УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА ИСПРАВНОСТИ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ

Полезная модель относится к области физики, а более конкретно к устройствам для измерения и испытания работоспособности электронных компонентов.
Известны методы проверки исправности электронных компонентов (диодов, биполярных транзисторов и др.) путем последовательного измерения проводимости между парами контактных выводов с помощью омметра, в основе принципа действия которого лежит использование резистивного измерительного моста. Такой метод проверки исправности электронных компонентов требует от оператора неоднократного выполнения коммутации измерительного прибора и анализа результатов измерения.
Современный уровень развития техники позволяет возложить задачи коммутации и анализа результатов измерений на микропроцессор, который является основой тестера исправности электронных компонентов.
Наиболее близким техническим решением к предлагаемой полезной модели является тестер электронных компонентов "AVR-Transistortester" (Markus Frejek AVR-Transistortester, Embedded Projects Journal, 11. Ausgabe, 2011), предназначенный для проверки, определения расположения выводов и измерения основных параметров различных электронных компонентов (диоды и диодные сборки, биполярные и полевые транзисторы, тиристоры, симисторы). Тестер электронных компонентов состоит из источника питания, тумблера включения тестера, микроконтроллера, графического жидкокристаллического дисплея для вывода типа компонента, порядка и наименования его контактных выводов, три тестовые контактные площадки, связанные с микроконтроллером посредством схемы коммутации и жестко закрепленные на фронтальной части корпуса, к которым подсоединяют выводы анализируемого электронного компонента.
Технический результат предлагаемого устройства - расширение функциональной возможности в части увеличения количества типов электронных компонентов, пригодных для проведения анализа исправности.
Технический результат достигается тем, что устройство для анализа исправности электронных компонентов включает в себя источник питания, тумблер включения устройства, микроконтроллер, графический жидкокристаллический дисплей для вывода типа компонента, порядка и наименования его контактных выводов, три тестовые контактные площадки, связанные с микроконтроллером посредством схемы коммутации и жестко закрепленные на фронтальной части корпуса, к которым подсоединяют выводы анализируемого электронного компонента, при этом устройство снабжено дополнительной тестовой контактной площадкой, которая связана с микроконтроллером посредством схемы коммутации, что позволяет генерировать большее число возможных комбинаций электрических сигналов на контактных площадках, а графический жидкокристаллический дисплей выполнен с возможностью вывода схемного обозначения анализируемого электронного компонента.
На Фиг. 1 изображена схема устройства для анализа исправности электронных компонентов с четырьмя тестовыми контактными площадками.
Устройство состоит из источника питания постоянного тока 1, тумблера включения 2, жидкокристаллического графического дисплея 3, микроконтроллера 4, схемы коммутации 5 и четырех тестовых контактных площадок 6. Жидкокристаллический графический дисплей 3 и тестовые контактные площадки 6 жестко закреплены на фронтальной части корпуса устройства.
Устройство для анализа исправности электронных компонентов работает следующим образом. Контактные выводы анализируемого электронного компонента прикладывают к тестовым контактным площадкам 6 устройства для анализа исправности электронных компонентов в произвольном порядке. При замыкании тумблера 2 напряжение питания поступает с источника питания постоянного тока 1 на микроконтроллер 4, при этом на жидкокристаллическом графическом дисплее 3 отображается сообщение о начале анализа исправности электронного компонента.
Во время анализа каждая из четырех тестовых контактных площадок 6, независимо от состояния остальных, может быть подключена с помощью микроконтроллера 4 и схемы коммутации 5 к положительному или отрицательному выводу источника питания постоянного тока 1, либо к выводу микроконтроллера 4 посредством резистора схемы коммутации 5 или без него. Микроконтроллер 4, управляя схемой коммутации 5, создает комбинации электрических сигналов на тестовых контактных площадках 6 устройства согласно логике работы электронных компонентов различных типов. Анализируя уровни напряжения на всех тестовых контактных площадках 6, микроконтроллер 4 определяет тип приложенного электронного компонента, порядок и наименование его контактных выводов, о чем появляется сообщение на жидкокристаллическом графическом дисплее 3.
Введение четвертой тестовой контактной площадки устройства расширяет спектр возможных комбинаций электрических сигналов, которые могут возникнуть при подключении к устройству для анализа исправности электронных компонентов за счет увеличения числа вариантов подключения компонентов с двумя и тремя выводами, появления возможности подключения электронных компонентов с четырьмя контактными выводами (оптопары и отпореле, диодные мосты). Таким образом, введение четвертой тестовой контактной площадки увеличивает количество типов электронных компонентов, доступных для проведения анализа исправности, тем самым расширяются функциональные возможности устройства.