Charakterisierung dünner Edelmetallfilme auf Ruthenium-Oberflächen mittels Xenon-Adsorption und Photoelektronenspektroskopie
By: Matthias Schick
Contributors: Universität Bonn
Published: 1993
Language: ger
Number of pages: 194
Notes: Thesis (doctoral)--Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität zu Bonn, 1993.