Haftstellenspektroskopie mit DLTS an Defekten in Silicium
By: von Helmut Lefèvre
Contributors: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
Published: 1981
Language: ger
Number of pages: 190
Notes: Thesis (doctoral)--Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 1981.