Spektroradiometr

Radiometr (radio… va … metr) – 1) elektromagnit nurlanish energiyasini oʻlchash uchun moʻljallangan asbob. Ishi nurlanishning issiklik taʼsiriga asoslanadi. Quyosh radiatsiyasi, infraqizil nurlanish va boshqa nurlanishlarni tadqiq qilishda qoʻllanadi (yana qarang Aktinometr, Pirgeliometr); 2) rad ioastronomiyada – radiotoʻlqinlar diapazonida (toʻlqin uzunligi 0,1 mm dan 1000 m gacha) astronomik obʼyektlarning nurlanishini tadqiq qilish uchun moʻljallangan radiotexnik qurilma. Radioteleskoplarning qabul qiluvchi qurilmasi sifatida, shuningdek, Yer sirtining issiklik haritalarini tuzishda qoʻllanadi; 3) radioaktiv manbalarning faolligi (vaqt birligi mobaynida radioaktiv yemirilish aktlari soni) ni oʻlchash uchun moʻljallangan asbob; 4) akustikada – tovush nurlanishlari bosimi (tovushning radiatsion bosimi) ni, kengroq maʼnoda – tovush maydonining baʼzi muhim koʻrsatkichlari (tovush energiyasi zichligi, tovush intensivligi va boshqalar)ni oʻlchash uchun moʻljallangan asbob.Spektroradiometr yorugʻlik manbasidan chiqadigan yorugʻlikning toʻlqin uzunligi va amplitudasini oʻlchashga qodir boʻlgan yorugʻlikni oʻlchash vositasidir. Spektrometrlar toʻlqin uzunligini yorugʻlik detektor massiviga tushadigan joyga qarab ajratadi, bu esa toʻliq spektrni bir marta olish bilan olish imkonini beradi. Aksariyat spektrometrlarda hisoblashning asosiy oʻlchovi mavjud, bu kalibrlanmagan oʻqishdir va shuning uchun detektorning har bir toʻlqin uzunligiga sezgirligi taʼsir qiladi. Kalibrlashni qoʻllash orqali spektrometr spektral nurlanish, spektral nurlanish va yoki spektral oqim oʻlchovlarini taʼminlay oladi. Yoritish (lyuks yoki fc), Yorqinlik (Vt/sr), Yorqinlik (cd), Oqim (Lumen yoki Vatt) koʻrsatkichlarini taʼminlash uchun oʻrnatilgan yoki kompyuter dasturlari va koʻplab algoritmlar bilan ham ishlatiladi. Bunda xromatik nurlardan foydalaniladi. Spektroradiometr yorugʻlik manbasidan chiqadigan yorugʻlikning toʻlqin uzunligi va amplitudasini oʻlchashga qodir boʻlgan yorugʻlikni oʻlchash vositasidir.

Spektrometrlar koʻplab toʻlqin uzunligi diapazonlarini qamrab oluvchi koʻplab paketlar va oʻlchamlarda mavjud. Spektrometrning samarali toʻlqin uzunligi (spektral) diapazoni nafaqat panjara dispersiya qobiliyati bilan belgilanadi, balki detektorlarning sezgirlik diapazoniga ham bogʻliq. Yarimoʻtkazgichning tarmoqli boʻshligʻi bilan cheklangan kremniy asosidagi detektor 200-1100 ga javob beradi nm InGaAs asosidagi detektor esa 900-1700 gacha sezgir nm (yoki 2500 gacha nm sovutish bilan).

Laboratoriya/tadqiqot spektrometrlari odatda UV dan NIRgacha keng spektrli diapazonni qamrab oladi va kompyuterni talab qiladi. Sovutish tizimini ishga tushirish uchun yuqori quvvat talab qiladigan IR spektrometrlari ham mavjud. Koʻpgina

