材料分析法の一覧

材料分析法の一覧:

μSR - ミュオンスピン回転（muon spin rotation）
χ - 磁化率を参照

A
Analytical ultracentrifugation - 超遠心分析
AAS - 原子吸光分光（Atomic absorption spectroscopy）
AED - オージェ電子回折（Auger electron diffraction）
AES - オージェ電子分光（Auger electron spectroscopy）
AFM - 原子間力顕微鏡（Atomic force microscope|Atomic force microscopy）
AFS - 原子蛍光分光（Atomic fluorescence spectroscopy）
APFIM - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Atom probe field ion microscopy）
APS - 出現電位分光（Appearance potential spectroscopy）
ARPES - 角度分解光電子分光（Angle resolved photoemission spectroscopy）
ARUPS - 角度分解紫外光電子分光（Angle resolved ultraviolet photoemission spectroscopy）
ATR -（Attenuated total reflectance）

B
BET - BET表面積測定 (BETはBrunauer、Emmett、Tellerに由来)
BiFC - （Bimolecular fluorescence complementation）
BKD - 後方散乱菊池回折（Backscatter Kikuchi diffraction）、EBSDを参照
BRET - 生物発光共鳴エネルギー移動（Bioluminescence resonance energy transfer）
BSED - 後方散乱電子回折（Back scattered electron diffraction）、EBSDを参照

C
CAICISS - 同軸型直衝突イオン散乱分光（Coaxial impact collision ion scattering spectroscopy）
CARS - （Coherent anti-Stokes Raman spectroscopy）
CBED - 収束電子回折（Convergent beam electron diffraction）
CCM - Charge collection microscopy（Charge collection microscopy）
CDI - （Coherent diffraction imaging）
CE - キャピラリー電気泳動（Capillary electrophoresis）
CET - クライオ電子線トモグラフィー（Cryo-electron tomography）
CL - カソードルミネッセンス（Cathodoluminescence）
CLSM - 共焦点レーザー走査型顕微鏡（Confocal laser scanning microscopy）
COSY - COSY（Correlation spectroscopy）
Cryo-EM - クライオ電子顕微鏡（Cryo-electron microscopy）
Cryo-SEM - （Cryo-scanning electron microscopy）
CV - サイクリックボルタンメトリー（Cyclic voltammetry）

D
DE(T)A - Dielectric thermal analysis
dHvA - ドハース・ファンアルフェン効果（De Haas–van Alphen effect）
DIC - 微分干渉顕微鏡（Differential interference contrast microscopy）
Dielectric spectroscopy - 
DLS - （Dynamic light scattering）
DLTS - 深い準位過渡分光（Deep-level transient spectroscopy）
DMA - （Dynamic mechanical analysis）
DPI - （Dual polarisation interferometry）
DRS - 拡散反射分光（Diffuse reflection spectroscopy）
DSC - 示差走査熱量測定（Differential scanning calorimetry）
DTA - 示差熱分析（Differential thermal analysis）
DVS - （Dynamic vapour sorption）

E
EBIC - （Electron beam induced current） 、IBIC（ion beam induced charge）も参照
EBS - 弾性（非ラザフォード）後方散乱分光（Elastic (non-Rutherford) backscattering spectrometry）、RBSを参照。
EBSD - 電子後方散乱回折（Electron backscatter diffraction）
ECOSY - ECOSY（Exclusive correlation spectroscopy）
ECT - 電気容量トモグラフィ（Electrical capacitance tomography）
EDAX - エネルギー分散型X線分析（Energy-dispersive analysis of x-rays）
EDMR - （Electrically detected magnetic resonance）、ESRやEPRを参照
EDS、EDX - エネルギー分散型X線分光（Energy dispersive X-ray spectroscopy）
EELS - 電子エネルギー損失分光（Electron energy loss spectroscopy）
EFTEM - （Energy filtered transmission electron microscopy）
EID - 電子誘起脱離（Electron induced desorption）
EIT、ERT - 電気インピーダンス・トモグラフィ（Electrical impedance tomography）、（Electrical resistivity tomography）
EL - エレクトロルミネセンス（Electroluminescence）
Electron crystallography - 
ELS - （Electrophoretic light scattering）
ENDOR - （Electron nuclear double resonance）
EPMA - 電子線マイクロアナライザ（Electron probe microanalysis）
EPR - 電子常磁性共鳴（Electron paramagnetic resonance）
ERD、ERDA - （Elastic recoil detection）または弾性反跳検出分析（Elastic recoil detection）
ESCA - 化学分析のための電子分光（Electron spectroscopy for chemical analysis）*XPSを参照
ESD - 電子刺激脱離（Electron stimulated desorption）
ESEM - 環境制御型走査電子顕微鏡（Environmental scanning electron microscopy）
ESI-MS、ES-MS - エレクトロスプレーイオン化質量分析法（Electrospray ionization mass spectrometry）、エレクトロスプレー質量分析法（Electrospray mass spectrometry）
ESR - 電子スピン共鳴
ESTM - 電気化学走査型トンネル顕微鏡（Electrochemical scanning tunneling microscopy）
EXAFS - 広域X線吸収微細構造（Extended X-ray absorption fine structure）
EXSY - EXSY（Exchange spectroscopy）

