Dokładność i precyzja pomiarów w rentgenograficznej analizie strukturalnej
By: [redaktor pracy Ryszard Kubiak].
Contributors: Kubiak, Ryszard.; Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych (Polska Akademia Nauk) 
Edition: Wyd. 1.
Series: Prace Komitetu Krystalografii, Polska Akademia Nauk ; 3; Seria Prace Komitetu Krystalografii ;; 3.
Publisher: Państwowe Wydawn. Naukowe
Published: 1978
Place of publication: Wrocław
Language: pol
Number of pages: 113
Subjects: X-ray crystallography -- Addresses, essays, lectures.
Notes: Includes bibliographies.
At head of title: Polska Akademia Nauk. Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych.