Persamaan Scherrer

Persamaan Scherrer, dalam difraksi dan kristalografi sinar-X , adalah suatu formula yang mengaitkan saiz zarah sub-mikrometre, atau kristal, dalam pepejal untuk memperluas puncak dalam pola difraksi. Ia dinamakan sempena Paul ScherrerP. Scherrer, Göttinger Nachrichten Gesell., Vol. 2, 1918, p 98. Ia digunakan dalam menentukan saiz zarah-zarah kristal dalam bentuk serbuk. 

Persamaan Scherrer boleh ditulis sebagai:



di mana:
 τ adalah saiz purata dari susunan (kristal) domain, yang mungkin lebih kecil atau sama dengan saiz butiran;
 K adalah faktor bentuk tanpa dimensi, dengan nilai yang dekat dengan satu. Faktor bentuk mempunyai nilai biasa kira-kira 0.9, tetapi berbeza dengan bentuk sebenar kristal;
 λ iadalah panjang gelombang sinar-X;
 β adalah garis pembesaran pada separuh keamatan maksimum (FWHM), selepas mengurangkan garis instrumental yang dibesarkan, dalam radian. Kuantiti ini juga kadang kala dilambangkan sebagai Δ (2θ);
 θ adalah sudut Bragg (dalam darjah).

 Bacaan lanjut 
 B.D. Cullity & S.R. Stock, Elements of X-Ray Diffraction, 3rd Ed., Prentice-Hall Inc., 2001, p 167-171, .
 R. Jenkins & R.L. Snyder, Introduction to X-ray Powder Diffractometry, John Wiley & Sons Inc., 1996, p 89-91, .
 H.P. Klug & L.E. Alexander, X-Ray Diffraction Procedures, 2nd Ed., John Wiley & Sons Inc., 1974, p 687-703, .
 B.E. Warren, X-Ray Diffraction, Addison-Wesley Publishing Co., 1969, p 251-254, .Warren, B.E. X-Ray Diffraction.

 Rujukan 

Kategori:Difraksi