Großflächige Abscheidung organischer Leuchtdioden und Nutzung optischer Verfahren zur In-situ-Prozesskontrolle
By: vorgelegt von Michael Eritt
Published: 2010
Language: ger
Subjects: OLED; Optische Spektroskopie; Reflektometrie; Halbleiteroberfläche; Ausfall <Technik>; Beleuchtung
Notes: Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2010

Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet