材料分析法の一覧

材料分析法の一覧:

***μSR** - ミュオンスピン回転（muon spin rotation）
***χ** - 磁化率を参照

## A
***Analytical ultracentrifugation** - 超遠心分析
***AAS** - 原子吸光分光（Atomic absorption spectroscopy）
***AED** - オージェ電子回折（Auger electron diffraction）
***AES** - オージェ電子分光（Auger electron spectroscopy）
***AFM** - 原子間力顕微鏡（Atomic force microscope|Atomic force microscopy）
***AFS** - 原子蛍光分光（Atomic fluorescence spectroscopy）
***APFIM** - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Atom probe field ion microscopy）
***APS** - 出現電位分光（Appearance potential spectroscopy）
***ARPES** - 角度分解光電子分光（Angle resolved photoemission spectroscopy）
***ARUPS** - 角度分解紫外光電子分光（Angle resolved ultraviolet photoemission spectroscopy）
***ATR** -（Attenuated total reflectance）

## B
***BET** - BET表面積測定 (BETはBrunauer、Emmett、Tellerに由来)
***BiFC** - （Bimolecular fluorescence complementation）
***BKD** - 後方散乱菊池回折（Backscatter Kikuchi diffraction）、**EBSD**を参照
***BRET** - 生物発光共鳴エネルギー移動（Bioluminescence resonance energy transfer）
***BSED** - 後方散乱電子回折（Back scattered electron diffraction）、**EBSD**を参照

## C
***CAICISS** - 同軸型直衝突イオン散乱分光（Coaxial impact collision ion scattering spectroscopy）
***CARS** - （Coherent anti-Stokes Raman spectroscopy）
***CBED** - 収束電子回折（Convergent beam electron diffraction）
***CCM** - Charge collection microscopy（Charge collection microscopy）
***CDI** - （Coherent diffraction imaging）
***CE** - キャピラリー電気泳動（Capillary electrophoresis）
***CET** - クライオ電子線トモグラフィー（Cryo-electron tomography）
***CL** - カソードルミネッセンス（Cathodoluminescence）
***CLSM** - 共焦点レーザー走査型顕微鏡（Confocal laser scanning microscopy）
***COSY** - COSY（Correlation spectroscopy）
***Cryo-EM** - クライオ電子顕微鏡（Cryo-electron microscopy）
***Cryo-SEM** - （Cryo-scanning electron microscopy）
***CV** - サイクリックボルタンメトリー（Cyclic voltammetry）

## D
***DE(T)A** - Dielectric thermal analysis
***dHvA** - ドハース・ファンアルフェン効果（De Haas–van Alphen effect）
***DIC** - 微分干渉顕微鏡（Differential interference contrast microscopy）
***Dielectric spectroscopy** - 
***DLS** - （Dynamic light scattering）
***DLTS** - 深い準位過渡分光（Deep-level transient spectroscopy）
***DMA** - （Dynamic mechanical analysis）
***DPI** - （Dual polarisation interferometry）
***DRS** - 拡散反射分光（Diffuse reflection spectroscopy）
***DSC** - 示差走査熱量測定（Differential scanning calorimetry）
***DTA** - 示差熱分析（Differential thermal analysis）
***DVS** - （Dynamic vapour sorption）

