Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni
By: Michał Wieczorowski
Edition: Wyd. 1.
Series: Rozprawy / Politechnika Poznańska -- nr 429
Publisher: Wydawn. Politechniki Poznańskiej
Published: 2000
Place of publication: Poznań
Language: pol
Number of pages: 340
ISBN-13: 9788371438066
Subjects: Surface roughness; Surfaces (Technology); Analysis; Measurement
Notes: Includes bibliographical references (p. [263]-340).

Summary in English.