Charakterisierung der Zuverls̈sigkeit von sub-[mu]m AlSiCu/TiN/Ti/n-Si-Kontakten bei hochbeschleunigten Lebensdauertests
By: Jörg-Oliver Weidner
Contributors: Universität Hannover
Published: 1999
Language: ger
Notes: Thesis (doctoral)--Universität Hannover, 1999.