Das Rauschspektrum von Silizium-Transistoren bei sehr tiefen Frequenzen gemessen in einem Thermostat hoher Genauigkeit
By: Erich Nüesch
Contributors: Universität Basel
Publisher: Birkhäuser
Published: 1968
Place of publication: Basel
Language: ger
Number of pages: 344
Notes: Thesis (doctoral)--Universität Basel, 1968.

Het 1e ged. met een samenvatting in het Engels.

Overdr. uit: Zeitschrift für angewandte Mathematik und Physik ; 19, 2 (1968) en: Helvetica Physica Acta ; 41, 3 (1968)