Détermination des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X
By: document rédigé à l'occasion de journées de formation continue organisées à l'ENSAM Paris, par L. Castex ... [et al.].
Contributors: Castex, L.; Ecole nationale supérieure d'arts et métiers (France)
Series: Publications scientifiques et techniques ;; 22
Publisher: Ecole nationale supérieure d'arts et métiers
Published: 1981
Place of publication: Paris
Language: fre
Number of pages: 206
Subjects: X-ray crystallography.
Notes: Includes bibliographies.