Untersuchung elektronischer Zustände an röntegenbestrahlten Silizium/Oxid-Grenzflächen mittels Admittanzmessungen
By: Gert Voland
Contributors: Technische Hochschule Darmstadt
Published: 1977
Language: ger
Number of pages: 90
Notes: Thesis (doctoral)--Technische Hochschule Darmstadt, 1977.