F
FCS - 蛍光相関分光法（Fluorescence correlation spectroscopy）
FCCS - （Fluorescence cross-correlation spectroscopy）
FEM - （Field emission microscopy）
FIB - 集束イオンビーム（Focused ion beam）
FIM-AP - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Field ion microscopy-atom probe）
Flow birefringence - 
Fluorescence anisotropy - 
FLIM - （Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy）
Fluorescence microscopy - 蛍光顕微鏡
FOSPM - Feature-oriented scanning probe microscopy
FRET - 蛍光共鳴エネルギー移動（Fluorescence resonance energy transfer）
FRS - 前方反跳分光（Forward Recoil Spectrometry）、ERDと同義
FTICR、FT-MS - フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計（Fourier transform ion cyclotron resonance）、フーリエ変換質量分析（Fourier transform mass spectrometry）
FTIR - フーリエ変換赤外分光（Fourier transform infrared spectroscopy）

G
GC-MS - ガスクロマトグラフィー–質量分析法（Gas chromatography-mass spectrometry）
GD-MS - グロー放電質量分析法（Glow discharge mass spectrometry）
GD-OES - グロー放電発光分光（Glow discharge optical spectroscopy）
GISAXS - すれすれ入射小角X線散乱（Grazing incidence small angle X-ray scattering）
GIXD - すれすれ入射X線回折（Grazing incidence X-ray diffraction）
GIXR - すれすれ入射X線反射率測定（Grazing incidence X-ray reflectivity）
GLC - 気液クロマトグラフィー（Gas-liquid chromatography）

H
HAADF - 高角環状暗視野像（high angle annular dark-field imaging）
HAS - （Helium atom scattering）
HPLC - 高速液体クロマトグラフィー（High performance liquid chromatography）
HREELS - （High resolution electron energy loss spectroscopy）
HREM  - 高分解能電子顕微鏡（High-resolution electron microscopy）
HRTEM  - （High-resolution transmission electron microscopy）
HI-ERDA  - 重イオン弾性反跳検出分析（Heavy-ion elastic recoil detection analysis）
HE-PIXE  - 高エネルギー陽子励起X線放出（High-energy proton induced X-ray emission）

I
IAES - イオン励起オージェ電子分光（Ion induced Auger electron spectroscopy）
IBA - （Ion beam analysis）
IBIC - イオンビーム誘起電荷顕微鏡（Ion beam induced charge microscopy）
ICP-AES - 誘導結合プラズマ発光分析（Inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy）
ICP-MS - 誘導結合プラズマ質量分析（Inductively coupled plasma mass spectrometry）
Immunofluorescence - 
ICR - （Ion cyclotron resonance）
IETS - （Inelastic electron tunneling spectroscopy）
IGA - Intelligent gravimetric analysis
IGF - 不活性ガス融解（Inert gas fusion）
IIX - イオン励起X線分析（Ion induced X-ray analysis）:粒子線励起X線分析を参照
INS - 非弾性中性子散乱（Inelastic neutron scattering）、イオン中和分光（Ion neutralization spectroscopy）
IRNDT - （Infrared non-destructive testing of materials）
IRS - 赤外分光法（Infrared spectroscopy）
ISS - イオン散乱分光（Ion scattering spectroscopy）
ITC - 等温滴定カロリメトリー（Isothermal titration calorimetry）
IVEM - 中間電圧電子顕微鏡（Intermediate voltage electron microscopy）

