Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen
By: Markus Otto-Wilhelm Thönissen
Contributors: Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
Published: 1998
Language: ger
Number of pages: 163
Notes: Thesis (doctoral)--Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen, 1998.