Elektromagnetische Rückwirkung der Messumgebung in der EMV Mess- und Prüftechnik
By: Siegbert Kunz
Contributors: Universität Karlsruhe
Series: Fortschritt-Berichte der VDI -- Nr. 403
Publisher: VDI Verlag
Published: 1994
Place of publication: Düsseldorf
Language: ger
Number of pages: 143
Other titles: Rückwirkung der EMV-Messumgebung.
Notes: Thesis (doctoral)--Universität Karlsruhe, 1993.