Portativ qurilmalar, shuningdek, UV dan NIRgacha boʻlgan koʻplab spektral diapazonlar uchun mavjud va juda koʻp turli xil paketlar uslublari va oʻlchamlarini taklif qiladi. Mini spektrometrlarni qoʻlda yoki laboratoriyada ishlatish mumkin, chunki ular kompyuter tomonidan quvvatlanadi va boshqariladi va USB kabelini talab qiladi. Kirish optikasi birlashtirilgan boʻlishi mumkin yoki odatda optik tolali yorugʻlik qoʻllanmasi bilan biriktiriladi. Bundan tashqari, chorakdan kichikroq mikro Spektrometrlar mavjud boʻlib, ular tizimga birlashtirilishi yoki mustaqil ravishda ishlatilishi mumkin. Radiometer – bu Daniyaning koʻp millatli kompaniyasi boʻlib, u qon namunalarini olish, qon gazini tahlil qilish, transkutan monitoring, immunoassay testlari va tegishli IT boshqaruv tizimlari uchun echimlarni ishlab chiqadi, ishlab chiqaradi va sotadi.

 Fon 
Spektroradiometriya sohasi tor toʻlqin uzunliklari oraligʻida mutlaq radiometrik miqdorlarni oʻlchash bilan bogʻliq. Leslie D. Stroebel and Richard D. Zakia (1993). Focal Encyclopedia of Photography (3rd ed. ed.). Focal Press. p. 115.  Spektrni tor tarmoqli kengligi va toʻlqin uzunligi oʻsishi bilan namuna olish foydalidir, chunki koʻp manbalarda chiziqli tuzilmalar mavjud . Koʻpincha spektroradiometriyada spektral nurlanish kerakli oʻlchovdir. Amalda, oʻrtacha spektral nurlanish oʻlchanadi, matematik jihatdan taxminiy koʻrinishda koʻrsatiladi:



Qayerda  spektral nurlanish,  toʻlqin uzunligi oraligʻidagi manbaning nurlanish oqimi (SI birligi: vatt, Vt)  (SI birligi: metr, m), sirt maydoniga hodisa,  (SI birligi: kvadrat metr, m 2). Spektral nurlanish uchun SI birligi Vt/m 3 ni tashkil qiladi. Biroq, koʻpincha maydonni santimetr va toʻlqin uzunligini nanometrlarda oʻlchash foydaliroq boʻladi, shuning uchun spektral nurlanishning SI birliklarining pastki koʻpliklari ishlatiladi, masalan, mkW/sm 2 nm Kostkowski, Henry J. Reliable Spectroradiometry. La Plata, MD: Spectroradiometry Consulting, 1997. Print.

Spektral nurlanish umuman sirtda nuqtadan nuqtaga oʻzgarib turadi. Amalda, nurlanish oqimining yoʻnalishga, sirtdagi har bir nuqtada manba tomonidan ajratilgan qattiq burchakning oʻlchamiga va sirtning yoʻnalishiga qarab qanday oʻzgarishiga eʼtibor berish muhimdir. Ushbu mulohazalarni hisobga olgan holda, ushbu bogʻliqliklarni hisobga olish uchun tenglamaning yanada qatʼiy shaklini qoʻllash koʻpincha oqilona boʻladi Kostkowski, Henry J. Reliable Spectroradiometry. La Plata, MD: Spectroradiometry Consulting, 1997. Print.

Eʼtibor bering, „spektral“ prefiksi „spektral kontsentratsiya“ iborasining qisqartmasi sifatida tushunilishi kerak, bu CIE tomonidan „maʼlum bir toʻlqin uzunligining har ikki tomonida cheksiz kichik diapazonda olingan radiometrik miqdorning koeffitsienti“ sifatida tushuniladi va aniqlanadi., diapazon boʻyicha". Sanders, Charles L., and R. Rotter. The Spectroradiometric Measurement of Light Sources. Paris, France: Bureau Central De La CIE, 1984. Print.

 Spektral quvvat taqsimoti 
Manbaning spektral quvvat taqsimoti (SPD) maʼlum bir toʻlqin uzunligi va maydonda sensorga qancha oqim yetib borishini tavsiflaydi. Bu oʻlchanayotgan radiometrik miqdorga har bir toʻlqin uzunligi hissasini samarali ifodalaydi. Manbaning SPD odatda SPD egri chizigʻi sifatida koʻrsatiladi. SPD egri chiziqlari yorugʻlik manbasining rang xususiyatlarining vizual tasvirini taʼminlaydi, koʻrinadigan spektr boʻylab turli toʻlqin uzunliklarida manba chiqaradigan nurlanish oqimini koʻrsatadi GE Lighting. „Learn About Light: Spectral Power Distribution Curves: GE Commercial Lighting Products.“ Learn About Light: Spectral Power Distribution Curves: GE Commercial Lighting Products. N.p., n.d. Web. 10 Dec. 2013. <> Bu shuningdek, yorugʻlik manbasining ranglarni koʻrsatish qobiliyatini baholashimiz mumkin boʻlgan metrikdir., yaʼni maʼlum bir rangli stimulni maʼlum bir yoritgich ostida toʻgʻri koʻrsatish mumkinmi degan savol tugʻiladi albatta.

