Microscopio electrónico de varrido

[miniatura|Imaxe de grans de [pole tomada con MEV que mostra a característica profundidade de campo e tridimensionalidade das micrografías de MEV.]]
[miniatura|Primeiro MEV de [Manfred von Ardenne|M. von Ardenne]]
miniatura|Principio operativo do MEV.
miniatura|MEV coa cámara de mostras aberta
miniatura|MEV de tipo analóxico.
Un **microscopio electrónico de varrido** ou **de varredura** (**MEV** ou, en inglés, **SEM**, de *scanning electron microscope*) é un tipo de microscopio electrónico que produce imaxes dunha mostra varrendo (escaneando) a súa superficie cun feixe de electróns enfocado. Os electróns interaccionan cos átomos da mostra, producindo varios sinais que conteñen información sobre a topografía da superficie e composición da mostra. O feixe de electróns escanea nun modo *raster* (trama de mapa de bits) e a posición do feixe está combinada coa intensidade do sinal detectado para producir unha imaxe. No modo de MEV máis común, os electróns secundarios emitidos por átomos excitados polo feixe de electróns detéctanse usando un detector de electróns secundarios (detector Everhart–Thornley). O número de electróns secundarios que se pode detectar e así a intensidade do sinal, depende, entre outras cousas, da topografía do espécime observado. Algúns MEVs poden acadar resolucións de menos dun nanómetro.

Os espécimes obsérvanse en alto baleiro no MEV convencional, ou en baixo baleiro ou condicións húmidas no MEV ambiental ou de presión variable, e nun amplo rango de temperaturas crioxénicas ou elevadas con instrumentos especializados.

## Historia 
Segundo a exposición da historia da microscopia electrónica de varrido presentada por McMullan, esta empezou así: Aínda que Max Knoll sacou unha foto cunha anchura de campo-obxecto de 50&nbsp;mm mostrando contraste canalizado co uso dun escáner de feixe de electróns, foi Manfred von Ardenne quen en 1937 inventou un microscopio cunha alta resolución ao escanear un *raster* moi pequeno cun feixe de electróns finamente enfocado e desmagnificado. Ardenne aplicou o escáner de feixe de electróns para intentar superar a resolución do microscopio electrónico de transmisión (MET), e tamén para mitigar os problemas coa aberración cromática inherentes á obtención de imaxes reais no MET. Despois examinou os varios modos de detección, posibilidades e teoría do MEV, xunto coa construción do primeiro MEV de alta resolución. Traballos posteriores foron os presentados polo grupo de Zworykin, seguido polos grupos de Cambridge na década de 1950 e principio da de 1960 liderados por Charles Oatley, todos os cales finalmente levaron á comercialización do primeiro instrumento comercial pola Cambridge Scientific Instrument Company co nome "Stereoscan" en 1965, que foi entregado a DuPont.

## Principios e capacidades 
miniatura|Fonte de electróns de emisor Schottky.
miniatura|Volume de interacción electrón–materia e tipos de sinais xerados.

Os sinais utilizados polo MEV para producir unha imaxe orixínanse polas interaccións do feixe de electróns con átomos a varias profundidades na mostra. Prodúcense varios tipos de sinais, como electróns secundarios, electróns reflectidos ou retrodispersados (BSE en inglés), raios X característicos e luz (catodoluminescencia), corrente absorbida (corrente de espécime) e electróns transmitidos. Os detectores de electróns secundarios son un equipamento estándar en todos os MEVs, pero poden non ter todos os outros detectores.

