Untersuchung des physikalischen Verhaltens von lateralen Vierschichtstrukturen zum Schutz vor elektrostatischen Entladungen in CMOS integrierten Schaltungen
By: Erich Reichl
Contributors: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Edition: Mikrofiche-Ausg.
Publisher: [s.n.]
Published: 1994
Place of publication: [s.l.]
Language: ger
Number of pages: 180
Notes: Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x.

Thesis (doctoral)--Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, 1994.