 Xatolik manbalari 
Berilgan spektrradiometrik tizimning sifati uning elektronikasi, optik komponentlari, dasturiy taʼminoti, quvvat manbai va kalibrlash funktsiyasidir. Ideal laboratoriya sharoitida va yuqori malakali mutaxassislar bilan oʻlchovlarda kichik (bir necha oʻndan bir necha foizgacha) xatolarga erishish mumkin. Biroq, koʻp amaliy vaziyatlarda, 10 foiz darajasida xatolik ehtimoli bor Kostkowski, Henry J. Reliable Spectroradiometry. La Plata, MD: Spectroradiometry Consulting, 1997. Print. Jismoniy oʻlchovlarni oʻtkazishda bir necha turdagi xatolar mavjud. Oʻlchov aniqligining cheklovchi omillari sifatida qayd etilgan uchta asosiy xato turi tasodifiy, tizimli va davriy xatolardir. Bu xatoliklar koʻpgina muammolarni keltirib chiqarishi mumkin. Schnedier, William E., and Richard Young, Ph. D. Spectroradiometry Methods. Application Note (A14). N.p., 1998. Web. <http://biology.duke.edu/johnsenlab/pdfs/tech/spectmethods.pdf>

 Tasodifiy xatolar bu oʻrtacha oʻzgarishlardir. Spektroradiometrik oʻlchovlar boʻlsa, buni detektor, ichki elektronika yoki yorugʻlik manbasining oʻzidan shovqin deb hisoblash mumkin. Ushbu turdagi xatolarga uzoqroq integratsiya vaqtlari yoki bir nechta skanerlash orqali qarshi kurashish mumkin.
 Tizimli xatolar bashorat qilingan „toʻgʻri“ qiymatga ofsetdir. Tizimli xatolar odatda ushbu oʻlchovlarning inson komponenti, qurilmaning oʻzi yoki eksperimentning oʻrnatilishi tufayli yuzaga keladi. Kalibrlash xatolari, notoʻgʻri yorugʻlik va notoʻgʻri sozlamalar kabi narsalar mumkin boʻlgan muammolardir.
 Davriy xatolar takrorlanuvchi davriy yoki psevdo-davriy hodisalardan kelib chiqadi. Harorat, namlik, havo harakati yoki oʻzgaruvchan tok shovqinidagi oʻzgarishlar davriy xato deb tasniflanishi mumkin.
 Koʻpgina maʼlumotlar olish jarayonida statistik xatolarga yoʻl qoʻyiladi. 

Ushbu umumiy xato manbalariga qoʻshimcha ravishda, spektroradiometriyadagi xatoning bir nechta aniq sabablari quyidagilardan iborat:

 Oʻlchovning koʻp oʻlchovliligi. Chiqish signali bir necha omillarga bogʻliq, jumladan, oʻlchangan oqimning kattaligi, uning yoʻnalishi, qutblanishi va toʻlqin uzunligi taqsimoti.
 Oʻlchov vositalarining notoʻgʻriligi, shuningdek, ushbu asboblarni kalibrlash uchun ishlatiladigan standartlar butun oʻlchash jarayoni davomida kattaroq xatolikka olib keladi va
 Koʻp oʻlchovlilik va qurilma beqarorligi xatosini kamaytirishning xususiy usullari. Kostkowski, Henry J. Reliable Spectroradiometry. La Plata, MD: Spectroradiometry Consulting, 1997. Print.

