تداخل‌سنج ان-شکاف

**تداخل‌سنج ''اِن-''شکاف**  توسعه‌ای از تداخل‌سنج دوشکاف است که به‌عنوان تداخل‌سنج دوشکافی یانگ نیز شناخته می‌شود. یکی از اولین کاربردهای شناخته شده آرایه‌های *اِن-*شکاف در اپتیک توسط نیوتن نشان داده شد. در نیمه اول قرن بیستم، مایکلسون موارد مختلفی از پراش *اِن-*شکافی را توصیف کرد.

فاینمن آزمایش‌های فکری تداخل کوانتومی دوشکافی الکترون‌ها را با استفاده از نماد دیراک توصیف کرد. این رویکرد توسط دوارته و همکارانش درسال ۱۹۸۹ به تداخل‌سنج‌های *اِن-*شکاف گسترش یافت، با استفاده از روشنایی لیزری با پهنای‌خط‌باریک، یعنی روشنایی توسط فوتون‌های تمیزناپذیر . اولین کاربرد تداخل‌سنج *اِن-*شکاف تولید و اندازه‌گیری الگوهای تداخل پیچیده بود. این تداخل‌نگارها  به‌طور دقیق توسط معادله تداخل‌سنجی ''ان-''شکاف برای اعددهایی از شکاف‌ها، زوج (*N* = ۲، ۴، ۶،...)، یا فرد (*N* = ۳، ۵، ۷،...)، بازتولید یا پیش‌بینی می‌شوند.

## تداخل‌سنج لیزری ان-شکاف
چپ|بندانگشتی|543x543پیکسل| شماتیک‌های نمای بالا تداخل‌سنج ان-شکاف: TBE یک باریکه گستر  تلسکوپی است، MPBE یک باریکه گستر پرتو چندمنشوری است. آرایه ان-شکاف در ''j'' (با شکاف‌ها عمود بر گسترش باریکه) و صفحه تداخل‌سنجی در ''x'' است که آشکارساز دیجیتال در آن قرار دارد. فاصله درون‌تداخل‌سنجی ''D'' به اندازه ۵۲۷ متر گزارش شده‌است. '''نکته''': تداخل‌سنج‌های ''ان-''شکاف شامل تداخل‌سنج‌های سه‌شکاف (یا تداخل‌سنج‌های شکاف‌سه‌تایی)، تداخل‌سنج‌های چهارشکاف و غیره می‌باشند
تداخل‌سنج لیزری ان-شکاف، معرفی‌شده توسط دوارته، از باریکه گستر منشوری برای روشن‌کردن یک شبکه انتقال یا آرایه *ان-*شکاف و یک آرایه آشکارساز فوتوالکتریک (مانند سی‌سی‌دی یا سیماس) در صفحه تداخل برای ثبت سیگنال تداخل‌سنجی استفاده می‌کند. پرتو لیزر گسترش‌یافته که آرایه ان-شکاف را روشن می‌کند تک‌مُدعرضی و با عرض‌خط‌باریک است. این پرتو همچنین می‌تواند از طریق واردکردن یک عدسی کوژ قبل از گسترنده منشوری، شکل یک باریکه بسیار کشیده در صفحه انتشار و بسیار نازک در صفحه متعامد را به خود بگیرد. این استفاده از روشنایی یک‌بُعدی (یا خطی) نیاز به اسکن نقطه‌به‌نقطه در میکروسکوپ و ریزچگالی‌سنج را از بین می‌برد. بنابراین، این ابزار را می‌توان به عنوان تداخل‌سنج *ان-*شکاف مستقیم یا به عنوان میکروسکوپ تداخل‌سنجی استفاده کرد.

وابستار  این پیکربندی تداخل‌سنجی استفاده از آشکارسازهای دیجیتال را در تداخل‌سنجی *ان-شکاف* معرفی کرد.

## کاربردها
### مخابرات نوری امن
چپ|بندانگشتی|150x150پیکسل| اتداخل‌نگاشت برای ''N'' = ۳ شکاف با الگوی پراش که روی بال بیرونی سمت راست قرارگرفته است. این تداخل‌نگاشت خاص با ''نویسه تداخل‌سنجی'' "b" مطابقت دارد.
[چپ|بندانگشتی|150x150پیکسل| الگوی پراش بر روی تداخل‌نگاشت نشان‌داده‌شده در بالا، مربوط به ''N'' = ۳ شکاف، با استفاده از یک فیبر [ابریشم عنکبوت با قطر حدود ۲۵ میکرومتر ایجاد شد.]]
این تداخل‌سنج‌ها، که در ابتدا برای کاربردهای تصویربرداری معرفی شدند، در اندازه‌شناسی  نوری نیز مفید هستند و برای مخابرات نوری امن در فضای آزاد بین فضاپیماها پیشنهاد شده‌اند. این به‌دلیل این واقعیت است که تداخل‌نگاشت‌های ان-شکاف در حال انتشار، به دلیل تلاش‌های گیرش  با استفاده از روش‌های نوری ماکروسکوپی مانند باریکه شکافی ، دچار رُمبش فاجعه‌بار می‌شوند. پیشرفت‌های تجربی اخیر شامل طول مسیرهای درون‌تداخل‌سنجی  زمینی ۳۵ متر و ۵۲۷ متر است.

### تلاطم هوای صاف
تداخل‌سنج‌های ان-شکاف، با استفاده از فاصله‌های درون‌تداخل‌سنجی بزرگ، آشکارسازهای تلاطم هوای صاف هستند. اعوجاج‌های ناشی از تلاطم هوای صاف بر سیگنال تداخل‌سنجی، هم از نظر مشخصه و هم از نظر بزرگی، از رُمبش فاجعه‌بار ناشی از تلاش برای گیرش سیگنال‌های نوری با استفاده از عناصر نوری ماکروسکوپی متفاوت است.

### میکروسکوپ تداخل‌سنجی باریکه گستر
کاربرد اصلی تداخل سنج لیزری شکاف *N* تصویربرداری تداخل‌سنجی بود. به‌طور خاص، پرتو لیزر گسترده یک‌بُعدی (با سطح مقطع ۲۵–۵۰ میلی‌متر عرض و ۱۰–۲۵ میکرومتر ارتفاع) برای روشن کردن سطوح تصویربرداری (مانند فیلم‌های نقره هالید) برای اندازه‌گیری چگالی میکروسکوپی سطح روشن‌شده استفاده‌شد.

### کاربردهایی دیگر
تداخل‌سنج‌های ان-شکاف برای محققانی که در اپتیک اتمی، تصویربرداری فوریه، رایانش نوری، و رایانش کوانتومی کار می‌کنند، مورد توجه هستند.

## جستارهای وابسته
* باریکه گستر
* تلاطم هوای صاف
* پراش از شکاف‌ها
* آزمایش دو شکاف
* مخابرات نوری فضای آزاد
* مخابرات لیزری در فضا
* ریزبینی
* ریزچگالی‌سنج
* معادله تداخل‌سنجی ''ان-''شکاف
* فهرست مقالات لیزر

## منابع

رده:ابزارهای نوری
رده:اختراع‌های آمریکایی
رده:تداخل
رده:تداخل‌سنجی
رده:تداخل‌سنج‌ها