Fourier-Transform-IR-spektroskopische Charakterisierung der Oberfläche von hochdispersem Si0₂
By: Pedro Hoffmann
Contributors: Universität-Gesamthochschule-Siegen
Published: 1986
Language: ger
Number of pages: 136
Notes: Thesis (doctoral)--Universität-Gesamthochschule-Siegen, 1986.