Methoden zur rechnergestützten zeitbezogenen Analyse und Optimierung von Testabläufen beim Test integrierter Schaltungen
By: Heiko Beyer
Series: Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 20, Rechnerunterstützte Verfahren -- Nr. 386
Publisher: VDI-Verlag
Published: 2004
Place of publication: Düsseldorf
Language: ger
Number of pages: 194
ISBN-13: 9783183386208
Notes: Includes bibliographical references (p. 191-194).