Kaliforniyada joylashgan yorugʻlik oʻlchash asboblari ishlab chiqaruvchisi Gamma-scitific tizimi kalibrlash, dasturiy taʼminot va quvvat manbai, optika yoki oʻlchash dvigatelining oʻzi tufayli ularning spektroradiometrlarining aniqligi va ishlashiga taʼsir qiluvchi etti omilni sanab oʻtadi. Gamma Scientific. „Seven Factors Affecting Spectroradiometer Accuracy and Performance.“ Gamma Scientific. N.p., n.d. Web. <http://www.gamma-sci.com/spectroradiometer-accuracy-performance/ >.

 Taʼriflar 

 Adashgan yorugʻlik 
Adashgan yorugʻlik – notoʻgʻri detektor elementiga etib boradigan toʻlqin uzunligidagi kiruvchi nurlanish. U detektor massivining pikseli yoki elementi uchun moʻljallangan spektral signal bilan bogʻliq boʻlmagan xato elektron hisoblarni yaratadi. Bu yorugʻlikning tarqalishi va nomukammal optik elementlarning aks etishi, shuningdek, yuqori darajadagi diffraktsiya effektlaridan kelib chiqishi mumkin. Detektordan oldin tartibni saralash filtrlarini oʻrnatish orqali ikkinchi tartib effektini olib tashlash yoki hech boʻlmaganda keskin kamaytirish mumkin.

Si detektorlarining koʻrinadigan va NIRga nisbatan sezgirligi UV diapazonidagidan deyarli kattaroqdir. Bu shuni anglatadiki, UV spektral pozitsiyasidagi piksellar oʻzlarining ishlab chiqilgan spektral signallariga qaraganda koʻrinadigan va NIRdagi adashgan nurga kuchliroq javob beradi. Shu sababli, UV mintaqasidagi adashgan yorugʻlik taʼsiri koʻrinadigan va NIR piksellariga qaraganda ancha muhimroqdir. Toʻlqin uzunligi qanchalik qisqa boʻlsa, bu holat yomonlashadi.

UV signallarining kichik qismi bilan keng diapazonli yorugʻlikni oʻlchashda adashgan yorugʻlik taʼsiri baʼzan UV diapazonida ustun boʻlishi mumkin, chunki detektor piksellari allaqachon manbadan etarli darajada UV signallarini olish uchun kurashmoqda. Shu sababli, QTH standart chiroq yordamida kalibrlash 350 dan past boʻlgan katta xatolarga (100% dan ortiq) ega boʻlishi mumkin. nm va Deuterium standart chiroq bu mintaqada aniqroq kalibrlash uchun talab qilinadi. Aslida, ultrabinafsha nurlanish zonasida mutlaq yorugʻlikni oʻlchash, agar bu piksellardagi elektron hisoblarning aksariyati adashgan yorugʻlik (haqiqiy UV nuri oʻrniga uzoqroq toʻlqin uzunligi urishi) natijasida boʻlsa, toʻgʻri kalibrlash bilan ham katta xatolarga olib kelishi mumkin.

 Kalibrlash xatolari 
Spektrometrlar uchun kalibrlashni taklif qiladigan koʻplab kompaniyalar mavjud, ammo barchasi bir xil emas. Kalibrlashni amalga oshirish uchun kuzatilishi mumkin boʻlgan, sertifikatlangan laboratoriyani topish muhimdir. Kalibrlash sertifikatida ishlatiladigan yorugʻlik manbasi (masalan: halogen, deyteriy, ksenon, LED) va har bir diapazon (UVC, UVB, VIS..), har bir toʻlqin uzunligi nm yoki toʻliq spektr uchun kalibrlashning noaniqligi koʻrsatilishi kerak. oʻlchandi. Shuningdek, u kalibrlash noaniqligi uchun ishonch darajasini koʻrsatishi kerak.

 Notoʻgʻri sozlamalar 
Kamera kabi, koʻpchilik spektrometrlar foydalanuvchiga toʻplanishi kerak boʻlgan namunalar miqdori va taʼsir qilish vaqtini tanlash imkonini beradi. Integratsiya vaqtini va skanerlash sonini belgilash muhim qadamdir. Juda uzoq integratsiya vaqti toʻyinganlikka olib kelishi mumkin. (Kamera fotosuratida bu katta oq nuqta koʻrinishida koʻrinishi mumkin, bu yerda spektrometrda boʻlgani kabi choʻkish yoki choʻqqini kesish kabi koʻrinishi mumkin) Juda qisqa integratsiya vaqti shovqinli natijalarni keltirib chiqarishi mumkin (kamera fotosuratida bu qorongʻi boʻladi. yoki loyqa maydon, bu spektrometrda boʻlgani kabi tik yoki beqaror koʻrsatkichlar koʻrinishi mumkin).

