Medición de la inteligencia
Subtitle: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Binet y Simon
By: por Lewis M. Terman ... traducida por Federico Calvo y Luis F. Pérez.
Contributors: Calvo, Federico, tr.; Pérez, Luis F., tr.
Publisher: Imprenta Nacional
Published: 1927
Place of publication: Panama
Language: spa
Number of pages: 273
Subjects: Intelligence tests.