Analytische Beschreibung des Degradationsverhaltens von Submikrometer-MOS-Bauelementen durch heisse : Ladungsträger
Subtitle: Experimente, Modellbildung und Simulation für schaltungstechnische Anwendungen
By: Qin Wang
Contributors: Technische Universität Berlin
Published: 1991
Language: ger
Number of pages: 128
Notes: Thesis (doctoral)--Technische Universität Berlin, 1991.