Elektronenmikroskopische Untersuchung der Fehlstellenagglomeration in Kupfer nach Tieftemperaturbestrahlung
By: Gerhard Nabert
Contributors: Universität Stuttgart
Publisher: [s.n.]
Published: 1987
Place of publication: [s.l.]
Language: ger
Number of pages: 55
Notes: Thesis (doctoral)--Universität Stuttgart, 1987.