## E
***EBIC** - （Electron beam induced current） 、IBIC（ion beam induced charge）も参照
***EBS** - 弾性（非ラザフォード）後方散乱分光（Elastic (non-Rutherford) backscattering spectrometry）、RBSを参照。
***EBSD** - 電子後方散乱回折（Electron backscatter diffraction）
***ECOSY** - ECOSY（Exclusive correlation spectroscopy）
***ECT** - 電気容量トモグラフィ（Electrical capacitance tomography）
***EDAX** - エネルギー分散型X線分析（Energy-dispersive analysis of x-rays）
***EDMR** - （Electrically detected magnetic resonance）、ESRやEPRを参照
***EDS**、**EDX** - エネルギー分散型X線分光（Energy dispersive X-ray spectroscopy）
***EELS** - 電子エネルギー損失分光（Electron energy loss spectroscopy）
***EFTEM** - （Energy filtered transmission electron microscopy）
***EID** - 電子誘起脱離（Electron induced desorption）
***EIT**、**ERT** - 電気インピーダンス・トモグラフィ（Electrical impedance tomography）、（Electrical resistivity tomography）
***EL** - エレクトロルミネセンス（Electroluminescence）
***Electron crystallography** - 
***ELS** - （Electrophoretic light scattering）
***ENDOR** - （Electron nuclear double resonance）
***EPMA** - 電子線マイクロアナライザ（Electron probe microanalysis）
***EPR** - 電子常磁性共鳴（Electron paramagnetic resonance）
***ERD**、**ERDA** - （Elastic recoil detection）または弾性反跳検出分析（Elastic recoil detection）
***ESCA** - 化学分析のための電子分光（Electron spectroscopy for chemical analysis）***XPS**を参照
***ESD** - 電子刺激脱離（Electron stimulated desorption）
***ESEM** - 環境制御型走査電子顕微鏡（Environmental scanning electron microscopy）
***ESI-MS**、**ES-MS** - エレクトロスプレーイオン化質量分析法（Electrospray ionization mass spectrometry）、エレクトロスプレー質量分析法（Electrospray mass spectrometry）
***ESR** - 電子スピン共鳴
***ESTM** - 電気化学走査型トンネル顕微鏡（Electrochemical scanning tunneling microscopy）
***EXAFS** - 広域X線吸収微細構造（Extended X-ray absorption fine structure）
***EXSY** - EXSY（Exchange spectroscopy）

## F
***FCS** - 蛍光相関分光法（Fluorescence correlation spectroscopy）
***FCCS** - （Fluorescence cross-correlation spectroscopy）
***FEM** - （Field emission microscopy）
***FIB** - 集束イオンビーム（Focused ion beam）
***FIM-AP** - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Field ion microscopy-atom probe）
***Flow birefringence** - 
***Fluorescence anisotropy** - 
***FLIM** - （Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy）
***Fluorescence microscopy** - 蛍光顕微鏡
***FOSPM** - Feature-oriented scanning probe microscopy
***FRET** - 蛍光共鳴エネルギー移動（Fluorescence resonance energy transfer）
***FRS** - 前方反跳分光（Forward Recoil Spectrometry）、ERDと同義
***FTICR**、**FT-MS** - フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計（Fourier transform ion cyclotron resonance）、フーリエ変換質量分析（Fourier transform mass spectrometry）
***FTIR** - フーリエ変換赤外分光（Fourier transform infrared spectroscopy）

## G
***GC-MS** - ガスクロマトグラフィー–質量分析法（Gas chromatography-mass spectrometry）
***GD-MS** - グロー放電質量分析法（Glow discharge mass spectrometry）
***GD-OES** - グロー放電発光分光（Glow discharge optical spectroscopy）
***GISAXS** - すれすれ入射小角X線散乱（Grazing incidence small angle X-ray scattering）
***GIXD** - すれすれ入射X線回折（Grazing incidence X-ray diffraction）
***GIXR** - すれすれ入射X線反射率測定（Grazing incidence X-ray reflectivity）
***GLC** - 気液クロマトグラフィー（Gas-liquid chromatography）

## H
***HAADF** - 高角環状暗視野像（high angle annular dark-field imaging）
***HAS** - （Helium atom scattering）
***HPLC** - 高速液体クロマトグラフィー（High performance liquid chromatography）
***HREELS** - （High resolution electron energy loss spectroscopy）
***HREM ** - 高分解能電子顕微鏡（High-resolution electron microscopy）
***HRTEM ** - （High-resolution transmission electron microscopy）
***HI-ERDA ** - 重イオン弾性反跳検出分析（Heavy-ion elastic recoil detection analysis）
***HE-PIXE ** - 高エネルギー陽子励起X線放出（High-energy proton induced X-ray emission）

