Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces
Subtitle: Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis, 7-10 juin 1983, Paris, France
Series: Journal de physique -- 1983, C10
Publisher: Éditions de physique
Published: 1983
Place of publication: Les Ulis, France
Language: eng
Number of pages: 533
Subjects: Ellipsometry; Congresses
Other titles: Ellipsométrie 83.; Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis.
Notes: "Journal de physique, tome 44, Colloque C10, supplément au no12, décembre 1983."

"Europhysics journal"--Cover.

Spine title: Ellipsométrie 83.

Includes bibliographical references and index.