Höhere Genauigkeit in Entwurf und Analyse kritischer Funktionen in integrierten Digitalen N-MOS-LSI-Schaltungen durch genauere Schaltungssimulation und elektronenmikroskopische Potentialmessungen
By: von Krunoslav Hernaut
Contributors: Universität Dortmund
Published: 1978
Place of publication: [s.l.]
Language: ger
Number of pages: 200
Notes: Thesis (doctoral)--Universität Dortmund, 1978.