Os electróns secundarios teñen enerxías moi baixas da orde de 50 eV, que limitan o seu camiño libre medio na materia sólida. En consecuencia, os electróns secundarios só poden escapar desde a parte superior a poucos nanómetros da superficie da mostra. O sinal dos electróns secundarios adoita estar altamente localizado no punto de impacto do feixe de electróns primario, o que fai posible recoller as imaxes da superficie da mostra cunha resolución por debaixo dun nm. Os electróns retrodispersados son electróns do feixe que son reflectidos pola mostra por dispersión elástica. Como teñen moita maior enerxía que os electróns secundarios, emerxen de localizacións máis profundas do espécime e, en consecuencia, a resolución das imaxes de electróns retrodispersados é menor que a das imaxes de electróns secundarios. Porén, os electróns retrodispersados utilízanse a miúdo nos MEVs analíticos, xunto co espectro feito a partir dos raios X característicos, porque a intensidade do sinal dos electróns retrodispersados está moi relacionada co número atómico (Z) do espécime. As imaxes de electróns retrodispersados poden proporcionar información sobre a distribución, pero non a identidade, de diferentes elementos nunha mostra. En mostras compostas predominantemente de elementos lixeiros, como os espécimes biolóxicos, os electrons retrodispersados poden obter imaxes de inmunoetiquetados de ouro coloidal de 5 ou 10&nbsp;nm de diámetro, que doutro modo serían difíciles ou imposibles de detectar en imaxes de electróns secundarios. e grafito. A cobertura con metais pesados pode incrementar a razón sinal/ruído para mostras de baixo número atómico (Z).

Unha alternativa ao recubrimento dalgunhas mostras biolóxicas é incrementar a condutividade da masa do material por impregnación con osmio usando variantes do método de tinguidura OTO (O-tetróxido de osmio, T-tiocarbohidrazida, O-osmio).

Poden obterse imaxes de espécimes non condutores sen recubrilos usando MEV ambiental ou o modo de funcionamento de baixa voltaxe do MEV. Nos instrumentos de MEV ambiental o espécime sitúase nunha cámara de presión relativamente alta e a columna óptica de electróns é bombeada diferencialmente para manter adecuadamente baixo o baleiro no canón de electróns. A rexión de alta presión arredor da mostra no MEV ambiental neutraliza a carga e proporciona unha amplificación do sinal dos electróns secundarios. Os escaneos a baixa voltaxe realízanse nun instrumento cun canón de emisión de campo que pode producir unha alta brillantez de electróns primarios e pequenos tamaños de punto (*spot size*, o diámetro da zona onde o feixe incide sobre a mostra) incluso a potenciais de baixa aceleración. Para impedir a carga eléctrica de espécimes non condutores, as condicións de funcionamento deben axustarse de xeito que a corrente de feixe entrante sexa igual á suma das correntes de saída de electróns secundarios e retrodispersados, unha condición que adoita conseguirse a voltaxes de aceleración de 0,3–4 kV.

Pode realizarse unha incrustación en resina e posterior puído ata un acabado de espello tanto para espécimes biolóxicos coma para materiais cando se queren obter imaxes de electróns retrodispersados ou cando se fai unha microanálise de raios X cuantitativa.

As principais técnicas de preparación non son necesarias no MEV ambiental esquematizado máis abaixo, mais algúns espécimes biolóxicos poden beneficiarse da fixación.

### Mostras biolóxicas 
Para a observación de espécimes no MEV, estes normalmente deben estar totalmente secos, xa que a cámara de espécimes está a un alto baleiro. Os materiais duros e secos, como madeira, ósos, plumas, insectos secos ou cunchas e cascas de ovos poden ser examinados con pouco tratamento adicional, pero as células vivas e os tecidos en conxunto, os organismos de corpo mol necesitan unha fixación para preservar e estabilizar as súas estruturas.

A fixación realízase xeralmente por incubación nunha solución dun fixador químico tamponado, como o glutaraldehido, ás veces en combinación con formaldehido e outros fixadores, e seguido opcionalmente da posfixación con tetróxido de osmio. O dióxido de carbono retírase finalmente mentres está en estado supercrítico para que non exista ningunha interface gas–líquido na mostra durante o secado.

