V<Superscript>th<Superscript> International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis/V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse/V<Superscript>e<Superscript> Congrès International sur l'Optique des Rayons X et la Microanalyse
Publisher: Springer Berlin Heidelberg
Published: 1969
Place of publication: Berlin, Heidelberg
Language: ger
Format: Elektronische Ressource
ISBN-13: 9783662247785
Notes: Lizenzpflichtig

Langzeitarchivierung gewährleistet LZA