Charakterisierung von kristallinem Silicium durch elektrochemische und Raman-spektroskopische Untersuchungen an der Halbleiter/Elektrolyt- Grenzfläche
By: Thomas Salbert
Contributors: Technische Universität München
Published: 1987
Language: ger
Number of pages: 144
Notes: Thesis (doctoral)--Technische Universität München, 1987.