O espécime seco móntase normalmente nunha chatola (*stub*) de espécime usando un adhesivo como a resina epoxy ou fita adhesiva de dobre cara que sexa condutora da electricidade, e recuberta por pulverización con ouro ou aliaxe de ouro/paladio antes do exame no microscopio. As mostras poden ser seccionadas (cun micrótomo) se a información sobre a ultraestrutura interna do organismo debe quedar exposta para obter imaxes.

Se o MEV está equipado cunha platina fría para criomicroscopia, pode usarse a criofixación e realizarse a microscopia electrónica de varrido de baixa temperatura nos espécimes fixados crioxenicamente. Os espécimes criofixados poden ser criofracturados no baleiro nun aparello especial para revelar a súa estrutura interna, recubrilos por pulverización e transferidos á crioplatina do MEV mentres están aínda conxelados. A microscopia electrónica de varrido de baixa temperatura tamén é aplicable para obter imaxes de materiais sensibles á temperatura como o xeo e as graxas.

A criofractura, criogravado ou conxelado e rotura é un método de preparación especialmente usado para examinar membranas lipídicas e as súas proteínas incorporadas en vista "frontal". O método de preparación revela as proteínas incrustadas na bicapa lipídica.

### Materiais 
As imaxes de electróns retrodispersados, análises de raios X cuantitativas e mapado de raios X de espécimes a miúdo requiren desgastar e puír as superficies ata deixar unha superficie ultralisa. Os espécimes que se analizan con espectroscopia de raios X por dispersión de lonxitude de onda ou espectroscopia de raios X por dispersión de enerxía adoitan recubrirse de carbono. En xeral, os metais non se recobren antes de obter as imaxes no MEV porque son condutores e proporcionan o seu propio camiño a terra. A fractografía é o estudo de superficies fracturadas que se pode facer cun microscopio óptico ou, máis comunmente, cun MEV. A superficie fracturada córtase a un tamaño axeitado, límpase de residuos orgánicos e móntase nun soporte de espécime para velo no MEV. Os circuítos integrados poden cortarse cun feixe de ións focalizado (FIB) ou outro instrumento de adelgazamento de feixe de ións para velos no MEV. O MEV no primeiro caso pode ser incorporado no FIB, permitindo facer imaxes de alta resolución do resultado do proceso. Os metais, espécimes xeolóxicos e circuítos integrados poden tamén puírse quimicamente para velos no MEV. Cómpren técnicas de recubrimento de alta resolución especiais para obter imaxes de grande aumento de películas finas inorgánicas.

## Proceso de escaneado e formación de imaxes 
miniatura|350px|Esquema dun MEV.

Nun MEV típico emítese un feixe de electróns termoinicamente desde un canón de electróns provisto dun cátodo de filamento de volframio. O volframio utilízase normalmente en canóns termoiónicos porque ten o maior punto de fusión e menor presión de vapor de todos os metais, o que permite que sexa quentado electricamente para a emisión de electróns, e polo seu baixo custo. Outros tipos de emisores de electróns son os cátodos de hexaboruro de lantano (), que se poden usar nun MEV de filamento de volframio estándar se o sistema de baleiro é mellorado ou os canóns de emisión de campo, que poden ser de tipo cátodo frío, que usan emisores de monocristal de volframio, ou de tipo Schottky asistidos termicamente, que usan emisores de monocristal de volframio recubertos de óxido de circonio.

O feixe de electróns, que normalmente ten unha enerxía que vai de 0,2 keV a 40 keV, enfócase cunha ou dúas lentes condensadoras a un punto duns 0,4&nbsp;nm a 5&nbsp;nm de diámetro. O feixe pasa a través de pares de bobinas de escaneado ou pares de placas deflectoras da columna de electróns, normalmente na lente final, que deflecta o raio nos eixes *x* e *y* para que escanee de modo *raster* sobre unha área rectangular da superficie da mostra.

miniatura|Mecanismos de emisión de electróns secundarios, electróns retrodispersados e raios X característicos desde átomos da mostra.

