Stabilitätsuntersuchungen und elektrische Leitfähigkeitsmessungen an den Meta-Germanaten MgGe0₃ und CoGe0₃ sowie mem Ortho-Sillikat Ni₂Si0₄ unter hohen Drucken und Temperaturen
By: Armin Kirfel
Contributors: Universität Bonn
Publisher: Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität
Published: 1972
Place of publication: Bonn
Language: ger
Number of pages: 154
Notes: Thesis (doctoral)--Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, 1972.