Zur Messung des Dotierugsprofils in Halbleiter-Dioden
Subtitle: 1. eine Methode zur Messung des Dotierungsprofils von Halbleiter-Dioden 2. die Bestimmung des Dotierungsprofils in Dioden mit grosser Haftstellendichte
By: Rudolf Stocker
Contributors: Universität Basel
Published: 1972
Language: ger
Notes: Thesis (doctoral)--Universität Basel, 1972.