Cando o feixe de electróns primario interacciona coa mostra, os electróns perden enerxía por unha repetida dispersión aleatoria e absorción dentro do volume con forma de bágoa do espécime coñecido como **volume de interacción**, que se estende desde menos de 100&nbsp;nm a aproximadamente 5&nbsp;µm da superficie. O tamaño do volume de interacción depende da enerxía de chegada do electrón, o número atómico do espécime e a densidade do espécime. O intercambio de enerxía entre o feixe de electróns e a mostra ten como resultado reflexións de electróns de alta enerxía por dispersión elástica, emisión de elecróns secundarios por dispersión inelástica e a emisión de radiación electromagnética, cada unha das cales pode detectarse por detectores especializados. A corrente de feixe absorbida polo espécime pode tamén detectarse e usarse para crear imaxes da distribución da corrente de espécime. Utilízanse amplificadores electrónicos de varios tipos para amplificar o sinal, que se mostra como variacións na brillantez nun monitor de computador (ou, en modelos antigos, nun tubo de raios catódicos). Cada píxel de memoria de vídeo do computador está sincronizado coa posición do feixe sobre o espécime no microscopio, e a imaxe resultante é, por tanto, un mapa de distribución da intensidade do sinal que está sendo emitido desde a área escaneada do espécime. Os microscopios vellos captaban as imaxes nunha película, pero os instrumentos modernos recollen imaxes dixitais.

[miniatura|esquerda|upright|Serie de imaxes a distintos aumentos de MEV de baixa temperatura dun cristal de [neve. Os cristais recóllense, almacénanse e son recubertos por pulverización con platino a temperaturas crioxénicas para obter as imaxes.]]

### Aumentos 
Os aumentos nun MEV poden controlarse nunhas 6 ordes de magnitude, desde uns 10 a 3.000.000 de aumentos. A diferenza dos microscopios electrónicos de transmisión e ópticos, a magnificación das imaxes nun MEV non está en función da potencia da lente obxectivo. Os MEVs poden ter lentes condensadoras e obxectivo, pero a súa función é enfocar o feixe sobre un punto, e non obter unha imaxe do espécime. Con tal de que o canón de electróns poida xerar un feixe cun diámetro suficientemente pequeno, o MEV podería en principio funcionar enteiramente sen lentes condensadoras ou obxectivo, aínda que podería non ser moi versátil ou non acadar unha resolución moi alta. Nun MEV, como ocorre na microscopia de sonda de escaneado, a magnificación é o resultado da razón do *raster* no aparello de visualización e as dimensións do *raster* sobre o espécime. Asumindo que a pantalla de visualización teña un tamaño fixo, os maiores aumentos orixínanse ao reducir o tamaño do *raster* sobre o espécime e viceversa. A magnificación é, pois, controlada pola corrente subministrada ás bobinas de escaneado x e y, ou a voltaxe subministrada ás placas deflectoras x e y, e non pola potencia da lente obxectivo.

## Deteción de electróns secundarios 
O modo de obter imaxes máis común recolle electróns secundarios de baixa enerxía (

Ficheiro:Surface of a kidney stone.jpg|Superfice dun cálculo renal.

Ficheiro:Surface of a kidney stone Re-colorized SEM Image.jpg|O mesmo cálculo despois de reprocesar a cor a partir da topografía estimada

Ficheiro:Discoaster-side-diag-alt hg.jpg|Imaxe de MEV dun *Discoaster* alterado diaxeneticamente.

Ficheiro:Discoaster-side-diag-alt Re-colorized SEM Image.jpg|A mesma imaxe anterior despois dunha coloración similar.

### Coloración de imaxes de MEV 
Moi a miúdo as imaxes publicadas de MEV están coloreadas artificialmente.

Esta coloración pode facerse manualmente con software de fotoedición, ou semiautomaticamente cun software especializado usando detección de características ou segmentación orientada do obxecto.

Ficheiro:Cobaea scandens1-4.jpg|Imaxe de MEV de pole de *Cobaea scandens*.