L
LALLS - （Low-angle laser light scattering）
LC-MS - 液体クロマトグラフィー-質量分析（Liquid chromatography-mass spectrometry）
LEED - 低速電子線回折（Low-energy electron diffraction）
LEEM - （Low-energy electron microscopy）
LEIS - （Low-energy ion scattering）
LIBS - レーザー誘起ブレークダウン分光（Laser induced breakdown spectroscopy）
LOES - Laser optical emission spectroscopy
LS - 光散乱（Light (Raman) scattering）

M
MALDI - マトリックス支援レーザー脱離イオン化法（Matrix-assisted laser desorption/ionization）
MBE - 分子線エピタキシー法（Molecular beam epitaxy）
MEIS - 中エネルギーイオン散乱（Medium energy ion scattering）
MFM - 磁気力顕微鏡（Magnetic force microscopy）
MIT - 磁気誘導断層撮影（Magnetic induction tomography）
MPM - 多光子蛍光顕微鏡（Multiphoton fluorescence microscopy）
MRFM - 磁気共鳴力顕微鏡（Magnetic resonance force microscopy）
MRI - 核磁気共鳴画像法（Magnetic resonance imaging）
MS - 質量分析法（Mass spectrometry）
MS/MS - （Tandem mass spectrometry）
MSGE - Mechanically Stimulated Gas Emission
Mossbauer spectroscopy - メスバウアー分光（Mossbauer spectroscopy）
MTA - （Microthermal analysis）

N
NAA - 中性子放射化分析（Neutron activation analysis）
Nanovid microscopy - Nanovid microscopy
ND - 中性子回折（Neutron diffraction）
NDP - （Neutron depth profiling）
NEXAFS - 吸収端近傍X線吸収微細構造（Near edge X-ray absorption fine structure）
NIS - 中性子非弾性散乱（Nuclear inelastic scattering）
NMR - 核磁気共鳴分光法（Nuclear magnetic resonance spectroscopy）
NOESY - 核オーバーハウザー効果分光（Nuclear Overhauser effect spectroscopy）
NRA - 核反応法（Nuclear reaction analysis）
NSOM - 走査型近接場光顕微鏡（Near-field scanning optical microscopy）

O
OBIC - （Optical beam induced current）
ODNMR - 光検出磁気共鳴（Optically detected magnetic resonance）、ESRやEPRを参照
OES - 発光分光（Optical emission spectroscopy）
Osmometry - 

P
PAS - （Positron annihilation spectroscopy）
Photoacoustic spectroscopy - 光音響分光（Photoacoustic spectroscopy）
PAT or PACT - 光音響トモグラフィー（Photoacoustic tomography）または光音響コンピュータトモグラフィー（photoacoustic computed tomography）
PAX - Photoemission of adsorbed xenon
PC or PCS - 光電流分光（Photocurrent spectroscopy）
Phase contrast microscopy - 位相差顕微鏡（Phase contrast microscopy）
PhD - 光電子回折（Photoelectron diffraction）
PD - 光脱離（Photodesorption）
PDEIS - Potentiodynamic electrochemical impedance spectroscopy
PDS - 光熱偏向分光法（Photothermal deflection spectroscopy）
PED - 光電子回折（Photoelectron diffraction）
PEELS - 並列型電子エネルギー損失分光（parallel electron energy loss spectroscopy）
PEEM - 光電子顕微鏡（Photoemission electron microscopy、photoelectron emission microscopy)
PES - 光電子分光（Photoelectron spectroscopy）
PINEM - 光子誘起近接場電子顕微鏡法（photon-induced near-field electron microscopy）
PIGE - 粒子線励起ガンマ線放出（Particle (or proton) induced gamma-ray spectroscopy）、 核反応法を参照
PIXE - 粒子線励起X線分析（Particle (or proton) induced X-ray spectroscopy）
PL - フォトルミネッセンス（Photoluminescence）
Porosimetry - ポロシメトリー（Porosimetry）
Powder diffraction - （Powder diffraction）
PTMS - （Photothermal microspectroscopy）
PTS - 光熱変換分光法（Photothermal spectroscopy）

