提內耳氏徵象

提內耳氏徵象（）是一种測試神经是否受到刺激或發炎的方法，叩診輕敲神经损伤部位可引起刺痛或感覺異常。命名取自法国神经学家（1879-1952）Tinel, J., Nerve wounds. London: Baillère, Tindall and Cox, 1917Tinel, J. (1915) Le signe du fourmillement dans les lésions des nerfs périphériques. Presse médicale, 47, 388-389Tinel, J. (1978) The "tingling sign" in peripheral nerve lesions (Translated by EB Kaplan). In: M. Spinner M (Ed.), Injuries to the Ma jor Branches of Peripheral Nerves of the Forearm. (2nd ed.) (pp 8-13). Philadelphia: WD Saunders Co。

以腕隧道症候群手腕的正中神经壓迫為例，提內耳氏徵象常為「陽性」，受試者拇指、食指、中指和半边无名指感到刺痛。提內耳氏徵象有時也被稱為叩診遠端刺痛（），在體感神經修復的階段，可以預期這個遠端徵象會跟著改善。

儘管最常用於腕隧道症候群，提內耳氏徵象是一個廣義術語，用於或也可呈現陽性反應。

参见
 霍夫曼氏反射
 德爾坎測試

参考文献

外部链接

Category:神經系統疾病