Ficheiro:Cobaea scandens colorized SEM image.jpg|A mesma imaxe despois da coloración semiautomática. As cores arbitrarias axudan a identificar os diversos elementos da estrutura.

Ficheiro:Tradescantia tolmukakarvad ja õietolm.JPG |Imaxe de MEV coloreada de pole e estames de *Tradescantia*.

Ficheiro:Gold on arsenopyrite SEM image.png |Imaxe de MEV coloreada do intercrecemento de ouro nativo e un cristal de arsenopirita.

### Construción de cor utilizando múltiples detectores de electróns 
Nalgunhas configuracións obtense máis información por píxel, xeralmente usando múltiples detectores.

Como exemplo común, os detectores de electróns secundarios e de electróns retrodispersados sobrepóñense e asígnase unha cor a cada unha das imaxes captadas por cada detector, co resultado dunha imaxe de cores combinadas na que as cores están relacionadas coa densidade dos compoñentes. Este método coñécese como MEV de cor dependente da densidade (MEV-CDD ou, en inglés, DDC-SEM). As micrografías producidas por este método conservan a información topográfica, a cal a capta mellor o detector de electróns secundarios e combínase coa información sobre a densidade, obtida polo detector de electróns retrodispersados.

Ficheiro:DDC-SEM of calcified particle in cardiac tissue - BW - 1.jpg|MEV-CDD (DDC-SEM) de partículas calcificadas no tecido cardíaco - Sinal 1 : electróns secundarios

Ficheiro:DDC-SEM_of_calcified_particle_in_cardiac_tissue_-_BW_-_2.jpg| Sinal 2 : electróns retrodispersados

Ficheiro:DDC-SEM of calcified particle in cardiac tissue - orange.jpg|Imaxe coloreada obtida das dúas previas. Micrografía de MEV-CDD (DDC-SEM) de calcificación cardiovascular, que mostra en laranxa unha partícula esférica de fosfato de calcio (material máis denso) e en verde a matriz extracelular (material menos denso).

Ficheiro:Cardiovascular calcification - Sergio Bertazzo.tif|A mesma imaxe nunha vista máis ampla, parte dun estudo da calcificación dos tecidos cardiovasculares humanos.

### Sinais analíticos baseados en fotóns xerados 
A medida da enerxía dos fotóns emitidos do espécime é un método común de conseguir máis capacidades analíticas. Exemplos son os detectores de espectroscopia de raios X por dispersión de enerxía usados en análise elemental e os sistemas de microscopio de catodoluminescencia que analizan a intensidade e espectro da luminescencia inducida por electróns en, por exemplo, espécimes xeolóxicos. Nos sistemas MEV que usan estes detectores é común asignar un código de cor a estes sinais extra e sobrepoñelos nunha soa imaxe en cor para que as diferenzas na distribución dos varios compoñentes do espécime poidan verse claramente e compararse. Opcionalmente, a imaxe de electróns secundarios estándar pode fusionarse cunha ou máis canles composicionais para que se poidan comparar a estrutura e composición do espécime. Ditas imaxes poden facerse mentres conservan a integridade dos datos de sinais orixinais, os cales non son modificados de ningunha maneira.

## 3D no MEV 
Os MEVs non proporcionan imaxes 3D de forma directa a diferenza do microscopio de sonda de escaneado. Porén, poden obterse datos 3D usando un MEV con diferentes métodos como se indica a continuación.

### Reconstrución de MEV en 3D a partir dun par estéreo 
* A fotogrametría é o método máis exacto metroloxicamente para obter tridimensionalidade nas imaxes de MEV. e o erro no valor de rugosidade Ra calculado é de menos de 0,5%.