EHM vaqti – oʻlchov paytida yorugʻlik sensorga tushadigan vaqt. Ushbu parametrni sozlash qurilmaning umumiy sezgirligini oʻzgartiradi, chunki kamera uchun taʼsir qilish vaqtini oʻzgartirish. Minimal integratsiya vaqti har bir skanerlash uchun kamida .5 ms va maksimal taxminan 10 daqiqa bilan asbobga qarab oʻzgaradi. Amaliy sozlama yorugʻlik intensivligiga qarab 3 dan 999 ms gacha oshishi mumkin.

Integratsiya vaqti maksimal hisobdan oshmaydigan signal uchun sozlanishi kerak (16-bitli CCD 65,536, 14-bitli CCD-da 16,384). Toʻyinganlik integratsiya vaqti juda yuqori oʻrnatilganda sodir boʻladi. Odatda, maksimaldan taxminan 85% gacha boʻlgan eng yuqori signal yaxshi maqsad boʻlib, yaxshi S / N nisbatini beradi. (masalan: mos ravishda 60K yoki 16K soni)

Skanerlar soni qancha oʻlchov oʻrtacha hisoblanishini koʻrsatadi. Boshqa narsalar teng boʻlsa, toʻplangan spektrlarning Signal-to-Shovqin nisbati (SNR) oʻrtacha hisoblangan N skanerlar sonining kvadrat ildiziga yaxshilanadi. Misol uchun, agar 16 ta spektral skanerlash oʻrtacha hisoblansa, SNR bitta skanerdan 4 marta yaxshilanadi.

S/N nisbati spektrometrning toʻliq shkalasiga yetib boradigan kirish yorugʻlik darajasida oʻlchanadi. Bu yorugʻlik darajasida signal sonining Cs (odatda toʻliq masshtabda) RMS (oʻrtacha oʻrtacha kvadrat) shovqiniga nisbati. Bu shovqin Nd qorongʻu shovqinni, kirish yorugʻligi va oʻqilgan shovqin bilan hosil boʻlgan hisoblar bilan bogʻliq tortishish shovqinini Ns oʻz ichiga oladi. Bu yorugʻlik oʻlchovlari uchun spektrometrdan olish mumkin boʻlgan eng yaxshi S / N nisbati.

 U qanday ishlaydi 
Spektroradiometrik tizimning asosiy komponentlari quyidagilardan iborat:

 Manbadan elektromagnit nurlanishni toʻplaydigan kirish optikasi (diffuzerlar, linzalar, optik tolali yorugʻlik yoʻriqnomalari)
 Kirish teshigi spektrometrga qancha yorugʻlik tushishini aniqlaydi. Kichikroq tirqish kattaroq aniqlikka ega, ammo umumiy sezgirligi kamroq
 Ikkinchi darajali effektlarni kamaytirish uchun tartiblash filtrlarini buyurtma qiling
 Kollimator yorugʻlikni panjara yoki prizmaga yoʻnaltiradi
 Nurning tarqalishi uchun panjara yoki prizma
 Yorugʻlikni detektorga toʻgʻrilash uchun fokuslash optikasi
 Detektor, CMOS sensori yoki CCD massivi
 Maʼlumotlarni aniqlash va saqlash uchun nazorat qilish va roʻyxatga olish tizimi. 

