
ВЫХ
СП
ВЫХ
ВЫХ
ВЫХ.ОТКР.2
УЗЛА
УЗЛА
ПЕР
a
a
Коэффициент λ определяется как λ=(τ/τ), =τ/(τ-τ), где τ=R×C - постоянная времени перезаряда узла триггера; C - емкость узла, заряд Q на которой образует импульс помехи с амплитудой, переключающей триггер.
TР2
Заряд Q следует из выражения:
ТР2
Si
ТР
р,n
Q=q×LET×ρ×Δl/E,
где LET - линейные потери энергии частицей;
q - заряд электрона;
ТР
Δl - длина отрезка трека, из области которого диффундируют неравновесные носители;
Si
ρ - плотность кремния;
р,n
E - энергия образования одной электронно-дырочной пары.
Описанное устройство может работать в одном из двух режимов: хранение и запись данных.
В режиме хранения на выходах 3, 8, 27, 28 триггера сохраняются установленные при записи логические уровни сигналов “0” и “1” с дублированием одного логического уровня данных на выводах 3 и 8, а другого на выводах 27, 28. Триггер в режиме хранения может находиться в двух устойчивых состояниях: в одном состоянии на двух выходах 3 и 8 уровни сигнала “0”, а на двух других выходах 27, 28 - уровни “1”. В другом устойчивом состоянии триггера логические уровни сигналов на этих выходах меняются.
В режиме записи под действием управляющих сигналов на выводах 1, 2, 6, 7 триггер устанавливается в одно из двух устойчивых состояний. Изменить состояние триггера при записи можно, только подавая два сигнала управления с уровнями логических “0” на выводы 2 и 7 в режиме, когда на выходах 3 и 8 находятся логические сигналы с уровнями “0”, а на выходах 27, 28 находятся логические сигналы с уровнями “1”. В этом случае управляющие сигналы на выводах 2 и 7 переключают состояние триггера, замыкая цепь положительной обратной связи в триггере. Аналогично изменить состояние триггера, когда на выходах 3 и 8 находятся логические сигналы с уровнями “1”, а на выходах 27, 28 находятся логические сигналы с уровнями “0”, можно, только подавая два сигнала управления с уровнями логических “0” на выводы 1 и 6.
Снижение площади, занимаемой триггером на кристалле, обеспечивается близким расположением всех транзисторов в блоках и снижением до двух шин связей между блоками.
При воздействии на триггер одиночной ядерной частицы, когда трек частицы направлен от запертого транзистора одного блока I к запертому транзистору другого блока II, происходит образование вдоль трека частицы неравновесных носителей заряда, которые диффундируют к транзисторам, где выводятся в виде фототоков через стоковые электроды запертых транзисторов и перезаряжают емкости этих узлов, вызывая импульсы напряжения помехи, которые могут произвести сбой состояния триггера при превышении порога переключения.
Критичным для оценки стойкости триггера является сбой состояния в режиме хранения. Сбой логического состояния триггера может произойти при воздействии частицы одновременно на два МОП транзистора триггера, находящихся в запертом состоянии, исключая воздействия на следующие пары транзисторов 11 и 15, 13 и 17, 19 и 23, 21 и 25 в их запертом состоянии, при котором происходит размыкание обратной связи в триггере, что и сохраняет исходное логическое состояние триггера.
Сбой исходного состояния триггера возможен только при одновременном воздействии одиночной частицы на пару запертых транзисторов, один из которых относится к блоку I транзисторов, а второй к блоку II транзисторов. В одном из двух логических состояний триггера (см. фиг.1 и фиг.2) это пары транзисторов - 11 и 19, 11 и 23, 15 и 19, 15 и 23, а для другого логического состояния триггера следующие пары: 17 и 25, 17 и 21, 13 и 25, 13 и 21.
Пример реализации изобретения
Изобретение может быть реализовано в тактируемых одно- и двухступенчатых триггерах, использованных в блоке управления регистрового файла КМОП микропроцессорной системы с проектной нормой 65 нм. Эскизное изображение конструкции триггера приведено на фиг.2.
1,2
1,2
1,2
1,2
В одном логическом состоянии триггера на фиг.2 заперты транзисторы 11, 15 блока I и транзисторы 19, 23 блока II, расположенные в верхних половинах блоков I и II на фиг 2. В другом логическом состоянии заперты транзисторы 13, 17 блока 1 и транзисторы 21, 25 блока II триггера, расположенные в нижних половинах блоков I и II на фиг 2. На фиг.2 отмечены расстояния между двумя группами запертых транзисторов для одного логического состояния триггера L и для другого L′. Эти расстояния для приведенного размещения транзисторов одинаковы L=L′ и определяют сбоеустойчивость триггера в двух его логических состояниях.