### Reconstrución de MEV fotométrica 3D a partir dun detector de catro cuadrantes por "forma a partir de tonalidade" 
Este método usa un detector de electróns retrodispersados de catro cuadrantes (alternativamente un fabricante produce un detector de 3 segmentos). O microscopio produce catro imaxes do mesmo espécime ao mesmo tempo, así que non é necesario inclinar a mostra. O método dá lugar a dimensións 3D metrolóxicas na medida en que a pendente do espécime permaneza razoable.

Outras estratexias usan métodos máis sofisticados (e ás veces de GPU intensivo) como o algoritmo de estimación óptima e ofrece resultados moito mellores co custo dunha alta esixencia de poder de computación.

En todos os casos, esta estratexia funciona pola integración da pendente, así que as pendentes verticais e as partes que sobresaen colgando son ignoradas; por exemplo, se unha esfera enteira está situada sobre unha superficie plana, o que se ve sobresaír da superficie plana é pouco máis que o hemisferio superior, o que ten como resultado unha altitude incorrecta do ápice da esfera. A prominencia deste efecto depende do ángulo dos detectores de electróns retrodispersados con respecto á mostra, pero eses detectores están xeralmente situados arredor (e preto) do feixe de electróns, así que este efecto é moi común.

### Representación 3D fotométrica dunha soa imaxe de MEV 
Con este método cómpre obter unha imaxe de MEV cunha iluminación nun ángulo baixo oblicuo. O nivel de grises interprétase despois como a pendente, e a pendente integrada para restaurar a topografía do espécime. Este método é interesante para a mellora visual e a detección da forma e posición de obxectos; porén, as alturas verticais normalmente non poden calibrarse, ao contrario que outros métodos como a fotogrametría.
* Reconstrución multirresolución usando un ficheiro 2D: As imaxes 3D de alta calidade poden ser unha última solución para revelar as complexidades de calquera medio poroso, pero obtelas é custoso e leva moito tempo. Por outra parte, as imaxes 2D de MEV de alta calidade están facilmente dispoñibles. Recentemente, presentouse un novo método de reconstrución multirresolución e multiescala en tres pasos que usa directamente imaxes 2D para desenvolver modelos 3D. Este método, baseado na entropía de Shannon e a simulación condicional, pode usarse para a maioría dos materiais estacionarios dispoñibles e poden construírse varios modelos 3D estocásticos simplemente usando unhas poucas seccións finas.
* O MEV de abrasión de ións (en inglés IA-SEM) é un método de imaxes 3D a nanoescala que usa un feixe enfocado de galio para desgastar repetidamente a superficie do espécime de 20 nanómetros dunha vez. Cada superficie exposta é despois escaneada para compilar a imaxe 3D.

### Aplicacións do MEV 3D 
Unha posible aplicación é medir a rugosidade de cristais de xeo. Este método pode combinar o MEV ambiental de presión variable e as capacidades 3D do MEV para medir a rugosidade en facetas de cristais de xeo individuais, convertelo nun modelo de computador e facer máis análises estatísticas sobre o modelo. Outras medidas inclúen dimensións fractais, examinar a superficie fracturada de metais, a caracterización de materiais, medidas de corrosión e medidas dimensionais a nanoescala (alturas, volume, ángulo, planitude, coplanaridade etc.).

O MEV tamén se usou por conservadores de arte para distinguir as ameazas que poden afectar á superficie de pinturas debido á súa antigüidade, como a formación de complexos de ións de cinc con ácidos graxos. Os científicos forenses usan o MEV para detectar falsificacións artísticas.

