Как выглядит лезвие бритвы под микроскопом (фото)

Сканирующие-электронные микроскопы (SEM) позволяют получить изображение с поверхности объекта с высоким разрешением (до 0,4 нанометров). Работают такие приборы на принципе взаимодействия электронного пучка с объектом.

Однако иногда нужно узнать, что находится внутри объекта.

Если к сканирующему-электронному микроскопу (SEM) добавить ионную колонну, то получится двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп (FIB-SEM). В таком устройстве дополнительная ионная колонна создаёт сфокусированный пучок высокоэнергетических ионов (чаще всего используется галлий), который сканирует поверхность образца глубже, позволяя узнать, что находится под поверхностью образца.

Листайте галерею, чтобы узнать, как на самом деле выглядят привычные нам вещи:

Фото: Flickr / Zeiss Microscopy

Еще одна технология, позволяющая увидеть то, о чем раньше мы не могли и подумать, – конфокальная микроскопия. Часто используется почти во всех отраслях биологии, от клеточной биологии и генетики до микробиологии и биологии развития.

Конфокальные микроскопы обладают значительным контрастом по сравнению с классическими оптическими микроскопами. Использование специальной диафрагмы с маленьким отверстием (пинхол), отсекающей поток фонового рассеянного света, помогает улучшить качество изображения.

Фото: Flickr / Zeiss Microscopy