Untersuchungen der Tracerdiffusion von Kupfer in Silberbromid, Kupfer(I)-bromid und Lithiumbromid im Vergleich mit Leitfähigkeits- und Kernresonanzmessungen
By: von Heinz-Peter Schäfgen
Contributors: Ruhr-Universität Bochum
Published: 1982
Language: ger
Number of pages: 191
Notes: Thesis (doctoral)--Ruhr-Universität Bochum, 1982.