Bestimmung von Spurenverunreinigungen in Niob- und Tantalpentoxid mit ICP-AES und ICP-MS nach multielementfähigen (n > 30) Spuren-Matrix-Trennungen unter Berücksichtigung anderer Refraktärmetalle als Analyten
By: Martin Opitz
Contributors: Universität Hannover
Edition: Mikrofiche-Ausg.
Publisher: [s.n.]
Published: 1995
Place of publication: [s.l.]
Language: ger
Number of pages: 280
Notes: Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x.

Thesis (doctoral)--Universität Hannover, 1995.