Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
By: Hans-Joachim Wunderlich.
Series: Informatik-Fachberichte ;; 140
Publisher: Springer-Verlag
Published: 1987
Place of publication: Berlin; New York
Language: ger
Number of pages: 133
Subjects: Digital integrated circuits -- Testing -- Data processing.; Probabilities.
Notes: Includes bibliographical references (p. [121]-133).
Originally presented as the author's thesis (doctoral--Universität Karlsruhe, 1986) under the title: Probabilistische Verfahren zur Verbesserung der Testbarkeit synthetisierter digitaler Schaltungen.