Mehrebenen-Testgenerierung für synchrone Schaltwerke
By: Uwe Gläser
Contributors: Universität Duisburg
Series: GMD-Bericht -- Nr. 235; Berichte der Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung -- Nr. 235
Publisher: R. Oldenbourg
Published: 1994
Place of publication: München
Language: ger
Number of pages: 126
Subjects: Integrated circuits; Testing; Complementary Metal oxide semiconductors
Notes: Thesis (doctoral)--Universität-GH-Duisburg, 1994.

Includes bibliographical references (p. 119-126)