Erweiterte Charakterisierung der Schädigungen durch heisse Ladungsträger im Gateoxid von Kurzkanal-MOS-Feldeffekttransistoren
By: Reinhard Mahnkopf
Contributors: Technische Universität Berlin
Publisher: [s.n.]
Published: 1989
Place of publication: [s.l.]
Language: ger
Number of pages: 106
Notes: Thesis (doctoral)--Technische Universität Berlin, 1989.