## Galería de imaxes de MEV 
Os seguintes son exemplos de imaxes tomadas con MEV.

Ficheiro:Soybean cyst nematode and egg SEM.jpg|Imaxe de MEV coloreada dun nematodo *Heterodera glycines* e un dos seus ovos. A coloración artificial fai que a imaxe sexa máis fácil de ver por non especialistas e comprender as estruturas e superficies reveladas nas micrografías.
Ficheiro:Krilleyekils.jpg|Ollo composto do crustáceo *Euphausia superba*. Os ollos de artrópodos son un tema común nas micrografías de MEV debido á profundidade do foco que pode captar a imaxe de MEV. Imaxe coloreada.
Ficheiro:Antarctic krill ommatidia.jpg|Omatidios do krill *Euphasia superba*, cunha maior magnificación do seu ollo. O MEV cobre un rango que vai desde os aumentos do microscopio óptico ata os do microscopio electrónico de transmisión. Imaxe coloreada.
Ficheiro:SEM blood cells.jpg|Imaxe de MEV de sangue circulante humano normal. Esta é unha micrografía vella e con moito "ruído" dun tema común das micrografías de MEV: os glóbulos vermellos.
Ficheiro:HederelloidSEM.jpg|Imaxe de MEV dun hedereloide do Devoniano de Míchigan (o diámetro do tubo máis grande é de 0,75&nbsp;mm). O MEV utilízase amplamente para captar imaxes detalladas de micro e macrofósiles.
Ficheiro:BSEGlassInclusionSb.jpg|Imaxe de electróns retrodispersados dunha rexión rica en antimonio nun fragmento de cristal antigo. Os museos usan MEVs para estudar artefactos valiosos de maneira non destrutiva.
Ficheiro:Photoresist SEM micrograph.JPG|Imaxe de MEV dunha capa de fotorresist usada na fabricación de semicondutores tomada nun MEV de emisión de campo. Estes MEVs son importantes na industria dos semicondutores polas súas capacidades de alta resolución.
Ficheiro:Surface of a kidney stone.jpg|Imaxe de MEV da superficie dun cálculo renal mostrando cristais tetragonais de weddellita (dihidrato de oxalato de calcio) saíndo desde a parte central amorfa do cálculo. A lonxitude horizontal da imaxe representa 0,5&nbsp;mm do orixinal.
Ficheiro:LightLTSEM.jpg|Dúas imaxes da mesmo cristal de neve "azucre", vistos nun microscopio óptico (esquerda) e no MEV (dereita). Nótese como a imaxe do MEV permite unha clara percepción de detalles da estrutura fina que son difíciles de  distinguir completamente na imaxe de microscopio óptico.
Ficheiro:Onion flake. Cells. SEM-BSE.jpg|Células epidérmicas da superficie interna dunha lámina de cebola. Debaixo das paredes da célula con aspecto de chagrín poden verse os núcleos e pequenos orgánulos flotando no citoplasma. Esta imaxe de electróns retrodispersados dunha mostra tinguida con lantanoide foi tomada sen previa fixación, deshidratación ou recubrimento por pulverización.
Ficheiro:SEM-stomata-UIowa.tif|Imaxe de MEV de estomas da superficie inferior dunha folla.

## Notas 
## Véxase tamén 
### Outros artigos 
* Microscopio electrónico
* Espectroscopia de raios X por dispersión de enerxía
* Microscopio de catodoluminescencia
* Microscopia
* Microscopio electrónico de transmisión

### Ligazóns externas 
;Xeral
* HowStuffWorks – How Scanning Electron Microscopes Work
* Learn to use an SEM – Un ambiente de aprendizaxe on line para persoas que queren usar un MEV. Proporcionado por Microscopy Australia
* Virtual SEM – sparkler - unha simulación intensiva dun microscopio electrónico de varido (MEV)
* Imaxes de MEV de cor multicanle -  e con electróns electrodispersados
* Exemplos de imaxes de DDC-SEM
* Vídeo sobre o microscopio electrónico de varido, Universidade de Karlsruhe de Ciencias Aplicadas
* Animacións e explicacións de varios tipos de microscopios incluíndo microscopios electrónicos (Université Paris Sud)

;Historia
* Historia do microscopio electrónico de varrido ambiental (ESEM)

;Imaxes
* Rippel Electron Microscope Facility   Ducias de imaxes de MEV (a maioría biolóxicas) do Dartmouth College.
* Tinguidura con lantanoide - Imaxes de MEV do Instituto de Investigación de Doenzas do Ollo, Moscova.