Verfahren zur Beseitigung ortsfester Störungen bei xy-adressierten Halbleiterbildsensoren am Beispiel der Charge Injection Devices (CID)
By: Rudolf Koch
Contributors: Technische Universität München
Published: 1980
Language: ger
Number of pages: 180
Notes: Thesis (doctoral)--Technische Universität München, 1980.