Eignungsnachweis von Prüfprozessen
Subtitle: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld
By: Edgar Dietrich, Alfred Schulze.
Edition: 2., aktual. u. erw. Aufl.
Publisher: Hanser
Published: 2004
Place of publication: München
Language: ger
Number of pages: 350