Untersuchung von Grenzflächen zwischen III-V- und II-VI-Halbleitern [Halbleitern] mittels Photoemission
By: Werner W.G. Wilke
Contributors: Technische Universität Berlin
Publisher: [s.n.]
Published: 1989
Place of publication: [s.l.]
Language: ger
Notes: Mikroreprod. e. Ms. 172 Bl. : Ill., graph. Darst.

Thesis (doctoral)--Technische Universität Berlin, 1989.