## I
***IAES** - イオン励起オージェ電子分光（Ion induced Auger electron spectroscopy）
***IBA** - （Ion beam analysis）
***IBIC** - イオンビーム誘起電荷顕微鏡（Ion beam induced charge microscopy）
***ICP-AES** - 誘導結合プラズマ発光分析（Inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy）
***ICP-MS** - 誘導結合プラズマ質量分析（Inductively coupled plasma mass spectrometry）
***Immunofluorescence** - 
***ICR** - （Ion cyclotron resonance）
***IETS** - （Inelastic electron tunneling spectroscopy）
***IGA** - Intelligent gravimetric analysis
***IGF** - 不活性ガス融解（Inert gas fusion）
***IIX** - イオン励起X線分析（Ion induced X-ray analysis）:粒子線励起X線分析を参照
***INS** - 非弾性中性子散乱（Inelastic neutron scattering）、イオン中和分光（Ion neutralization spectroscopy）
***IRNDT** - （Infrared non-destructive testing of materials）
***IRS** - 赤外分光法（Infrared spectroscopy）
***ISS** - イオン散乱分光（Ion scattering spectroscopy）
***ITC** - 等温滴定カロリメトリー（Isothermal titration calorimetry）
***IVEM** - 中間電圧電子顕微鏡（Intermediate voltage electron microscopy）

## L
***LALLS** - （Low-angle laser light scattering）
***LC-MS** - 液体クロマトグラフィー-質量分析（Liquid chromatography-mass spectrometry）
***LEED** - 低速電子線回折（Low-energy electron diffraction）
***LEEM** - （Low-energy electron microscopy）
***LEIS** - （Low-energy ion scattering）
***LIBS** - レーザー誘起ブレークダウン分光（Laser induced breakdown spectroscopy）
***LOES** - Laser optical emission spectroscopy
***LS** - 光散乱（Light (Raman) scattering）

## M
***MALDI** - マトリックス支援レーザー脱離イオン化法（Matrix-assisted laser desorption/ionization）
***MBE** - 分子線エピタキシー法（Molecular beam epitaxy）
***MEIS** - 中エネルギーイオン散乱（Medium energy ion scattering）
***MFM** - 磁気力顕微鏡（Magnetic force microscopy）
***MIT** - 磁気誘導断層撮影（Magnetic induction tomography）
***MPM** - 多光子蛍光顕微鏡（Multiphoton fluorescence microscopy）
***MRFM** - 磁気共鳴力顕微鏡（Magnetic resonance force microscopy）
***MRI** - 核磁気共鳴画像法（Magnetic resonance imaging）
***MS** - 質量分析法（Mass spectrometry）
***MS/MS** - （Tandem mass spectrometry）
***MSGE** - Mechanically Stimulated Gas Emission
***Mossbauer spectroscopy** - メスバウアー分光（Mossbauer spectroscopy）
***MTA** - （Microthermal analysis）

## N
***NAA** - 中性子放射化分析（Neutron activation analysis）
***Nanovid microscopy** - Nanovid microscopy
***ND** - 中性子回折（Neutron diffraction）
***NDP** - （Neutron depth profiling）
***NEXAFS** - 吸収端近傍X線吸収微細構造（Near edge X-ray absorption fine structure）
***NIS** - 中性子非弾性散乱（Nuclear inelastic scattering）
***NMR** - 核磁気共鳴分光法（Nuclear magnetic resonance spectroscopy）
***NOESY** - 核オーバーハウザー効果分光（Nuclear Overhauser effect spectroscopy）
***NRA** - 核反応法（Nuclear reaction analysis）
***NSOM** - 走査型近接場光顕微鏡（Near-field scanning optical microscopy）

## O
***OBIC** - （Optical beam induced current）
***ODNMR** - 光検出磁気共鳴（Optically detected magnetic resonance）、ESRやEPRを参照
***OES** - 発光分光（Optical emission spectroscopy）
***Osmometry** - 

