Tiefendifferentielle Analyse von Festkörpern mit Hilfe der Sekundärionen-Massenspektrometrie
By: Johann L. Maul
Contributors: Technische Universität München
Edition: Als Ms. vervielf.
Series: GSF-Bericht -- 74; GSF-Bericht : P, Physikal.-Techn. Abt -- 74
Publisher: Ges. f. Strahlen- u. Umweltforschung mbH
Published: 1974
Place of publication: Neuherberg
Language: ger
Number of pages: 72
Notes: Literaturverz. S. 68 - 72.

Thesis (doctoral)--Technische Universität München, 1974.