Analiza źródeł błędów i doświadczalne wyznaczenie precyzji pomiaru makronaprężeń metodami rentgenograficznymi w wybranych materiałach polikrystalicznych
By: Dominik Senczyk ; Politechnika Poznańska.
Series: Rozprawy / Politechnika Poznańska,; nr 110; Rozprawy (Politechnika Poznańska) ;; nr. 110.
Publisher: Wydawn. PP
Published: 1980
Place of publication: Poznań
Language: pol
Number of pages: 171
Subjects: X-ray crystallography.
Notes: Bibliography: p. 153-165.
"Wydano w roku jubileuszowym 60-lecia Wyższego Szkolnictwa Technicznego w Poznaniu 25-lecia Politechniki Poznańskiej."
Summary in English, Russian, and Spanish.