Trwałość i stabilność przyrza̦dów półprzewodnikowych.
Contributors: Rosiński, Witold.
Publisher: Wydawn. Naukowo-Techniczne
Published: 1964
Place of publication: Warszawa
Language: pol
Number of pages: 193
Subjects: Transistors -- Reliability
Notes: At head of title: Jerzy Kołodziejski, Witold Rosiński.