Methoden zur Analyse und Korrektur apparativ bedingter Messfehler beim elektronischen Verfahren zur Teilchengrössenbestimmung nach Coulter
By: Volker Kachel
Contributors: Technische Universität Berlin
Publisher: [s.n.]
Published: 1972
Place of publication: [s.l.]
Language: ger
Number of pages: 153
Notes: Thesis (doctoral)--Technische Universität Berlin, 1972.