Untersuchungen tiefer Störstellen an Grenzflächen in GaAs-Bauelementen Untereinsatz von Photokapazität und Photo-feldeffekttransistor-Messungen
By: Franz Tegude
Contributors: Universität Essen
Published: 1983
Language: ger
Number of pages: 141
Notes: Thesis (doctoral)--Universität-Gesamthochschule-Essen, 1983.