УСТРОЙСТВО СЧИТЫВАНИЯ МАРКИРОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН

УСТРОЙСТВО СЧИТЫВАНИЯ МАРКИРОВКИ ПОЛУПРОВОДИИКОВЫХ ПЛАСТИИ
Полезная модель относится к устройствам регистрации идентификационной визуальной информации и предназначена для автоматического считывания маркировки полупроводниковых пластин для их идентификации.
Известен ряд регистраторов маркировки различных изделий, в частности считыватели штриховых кодов (Рекламный проспект прилагается). Их особенностями является то, что они предназначены для считывания изображений с матовых (не зеркальных) поверхностей.
Задача полезной модели - расширение функциональных возможностей, а именно обеспечение автоматического считывания маркировки с поверхности полупроводниковых пластин, имеющих различные оптические свойства по шероховатости (после обрезки, шлифовальной и полированной) для рельефной маркировки.
Технический результат достигается тем, что устройство считывания маркировки полупроводниковых пластин содержаш;ее устройство регистрации световой информации, объектив, имеет две системы подсветки для шероховатой и зеркальной поверхности, причем с шероховатой поверхности полупроводниковых пластин контрастное изображение получают при освещении пластины в прямых лучах, а при зеркальной - в косых.
На фигуре изображена схема прилагаемого устройства. Устройство считывания маркировки полупроводниковых пластин содержит устройство 1 регистрации световой информации (телекамеру), объектив 2, две системы 3, 4 подсветки, коллекторы 5, 6.
Устройство работает следующими образом.
Полупроводниковая пластина 7, при помощи транспортирующего устройства поступает в зону считывания. Сигнал с датчика позиционирования поступает на синхронизирующее устройство.
Устройство 1 регистрации световой информации через объектив 2 регистрирует изображение маркировки с пластины 7.
Для получения изображения маркировки с шероховатой поверхности используют первую систему 3 подсветки, свет которой через коллектор 5 освещает поверхность пластины 7 прямыми лучами, обеспечивая получение изображения рельефной маркировки.
Для получения изображения маркировки с зеркальной поверхности пластины используют вторую систему 4 подсветки, свет которой через коллектор 6 освещает поверхность пластины 7 косыми лучами.
Таким образом две системы подсветки устройства считывания маркировки обеспечивают освещение поверхности полупроводниковых пластин прямыми лучами для шероховатой и косыми для полированной и зеркальной, что позволяет устройству регистрации световой информации регистрировать контрастное изображение маркировки.