1,2
Для достижения технического результата - повышения сбоеустойчивости триггера при воздействии одиночных ядерных частиц блоки I и II транзисторов триггера (см. фиг.2) разнесены на расстояние L=2,5 мкм.
Сбоеустойчивость триггера при воздействии одиночных ядерных частиц обусловлена предложенным разделением транзисторов триггера на два блока и разнесением их на кристалле микросхемы на расстояние, равное или больше порогового расстояния, исключающего одновременное воздействие одиночной ядерной частицы на оба блока I и II транзисторов с уровнем больше порогового.
ПОР
ПЕР
ПЕР
СБ
СБ
ПОР
1,2
1,2
ПОР
Сбой состояния триггера при одновременном воздействии частицы на два обратно смещенных транзистора из разных блоков I и II триггера, например на транзисторы 11 и 23, возможен, когда на каждый из этих транзисторов выводятся заряды больше порогового значения для каждого транзистора Q, в результате чего амплитуда импульса помехи на соответствующем узле превышает пороговое значения переключения, например, U=0,25-0.5 В для триггеров по проектной норме КМОП 65 нм и U=0,1-0,15 В для триггеров по проектной норме КМОП 28 нм. Если же запертым транзистором блока II от импульса фототока на емкость узла выводится заряд Q меньше порогового заряда переключения Q<Q, то независимо от значения заряда, собранного другим запертым транзистором в блоке I, сбоя триггера не происходит, поскольку импульс помехи в блоке II имеет амплитуду меньше напряжения порога переключения. Критичными при оценке сбоеустойчивости триггера являются воздействия частицы, когда ее трек проходит в направлении от одного блока I к другому блоку II (см. фиг.2) и под малым углом к поверхности полупроводникового кристалла микросхемы, что соответствует углам наклона трека частицы относительно нормали к поверхности кристалла θ≥60°, причем трек частицы проходит через область обратно смещенного pn перехода сток-подложка запертого транзистора в блоке I, например транзистора 11 (см. фиг.2), непосредственно воздействуя на этот транзистор, а на второй из пары запертых транзисторов, который относится к блоку II и одновременно подвергается воздействию частицы, например транзистор 23, действует заряд неосновных носителей, диффундирующих к нему от ближайшей к нему области трека частицы. Для исключения сбоя триггера расстояние L=L′ между парами чувствительных МОП транзисторов из двух блоков I и II должно быть равно или больше порогового значения L.
ПОР
С.НАС
ВЫХ.ОТКР
УЗЛА
2
В таблице 1 приведены результаты моделирования пороговых расстояний L в зависимости от параметров воздействующей частицы для триггера по проектной норме КМОП 65 нм, обеспечивающих стойкость к воздействию одиночных ядерных частиц с линейными потерями 40 и 60 МэВ·cм/мг для углов падения одиночной частицы θ=60° и 75° в зависимости от параметров транзисторов: I=67-107 мкА, R=4.1-7.3 кОм при C=4 фФ.
Таблица 1
Пороговые расстояния L<sub>ПОР</sub> между запертыми транзисторами двух блоков I и II транзисторов триггера
Пример №
1
2
3
4
5
6
θ, градус
60
60
60
60
75
75
LET, МэВ·см<sup>2</sup>/мг
40
60
40
60
40
40
Δl<sub>ТР</sub>, мкм
0.6
0.6
0.6
0.6
0.6
0.6
D<sub>n,p</sub>, см<sup>2</sup>/с
10
10
10
10
10
10
S<sub>СБ2</sub>, мкм<sup>2</sup>
0.2
0.2
0.2
0.2
0.2
0.2
I<sub>С.НАС</sub>, мкА
107∗
107∗
67∗∗
67∗∗
107∗
67∗∗
R<sub>ВЫХ.ОТКР</sub>, кОм
4.1
4.1
7.3
7.3
4.1
7.3
U<sub>ПЕР</sub>, фКл
0.3
0.3
0.3
0.3
0.3
0.3
U<sub>ПОР</sub>, мкм
1.19
1.38
1.37
1.57
2.56
2.97
Примечание: ∗ параметры одного логического состояния триггера; ∗∗ параметры второго логического состояния триггера
2
2
1,2
ПОР
1,2
ПОР
Моделирование показало, что описанный триггер по проектной норме КМОП 65 нм обеспечивает бессбойную работу при воздействии одиночных частиц с углами наклона трека 60° и значениями линейных потерь энергии LET=60 МэВ×см/мг при расстоянии между блоками L≥L=1.57 мкм и с углами 75° при линейных потерях энергии LET=40 МэВ×см/мг при обеспечении расстоянии между блоками L≥L=2.97 мкм.