Elektronemikroskop

Dät Elektronemikroskop (de. Elektronenmikroskop) is ne Reewe, ju me bruukt uum mäd Hälpe fon Elektrone Dingere tou bekiekjen, do der tou littik sunt foar n optisk Mikroskop (also litjer as sun hoolwe Mikron).

Dät rakt moorere Soarten, t.B.:
 Dät Transmissionselektronemikroskop (TEM). Deerbie Wäide do Elektrone truch ne tän sliepede Schieuwe fon ju tou bekiekjende Materioalprobe scheeten un dan projektierd ap ne fluoreszierende Platte, so dät me se sjo kon. Do Bielden konnen photographisk fäästlaid wäide.

 Dät Rasterelektronemikroskop (REM), ängelsk Scanning Electron Microscope (SEM). Deerbie wäd dät Materioal ätter n Raster outaasted fon n fienen Elektronestroal. Do reflektierde Elektrone wäide apfoangen un dän eene Punkt ätter dän uur fäästlaid in ne Bielde. Fergratterenge bit 100.000 Moal is muugelk, mäd n aplöösend Fermuugen fon sowät een Nanometer. Weegen dän fiene Stroal is ju Schäärptedjupte gjucht groot, wiertruch oafte n 3D-Effekt äntstoant. Ju Gauegaidssponnenge bedrächt twiske 100V un 30 kV, wierbie ju Lääste gans fiene Bielden rakt, man dät Materioal uk moor stukken moaket. Foarallen bie organiske Materioale bruukt me deeruum ljauer läigere Sponnengen.
Foar REM houget ju Materioalprobe eerste nit slieped tou wäiden un deerfoar is dät ne fuul mäkkelker Methode as TEM. Bloot houget ju Luft ut ju Probekoomere pumped tou wäiden, dan dät Elektron kon sik bloot in Vakuum (ne luftloose Ruumte) fräi bewäägje. In n Rasterelektronemikroskop konnen uk Analysemethoden truchfierd wäide as Auger-Elektrone-Spektroskopie (AES) un Sekundär-Ione-Massen-Spektroskopie (SIMS).

Kategorie:Physik
Kategorie:Analyse
Kategorie:Elektronik
Kategorie:Optik