## P
***PAS** - （Positron annihilation spectroscopy）
***Photoacoustic spectroscopy** - 光音響分光（Photoacoustic spectroscopy）
***PAT** or **PACT** - 光音響トモグラフィー（Photoacoustic tomography）または光音響コンピュータトモグラフィー（photoacoustic computed tomography）
***PAX** - Photoemission of adsorbed xenon
***PC or PCS** - 光電流分光（Photocurrent spectroscopy）
***Phase contrast microscopy** - 位相差顕微鏡（Phase contrast microscopy）
***PhD** - 光電子回折（Photoelectron diffraction）
***PD** - 光脱離（Photodesorption）
***PDEIS** - Potentiodynamic electrochemical impedance spectroscopy
***PDS** - 光熱偏向分光法（Photothermal deflection spectroscopy）
***PED** - 光電子回折（Photoelectron diffraction）
***PEELS** - 並列型電子エネルギー損失分光（parallel electron energy loss spectroscopy）
***PEEM** - 光電子顕微鏡（Photoemission electron microscopy、photoelectron emission microscopy)
***PES** - 光電子分光（Photoelectron spectroscopy）
***PINEM** - 光子誘起近接場電子顕微鏡法（photon-induced near-field electron microscopy）
***PIGE** - 粒子線励起ガンマ線放出（Particle (or proton) induced gamma-ray spectroscopy）、 核反応法を参照
***PIXE** - 粒子線励起X線分析（Particle (or proton) induced X-ray spectroscopy）
***PL** - フォトルミネッセンス（Photoluminescence）
***Porosimetry** - ポロシメトリー（Porosimetry）
***Powder diffraction** - （Powder diffraction）
***PTMS** - （Photothermal microspectroscopy）
***PTS** - 光熱変換分光法（Photothermal spectroscopy）

## Q
***QENS** - （Quasielastic neutron scattering）

## R
***Raman** - ラマン分光法（Raman spectroscopy）
***RAXRS** - （Resonant anomalous X-ray scattering）
***RBS** - ラザフォード後方散乱分光（Rutherford backscattering spectrometry）
***REM** - 反射電子顕微鏡（Reflection electron microscopy）
***RDS** - （Reflectance Difference Spectroscopy）
***RHEED** - 反射高速電子線回折（Reflection high energy electron diffraction）
***RIMS** - （Resonance ionization mass spectrometry）
***RIXS** - （Resonant inelastic X-ray scattering）
***RR spectroscopy** - （Resonance Raman spectroscopy）

## S
***SAD** - 制限視野回折（Selected area diffraction）
***SAED** - 制限視野電子回折（Selected area electron diffraction）
***SAM** - 走査型オージェ顕微鏡（Scanning Auger microscopy）
***SANS** - （Small angle neutron scattering）
***SAXS ** - X線小角散乱（Small angle X-ray scattering）
***SCANIIR** - 粒子衝撃光放射（Surface composition by analysis of neutral species and ion-impact radiation）
***SCEM** - （Scanning confocal electron microscopy）
***SE** - 分光エリプソメトリー（Spectroscopic ellipsometry）
***SEC** - サイズ排除クロマトグラフィー（Size exclusion chromatography）
***SEIRA** - 表面増強赤外吸収分光（Surface enhanced infrared absorption spectroscopy）
***SEM** - 走査型電子顕微鏡（Scanning electron microscopy）
***SERS** - 表面増強ラマン散乱（Surface enhanced Raman spectroscopy）
***SERRS** - 表面増強共鳴ラマン散乱（Surface enhanced resonance Raman spectroscopy）
***SEXAFS** - （Surface extended X-ray absorption fine structure）
***SICM** - （Scanning ion-conductance microscopy）
***SIL** - ソリッドイマージョンレンズ（Solid immersion lens）
***SIM** - ソリッドイマージョンミラー（Solid immersion mirror）
***SIMS** - 二次イオン質量分析法（Secondary ion mass spectrometry）
***SNMS** - スパッタ中性粒子質量分析（Sputtered neutral species mass spectrometry）
***SNOM** - 走査型近接場光顕微鏡（Scanning near-field optical microscopy）
***SPECT** - 単一光子放射断層撮影（Single photon emission computed tomography）
***SPM** - 走査型プローブ顕微鏡（Scanning probe microscopy）
***SRM-CE/MS** - 選択反応検出-キャピラリー電気泳動質量分析法（Selected-reaction-monitoring capillary-electrophoresis mass spectrometry）
***SSNMR** - 固体核磁気共鳴（Solid-state nuclear magnetic resonance）
***Stark spectroscopy** - シュタルク分光
***STED** - 誘導放出抑制顕微鏡（Stimulated Emission Depletion microscopy）
***STEM** - 走査型透過電子顕微鏡（Scanning transmission electron microscopy）
***STM** - 走査型トンネル顕微鏡（Scanning tunneling microscopy）
***STS** - 走査型トンネル分光法（Scanning tunneling spectroscopy）
***SXRD** - （Surface X-ray Diffraction）

