Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren
Subtitle: I. Untersuchung des Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen und Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren II. Erweiterte Untersuchung des differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren
By: Johannes Golder
Contributors: Universität Basel
Published: 1972
Language: ger
Notes: Thesis (doctoral)--Universität Basel, 1972.