Title: Estudi per tècniques físiques d'anàlisi (SEM, EDX, SIMS, LAMMA, XRD, i XRF) de microcristalls exògens i endògens i de traces metàl·liques en patologia humana
First published: 1989
Subjects: Diagnosis, Electron microscopic, Electron microscopic Diagnosis
LC classification: RB43.5 .T87 1989