Planejamento da estratégia de inspeção e teste em montagem de placas eletrônicas - Uma abordagem utilizando algoritmos genéticos
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By: Edited by Atena Editora
Edition: -
Series: -
Publisher: Atena Editora
Published: 2024
Place of publication: Brasil
Language: por
Format: PDF
Copyright date: 2024
Description: Atualmente no mercado da manufatura eletrônica existe uma grande
pressão para reduzir custos, aumentar a qualidade e encurtar o tempo de
inserção do produto no mercado. Neste contexto, o adequado planejamento
qualidade gera um alto ganho no ambiente competitivo, sendo um meio
de alavancar a eficiência e a qualidade dos processos de uma empresa. No
entanto, os planejadores da qualidade de hoje possuem significativamente
muito mais desafios do que os de apenas alguns anos atrás. A complexidade
das placas eletrônicas está aumentando, com mais componentes, mais juntas
de solda, densidades mais elevadas, novas tecnologias de encapsulamentos
de componentes, entre outros. Ao mesmo tempo, existem mais alternativas de
equipamentos de inspeção e teste com novas tecnologias.
O nível de rendimento ou defeitos esperado na montagem de uma
determinada placa eletrônica depende de vários fatores, dentre quais destacamse:
o projeto da placa eletrônica, os tipos de componentes utilizados, o número
de componentes e juntas de solda, os processos executados, bem como a
qualidade destes processos. Quanto maior for o número de componentes,
juntas e processos, mais oportunidades de defeitos são criadas, o que leva a um
rendimento mais baixo para um determinado nível defeito histórico. Em outras
palavras, durante a produção de um lote placas eletrônicas muito complexas,
com muitas oportunidades de defeitos, é esperado ser contabilizado um número
de defeitos muito maior do que um lote de produção de placas eletrônicas
simples.