Estudi per tècniques físiques d'anàlisi (SEM, EDX, SIMS, LAMMA, XRD, i XRF) de microcristalls exògens i endògens i de traces metàl·liques en patologia humana
By: Josep M. Tura i Soteras, Joan Rodés i Teixidor, Adolf Traveria i Cros.
Contributors: Rodés i Teixidor, Joan.; Traveria i Cros, Adolf.
Series: Física i medicina ;; 1
Publisher: Institut d'Estudis Catalans
Published: 1989
Place of publication: Barcelona
Language: cat
Number of pages: 172
Subjects: Diagnosis, Electron microscopic.
Notes: Summaries in English and French.
Includes bibliographical references.