## T
***TAT** or **TACT** - 熱音響トモグラフィー（Thermoacoustic tomography）または熱音響コンピュータトモグラフィー（thermoacoustic computed tomography）、光音響トモグラフィー(PAT)も参照
***TEM** - 透過型電子顕微鏡（transmission electron microscopy）
***TGA** - 熱重量分析（Thermogravimetric analysis）
***TIKA** - Transmitting ion kinetic analysis
***TIMS** - （Thermal ionization mass spectrometry）
***TIRFM** - 全反射照明蛍光顕微鏡（Total internal reflection fluorescence microscopy）
***TLS** - 熱レンズ分光（Photothermal lens spectroscopy）、光熱分光の一種
***TMA** - （Thermomechanical analysis）
***TOF-MS** - 飛行時間型質量分析計（Time-of-flight mass spectrometry）
***Two-photon excitation microscopy** - 2光子励起顕微鏡（Two-photon excitation microscopy）
***TXRF** - 全反射蛍光X線（Total reflection X-ray fluorescence）

## U
***Ultrasound attenuation spectroscopy** - 
***Ultrasonic testing** - 超音波探傷検査（Ultrasonic testing）
***UPS** - 紫外光電子分光法（UV-photoelectron spectroscopy）
***USANS** - 超小角中性子散乱（Ultra small-angle neutron scattering）
***USAXS** - 超小角X線散乱（Ultra small-angle X-ray scattering
***UV-Vis** - 紫外可視分光法（Ultraviolet-visible spectroscopy)

## V
***VEDIC** - Video-enhanced differential interference contrast microscopy
***Voltammetry** - ボルタンメトリー

## W
***WAXS ** - （Wide angle X-ray scattering）
***WDXまたはWDS** - 波長分散型X線分光（Wavelength dispersive X-ray spectroscopy）

## X
***XAES** - X線励起オージェ電子分光（X-ray induced Auger electron spectroscopy）
***XANES** - （X-ray Absorption Near Edge Structure）
***XAS** - X線吸収分光法（X-ray absorption spectroscopy）
***X-CTR** - 散乱（X-ray crystal truncation rod scattering）
***X-ray crystallography** - X線結晶構造解析（X-ray crystallography）
***XDS** - X線散漫散乱（X-ray diffuse scattering）
***XPEEM** - X線光電子顕微鏡（X-ray photoelectron emission microscopy）
***XPS** - X線光電子分光（X-ray photoelectron spectroscopy）
***XRD** - X線回折（X-ray diffraction）
***XRES** - X線共鳴交換散乱（X-ray resonant exchange scattering）
***XRF** - 蛍光X線分析（X-ray fluorescence analysis）
***XRR** - （X-ray reflectivity）
***XRS** - （X-ray Raman scattering）
***XSW** - 法（X-ray standing wave technique）

## 参考文献
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