IC defect-sensitivity
Subtitle: theory and computational models for yield prediction
By: José de Jesús Pineda de Gyvez
Contributors: Technische Universiteit Eindhoven
Publisher: [s.n.]
Published: 1991
Place of publication: [s.l.]
Language: eng
Number of pages: 120
ISBN-13: 9789090039695
Notes: Thesis (doctoral)--Technische Universiteit Eindhoven, 1991.

Met lit. opg.: p 113-120. - Met samenvatting in het Nederlands.