鑽石淨度

鑽石淨度為鑽石視覺上的潔淨程度，為鑽石4C標準之一。影響其等級的瑕疵分為二者，內部的瑕疵稱為內含物（英語：inclusion ），表面的缺陷稱為表面瑕疵（英語：blemish ）。評鑑鑽石淨度的準則，包括了上述瑕疵的數量、大小、種類、位置、明顯度等對鑽石整體外觀的影響程度。鑽石淨度的評級必須在十倍放大鏡（Triplet lens）檢視下進行。

內含物可能為包覆在鑽石內的其他礦物晶體，或者本生的晶體缺陷呈現霧狀白色。而大部分的鑽石都含有極細微的內含物，不影響鑽石本身的美感，也無法由肉眼觀察。但較大的內含物會阻礙光線在鑽石內穿透，影響鑽石的閃耀程度。靠近或延伸至表面的裂紋有可能受應力而加長增深，甚至崩裂。

淨度等級越高，鑽石的價格也就隨之增高。此外，內含物記載鑽石形成時的地質環境，並可作為分辨真偽、天然或合成鑽石的依據。
內含物及表面瑕疵
內含物又稱為內部特徵，表面瑕疵又稱為表面特徵，乃因珠寶產業避免使用負面詞語，且每一顆鑽石都有屬於自己獨一無二的特徵。
內含物
瘀痕 Bruise : 伴隨有根狀羽裂紋的撞擊區域，由側刻面觀察，瘀痕呈現向內部放射的棉絮構造。
洞痕 Cavity : 觸及鑽石表面的晶體掉落或在切磨過程中所留下的坑洞。
缺口 Chip : 鑽石表面上的淺開口，通常為圓弧狀，特指在鑽石切磨完成後才發生的損傷。
雲狀物 Cloud : 由許多緊聚的針點組成，聚集一起時呈霧白或灰狀，或似一團白色粉末。過大且濃的雲狀物會降低鑽石的透明度，進而影響亮光及美感。
羽裂紋 Feather : 泛指鑽石內的任何破裂紋。
含晶  Included crystal : 包裹在鑽石內部的礦物晶體。
內凹天然面 Indented natural : 鑽石原礦的表皮上可能有三角形或平行凹槽的生長印記，在加工後未去除而陷於刻面之下。
內部孿晶紋 Internal graining : 鑽石晶體生長不規則所產生，其外貌可為多條平行直線、歪斜線或波浪曲線。
晶結 Knot :內部延伸至表面刻面的鑽石晶體。晶結和宿主鑽石成長方向不同，會造成拋磨加工的困難。
針狀物 Needle : 鑽石內部所含的細長晶體。針狀物可能為白色或暗色。
針點 pinpoint : 為很小的晶體，10倍放大下看似小點，針點通常為白色，但偶也呈黑色。
雷射洞 Laser drill hole : 改善鑽石深色內含物外觀的一種處理痕跡。使用雷射光束，由鑽石表面鑽孔至內含物，若內含物未被雷射光破壞，則會沿者雷射造成的細小孔洞注入酸液，將深色內含物加以漂白，以改善鑽石的視覺淨度。

表面瑕疵
磨損痕 Abrasion : 是刻面稜線上一系列極細微的小缺口，稜線呈現白霧狀。磨損痕多因不細心地安置多項珠寶，致使其相互磨擦所成。
刮痕 Scratch : 表面細小白霧線，可為直線或曲線。
小缺口 Nick : 小型不具明顯深度開口，通常出現在腰邊或刻面稜線上。小缺口比缺口更小、更淺。
拋光線 Polish line : 拋光後所留下輕微的平行紋路，白色或透明。發生於任何刻面，但不會越過稜線。
白點 Pit : 似小白點的細小開口。
蜥蜴皮 Lizard skin : 已切磨的鑽石刻面上如波浪或漣漪狀連續凸起區域。
天然面 Natural : 鑽石原石部份的表皮未去除而保留在成品上。
額外刻面 Extra facet : 不再鑽石的原始刻面設計中，多磨出來的小刻面。通常是因為試圖磨掉某一表面特徵，或是切磨過程的小誤失。
粗糙腰圍 Rough girdle : 不規則滿佈小凹坑或粒狀的腰圍表面。
表面攣晶紋 Surface graining : 已磨鑽石表面上一道或多道透明線，鑽石晶體結構不規則所產生。表面孿晶紋與內部孿晶紋具關聯性，並可能同時出現。

分級

美國寶石學院 (GIA)

GIA鑽石淨度級別
+GIA鑽石淨度標準 類型 無瑕級 內部無瑕級 極輕微瑕級 輕微內含級 微內含級 內含級 等級 FL IF VVS1 VVS2 VS1 VS2  SI1 SI2 I1 I2 I3

GIA鑽石淨度標準，分為6個類型，11個等級
，如下:
無瑕級 (FL) 在10倍放大鏡下觀察，鑽石沒有任何內含物或表面瑕疵
內無瑕級 (IF) 在10倍放大鏡下觀察，鑽石內部沒有任何內含物，而表面有微不足道的瑕疵，可藉由磨光去除。
極輕微內含級  (VVS) 在10倍放大鏡下觀察，鑽石內部有極微細的瑕疵，即使是專業鑑定師也很難看到。
輕微內含級  (VS) 在10倍放大鏡下觀察，鑽石的瑕疵可見，但非常微小。
微內含級 (SI) 在10倍放大鏡下觀察，鑽石有清晰可見的瑕疵。
內含級 (I) 瑕疵在10倍放大鏡觀察下非常明顯，肉眼觀察亦可看見，並且影響了鑽石的堅固度或透明度和閃亮度。

