Anwendbarkeit der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) zur Untersuchung der Fremddiffusion, dargestellt am Beispiel der Volumendiffusion von In und Al in Ni-Einkristallen und der Korngrenzendiffusion von In in orientierten Ni-Zweikristallen
By: von Michael B. Hintz
Contributors: Universität Stuttgart
Published: 1979
Place of publication: [s.l.]
Language: ger
Number of pages: 128
Notes: Thesis (doctoral)--Universität Stuttgart, 1979.