Metrischer und topographischer Methodenvergleich von Kontaktprofilometer, konfokalem Laser-Scanning Mikroskop (CLSM) und Rasterelektronenmikroskop (REM) anhand identischer Prüfkörper
By: Markus Alles
Contributors: Johannes Gutenberg-Universität
Published: 1999
Language: ger
Notes: Thesis (doctoral)--Johannes Gutenberg-Universität in Mainz, 1999.