GIA鑽石淨度評級流程
GIA實驗室配有珠寶顯微鏡，具備無段變焦功能、暗場照明、頭照燈等等功能。觀察鑽石內部應使用暗場照明，只允許反射光進入顯微鏡光學系統，遮蔽直射光，使背景黑暗，以利觀察。
評級前應先徹底清潔過，鑑定師以鑷子夾住鑽石腰圍，檢查桌面及底尖，然後再以鑷子夾住桌面及底尖，檢查側面。每當一刻面檢察完畢，即調整鑽石角度及位置，檢查下一處刻面。
使用暗場照明發現瑕疵後，切換至頭照燈以確定瑕疵的位置在鑽石表面或內部。鑑定師可以用較高的放大倍率確定瑕疵的種類並製圖，但最終檢查仍以十倍倍率放大評估整體外觀。
美國寶石協會(AGS)
+AGS 鑽石淨度級別 GIA FL IF VVS1 VVS2 VS1 VS2 SI1 SI2 I1 I2 I3 AGS 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
美國寶石協會以數字0至10劃分鑽石淨度，可大至對應於GIA評級系統。無瑕級與內部無瑕級皆為等級0，但會註記是否有外部瑕疵。極輕微瑕級至輕微內含級分別對應數字1至4，數字5至10細分微內含級及內含級之類型。
歐洲寶石學院(EGL)
+EGL 鑽石淨度級別 GIA FL IF VVS1 VVS2 VS1 VS2 SI1 SI2 I1 I2 I3 EGL USA FL IF VVS1 VVS2 VS1 VS2 SI1 SI2 SI3 I1 I2 I3 EGL India FL IF VVS1 VVS2 VS1 VS2 SI1 SI2 SI3 P1 P2 P3
歐洲寶石學院在SI2及I1之間增添SI3等級，此等級常常被解讀為I1等級中內含物較不易被肉眼察覺者。
淨度評級考量因素
淨度評級是由專業評級師在十倍放大鏡下，對鑽石淨度做出整體評估。評級師會找尋鑽石中的內含物，並考量五項因素:數量、大小、種類、位置、明顯度，加以評級。淨度評級會以最醒目的數個瑕疵作為主要判斷因素，次要的瑕疵並不影響等級，但仍會被繪製於鑑定書上。
未鑲嵌的裸鑽才能做出精確的淨度評級，因鑲材會遮掩部分的瑕疵，並阻礙光線照明。
大小
通常瑕疵尺寸愈大愈易察覺，愈易察覺則影響等級愈大。
數量
一般而言，瑕疵數量愈少，影響等級愈小。
位置
瑕疵的位置亦會影響觀察的難易度，在桌面(table)下的內含物最容易被觀察，尤其是位在桌面下靠近亭部(pavilion)處，同一內含物會反射數次同時進入視野，嚴重隱響外觀。相較之下，靠近腰部(girdle)的內含物則不易被觀察，從亭部觀察又比從冠部(crown)觀察容易。
此外，延伸至冠部或腰部的較大羽裂紋、晶結、含晶會嚴重影響淨度評級，乃因上述瑕疵可能因外力撞擊造成羽裂紋更深、晶體掉落。有以上此種風險的鑽石會被評為內含級(I)。
種類
瑕疵分為內部及外部，含有外部的'表面瑕疵'，則等級為'內無瑕級'以下；含有內部的'內含物'，等級為'極輕微內含級'以下。部分種類的瑕疵會影響鑽石的堅固，鑽石可能有破損的風險。
明顯度
內含物因對比鑽石本體可被觀察，稱為"明顯度"。通常顏色愈深的內含物愈易觀察，而降低淨度評級，例外:黑色針點通常較白色針點不易看見。
 稀少性 
鑽石原礦中約20%可作為珠寶，其餘80%因不夠乾淨而用於工業用途。作為珠寶產品的鑽石大多數含有肉眼可觀察的瑕疵，淨度愈高的鑽石相對愈稀少。在距離約十五公分(近點距離)由肉眼觀察而未能發現瑕疵者，稱為目下無暇(eye-clean)。

 淨度優化處理 
常見的淨度優化處理包含雷射鑽孔處理及裂縫填充處理。

雷射鑽孔處理:從鑽石表面以雷射燒出一個直達內含物的小洞，或者加熱局部區域製造裂隙，再加以酸洗內含雜質。

裂縫填充處理:將折射率近似於鑽石的物質填充至具有裂縫中，使羽裂紋不易觀察。

GIA接受評級經雷射鑽孔處理的鑽石，但不接受評級經裂縫填充處理的鑽石，因雷射鑽孔為不可逆的永久變化，然而加熱會破壞填充物質，經常發生於鑲嵌時使用焊槍。鑽石若經優化處理，販售方應主動告知買家。

参考文献
樊成著，《鑽石鑑定全書》，布克文化出版事業部，台北市，2014，ISBN 9789865728182
 参考资料 

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