 Kirish optikasi 
Spektroradiometrning oldingi optikasi tizimga birinchi kirganda yorugʻlikni oʻzgartiradigan linzalar, diffuzorlar va filtrlarni oʻz ichiga oladi. Radiance uchun tor koʻrish maydoniga ega optika kerak. Umumiy oqim uchun integral sfera kerak. Nurlanish uchun kosinusni toʻgʻrilash optikasi talab qilinadi. Ushbu elementlar uchun ishlatiladigan material qaysi turdagi yorugʻlikni oʻlchashga qodirligini aniqlaydi. Misol uchun, ultrabinafsha nurlarini oʻlchash uchun shisha linzalar oʻrniga kvarts, optik tolalar, teflon diffuzorlar va bariy sulfat bilan qoplangan integratsiya sharlari koʻpincha UVni aniq oʻlchash uchun ishlatiladi. 

 Monoxromator 
Manbaning spektral tahlilini oʻtkazish uchun yoritgichning spektr javobini yaratish uchun har bir toʻlqin uzunligidagi monoxromatik yorugʻlik kerak boʻladi. Monoxromator manbadan toʻlqin uzunliklarini tanlash va asosan monoxromatik signalni ishlab chiqarish uchun ishlatiladi. Bu asosan oʻzgaruvchan filtr boʻlib, oʻlchangan yorugʻlikning toʻliq spektridan maʼlum bir toʻlqin uzunligini yoki toʻlqin uzunliklari bandini tanlab ajratib va uzatadi va bu hududdan tashqariga tushadigan har qanday yorugʻlikni istisno qiladi. American Astronomical Society. „Study Notes: AAS Monochromator.“ Study Notes: AAS Monochromator. N.p., n.d. Web. 2013. <>.

Oddiy monoxromator bunga kirish va chiqish yoriqlari, kollimatsiyalash va fokuslash optikasi hamda difraksion panjara yoki prizma kabi toʻlqin uzunligini tarqatuvchi element yordamida erishadi.  Zamonaviy monoxromatorlar diffraktsiya panjaralari bilan ishlab chiqariladi va diffraktsiya panjaralari deyarli faqat spektroradiometrik ilovalarda qoʻllanadi. Diffraktsiya panjaralari koʻp qirraliligi, past zaiflashuvi, keng toʻlqin uzunligi diapazoni, arzonligi va doimiy dispersiyasi tufayli afzalroqdir. Bentham Instruments Ltd. A Guide to Spectroradiometry: Instruments & Applications for the Ultraviolet. Guide. N.p., 1997. Web. <http://www.bentham.co.uk/pdf/UVGuide.pdf>

 Detektorlar 
Spektroradiometrda ishlatiladigan detektor yorugʻlik oʻlchanadigan toʻlqin uzunligi, shuningdek, kerakli dinamik diapazon va oʻlchovlarning sezgirligi bilan belgilanadi. Spektroradiometr detektorlarining asosiy texnologiyalari odatda uchta guruhdan biriga boʻlinadi: fotoemissiv detektorlar (masalan, fotokoʻpaytiruvchi quvurlar), yarimoʻtkazgichli qurilmalar (masalan, kremniy) yoki termal detektorlar (masalan, termopil).Shuningdek boshqa detektorlardan ham foydalanish mumkin. Ready, Jack. „Optical Detectors and Human Vision.“ Fundamentals of Photonics (n.d.): n. pag. SPIE. Web. <http://spie.org/Documents/Publications/00%20STEP%20Module%2006.pdf >.

Berilgan detektorning spektral javobi uning asosiy materiallari bilan belgilanadi. Misol uchun, fotokoʻpaytiruvchi quvurlarda topilgan fotokatodlar quyosh nuriga chidamli boʻlishi uchun maʼlum elementlardan ishlab chiqarilishi mumkin – UV taʼsiriga sezgir va koʻrinadigan yoki IQ nuriga javob bermaydi. J. W. Campbell, "Developmental Solar Blind Photomultipliers Suitable for Use in the 1450–2800-Å Region, " Appl. Opt. 10, 1232-1240 (1971)
http://www.opticsinfobase.org/ao/abstract.cfm?URI=ao-10-6-1232

CCD (Charge Coupled Device) massivlari odatda bir oʻlchovli (chiziqli) yoki ikki oʻlchovli (maydon) minglab yoki millionlab individual detektor elementlaridan (shuningdek, piksellar deb ataladi) va CMOS sensorlaridan iborat. Ular UV, koʻrinadigan va yaqin infra yorugʻlikni oʻlchashga qodir boʻlgan kremniy yoki InGaAs asosidagi koʻp kanalli massiv detektorini oʻz ichiga oladi.

