Электронография

Электронография (электрон және графия) – электрондар шоғының заттан шашырауы кезінде пайда болатын дифракциялық кескін (бейне) алуға және оны тіркеуге негізделген құрылымдық зерттеу тәсілі. Рентгенография мен нейтронографияға қарағанда Э-ның мынадай ерекшеліктері бар: 1) электрондар затпен әлдеқайда күшті әсерлеседі. Сондықтан олар қалыңд. 10–5 – 10–7 см-ге дейінгі сынама үлгілерден өтіп, дифракц. кескін береді. Молекулалардың құрылымын зерттеген кезде сынама үлгі ретінде төмен қысымдағы бу ағыны пайдаланылады; 2) ауыр атомдар арасында орналасқан жеңіл атомдардың координаттарын анықтай алады; 3) электрондар сәулесінің толқын ұзындығы өте қысқа болуы себепті өте майда әрі ұлпа нысандарды зерттей алады; 4) электрондар шоғының қарқындылығы жоғары болып келеді. Э-лық зерттеулер мынадай бағыттарда дамып келеді: 1) булардағы немесе газдардағы молекулалардың құрылысын анықтауға арналған молекулалық (газдық) Э.; 2) құ-рылымы белгісіз кристалдың атомдық құрылымын толық анықтау немесе зерттелген құрылымдарды толтыру мақсатында орындалатын құрылымдық Э.; 3) беттік қабаттардың Э-сы; 4) әр түрлі фазалардың өзара жанасуынан пайда болатын құрылымдық ерекшеліктерді (микрокристалдар пішіні, ауыспалы құрылымдар, т.б.) зерттейтін субмикроскоп. кристаллография. Газдық Э. көмегімен булану темп-расы 1500 – 2000С-қа дейінгі зат молекулаларының құрылысы зерттеледі. Ядроаралық қашықтық пен тербеліс амплитудасының орташа квадраттық ауытқуы 0,01 – 0,001Е-ге дейінгі дәлдікпен анықталады. Құрылымдық Э. элементар ұяның параметрлерін және кристалдың атомдық құрылымын анықтау үшін пайдаланылады. Беттік қабаттардың Э-сы технол. өңдеу кезінде пайда болатын беттік өзгерістерді, тотығуды, коррозияны, т.б. зерттейді. Субмикроскоп. кристаллография табиғатта аз кездесетін әрі майда (мыс., минералдың ұлпа бөлшектері) заттар, күйелер, әр түрлі абразивтер сияқты заттардың (өлшемдері 10Е-нен аспайтын) құрылымын анықтауда пайдаланылады.

Санат:Физика