La fiabilité des composants RF de puissance
Subtitle: Étude de la fiabilité des transistors RF LDMOS de puissance en mode pulsé pour des applications hyperfréquences
Publisher: Omniscriptum; Editions universitaires europeennes
Published: Mar 20, 2012
Format: paperback
Number of pages: 248
ISBN-13: 9783841794963
Notes: Source title: La fiabilité des composants RF de puissance: Étude de la fiabilité des transistors RF LDMOS de puissance en mode pulsé pour des applications hyperfréquences (Omn.Univ.Europ.) (French Edition)