Testverfahren in der Mikroelektronik
Subtitle: Methoden und Werkzeuge
Series: Mikroelektronik
Publisher: Springer Berlin Heidelberg
Published: 1997
Place of publication: Berlin, Heidelberg
Language: ger
Format: Elektronische Ressource
ISBN-13: 9783642605598
Subjects: Testmuster; Selbsttest; Algorithmus; Logische Schaltung; Digitale integrierte Schaltung; Testbarkeit; Fehlererkennung
Notes: Lizenzpflichtig

Langzeitarchivierung gewährleistet LZA