Temperverhalten von Elektronen- und Löcherfangstellen in SiO2-Schichten von MOS-Strukturen
By: Mohammad Aslam
Contributors: Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
Published: 1983
Language: ger
Number of pages: 119
Other titles: Fangstellen in MOS-Strukturen.
Notes: Thesis (doctoral)--Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen, 1983.