Messung der Ejektionsrichtung von Compton-Elektronen für die Bildrekonstruktion mit einer Compton-Kamera nach dem TEC-Prinzip
By: Mathias Gebser
Contributors: Universität-Gesamthochschule-Siegen
Edition: Mikrofiche-Ausg.
Published: 1990
Language: ger
Number of pages: 65
Notes: 1 Mikrofiche.

Thesis (doctoral)--Universität-Gesamthochschule-Siegen, 1990.