Das Transportverhalten heisser Elektronen an Metall-Halbleiterkontakten untersucht mit Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM)
By: von Andreas Bauer
Contributors: Freie Universität Berlin
Published: 1993
Language: ger
Number of pages: 129
Notes: Thesis (doctoral)--Freie Universität Berlin, 1993.