Estudi per tècniques físiques d'anàlisi (SEM, EDX, SIMS, LAMMA, XRD, i XRF) de microcristalls exògens i endògens i de traces metàl-liques en patologia humana
By: Josep M. Tura i Soteras, Joan Rodés i Teixidor, Adolf Traveria i Cros
Series: Arxius de la Secció de Ciències -- 89
Publisher: Institut d'Estudis Catalans
Published: 1989
Place of publication: Barcelona
Language: cat
Number of pages: 172
Subjects: Diagnostic imaging; Crystallization; Trace elements
Notes: Summaries in English and French.

Includes bibliographical references.

Includes bibliographical references.