CMOS (Qoʻshimcha metall oksidi yarimoʻtkazgich) sensorlari CCD dan farq qiladi, chunki ular har bir fotodiodga kuchaytirgich qoʻshadi. Bu faol piksel sensori deb ataladi, chunki kuchaytirgich pikselning bir qismidir. Transistorli kalitlar oʻqish vaqtida har bir fotodiodni intrapiksel kuchaytirgichga ulaydi.

 Tekshirish va roʻyxatga olish tizimi 
Jurnal tizimi koʻpincha oddiygina shaxsiy kompyuterdir. Dastlabki signalni qayta ishlashda signalni koʻpincha kuchaytirish va boshqarish tizimi bilan ishlatish uchun aylantirish kerak. Monoxromator, detektor chiqishi va kompyuter oʻrtasidagi aloqa liniyalari kerakli koʻrsatkichlar va xususiyatlardan foydalanishni taʼminlash uchun optimallashtirilishi kerak.  Spektroradiometrik tizimlar bilan taʼminlangan, tijoratda mavjud boʻlgan dasturiy taʼminot koʻpincha oʻlchovlarni keyingi hisoblash uchun foydali mos yozuvlar funktsiyalari bilan birga saqlanadi, masalan, CIE ranglarni moslashtirish funktsiyalari va V.  egri chiziq. Apogee Instruments. Spectroradiometer PS-100 (350 – 1000 Nm), PS-200 (300 – 800 Nm), PS-300 (300 – 1000 Nm). N.p.: Apogee Instruments, n.d. Apogee Instruments Spectroradiometer Manual. Web. <http://www.apogeeinstruments.com/content/PS-100_200_300manual.pdf>.

 Ilovalar 
Spektroradiometrlar koʻplab ilovalarda qoʻllanadi va ular turli xil texnik xususiyatlarni qondirish uchun tayyorlanishi mumkin. Misol ilovalarga quyidagilar kiradi:

 Quyosh UV va UVB nurlanishi
 LED oʻlchovi
 Oʻlchov va kalibrlashni koʻrsatish
 CFL testi
 Yog 'chiqalarini masofadan aniqlash Mattson, James S., Harry B. Mark Jr., Arnold Prostak, and Clarence E. Schutt. Potential Application of an Infrared Spectroradiometer for Remote Detection and Identification of Oil Slicks on Water. Tech. 5th ed. Vol. 5. N.p.: n.p., 1971. Print. Retrieved from <http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/es60052a004>

Oʻsimliklarni tadqiq qilish va rivojlantirish McFarland, M and Kaye, J (1992) Chlorofluorocarbons and Ozone. Photochem. Photobiol. 55 (6) 911-929.

 DIY quradi 
Toʻlqin uzunliklarini kalibrlash uchun CFL chiroq yordamida optik disk panjarasi va asosiy veb-kamera yordamida asosiy optik spektrometrni qurish mumkin.  Maʼlum spektr manbasidan foydalangan holda kalibrlash foto piksellarning yorqinligini talqin qilish orqali spektrometrni spektroradiometrga aylantirishi mumkin.  DIY qurilishiga fotosuratni qiymatga aylantirishda baʼzi qoʻshimcha xato manbalari taʼsir qiladi: fotografik shovqin (qorongʻi ramkani olib tashlashni talab qiladi) va CCD-dan fotosuratga oʻtkazishda chiziqli boʻlmaganlik (ehtimol, xom tasvir formati bilan hal qilinadi). 

 Shuningdek qarang 

 Radiometr
 Spektrometr
 Spektroradiometriya
 Spektrofotometriya

 Manbalar 

 Havolalar 

 Yorugʻlikni oʻlchashning asosiy printsiplari Xalqaro yorugʻlik texnologiyalaridan asosiy printsiplar boʻyicha maqola
 Spektroradiometr turlari
 shbu maqola Mirzo Ulugʻbek nomidagi Oʻzbekiston Milliy universitieti Fizika fakulteti talabasi Aminov Islom tomonidan Wikitaʼlim loyihasi doirasida ingliz tilidan tarjima qilindi.
Turkum:Pages with unreviewed translations