Q
QENS - （Quasielastic neutron scattering）

R
Raman - ラマン分光法（Raman spectroscopy）
RAXRS - （Resonant anomalous X-ray scattering）
RBS - ラザフォード後方散乱分光（Rutherford backscattering spectrometry）
REM - 反射電子顕微鏡（Reflection electron microscopy）
RDS - （Reflectance Difference Spectroscopy）
RHEED - 反射高速電子線回折（Reflection high energy electron diffraction）
RIMS - （Resonance ionization mass spectrometry）
RIXS - （Resonant inelastic X-ray scattering）
RR spectroscopy - （Resonance Raman spectroscopy）

S
SAD - 制限視野回折（Selected area diffraction）
SAED - 制限視野電子回折（Selected area electron diffraction）
SAM - 走査型オージェ顕微鏡（Scanning Auger microscopy）
SANS - （Small angle neutron scattering）
SAXS  - X線小角散乱（Small angle X-ray scattering）
SCANIIR - 粒子衝撃光放射（Surface composition by analysis of neutral species and ion-impact radiation）
SCEM - （Scanning confocal electron microscopy）
SE - 分光エリプソメトリー（Spectroscopic ellipsometry）
SEC - サイズ排除クロマトグラフィー（Size exclusion chromatography）
SEIRA - 表面増強赤外吸収分光（Surface enhanced infrared absorption spectroscopy）
SEM - 走査型電子顕微鏡（Scanning electron microscopy）
SERS - 表面増強ラマン散乱（Surface enhanced Raman spectroscopy）
SERRS - 表面増強共鳴ラマン散乱（Surface enhanced resonance Raman spectroscopy）
SEXAFS - （Surface extended X-ray absorption fine structure）
SICM - （Scanning ion-conductance microscopy）
SIL - ソリッドイマージョンレンズ（Solid immersion lens）
SIM - ソリッドイマージョンミラー（Solid immersion mirror）
SIMS - 二次イオン質量分析法（Secondary ion mass spectrometry）
SNMS - スパッタ中性粒子質量分析（Sputtered neutral species mass spectrometry）
SNOM - 走査型近接場光顕微鏡（Scanning near-field optical microscopy）
SPECT - 単一光子放射断層撮影（Single photon emission computed tomography）
SPM - 走査型プローブ顕微鏡（Scanning probe microscopy）
SRM-CE/MS - 選択反応検出-キャピラリー電気泳動質量分析法（Selected-reaction-monitoring capillary-electrophoresis mass spectrometry）
SSNMR - 固体核磁気共鳴（Solid-state nuclear magnetic resonance）
Stark spectroscopy - シュタルク分光
STED - 誘導放出抑制顕微鏡（Stimulated Emission Depletion microscopy）
STEM - 走査型透過電子顕微鏡（Scanning transmission electron microscopy）
STM - 走査型トンネル顕微鏡（Scanning tunneling microscopy）
STS - 走査型トンネル分光法（Scanning tunneling spectroscopy）
SXRD - （Surface X-ray Diffraction）

T
TAT or TACT - 熱音響トモグラフィー（Thermoacoustic tomography）または熱音響コンピュータトモグラフィー（thermoacoustic computed tomography）、光音響トモグラフィー(PAT)も参照
TEM - 透過型電子顕微鏡（transmission electron microscopy）
TGA - 熱重量分析（Thermogravimetric analysis）
TIKA - Transmitting ion kinetic analysis
TIMS - （Thermal ionization mass spectrometry）
TIRFM - 全反射照明蛍光顕微鏡（Total internal reflection fluorescence microscopy）
TLS - 熱レンズ分光（Photothermal lens spectroscopy）、光熱分光の一種
TMA - （Thermomechanical analysis）
TOF-MS - 飛行時間型質量分析計（Time-of-flight mass spectrometry）
Two-photon excitation microscopy - 2光子励起顕微鏡（Two-photon excitation microscopy）
TXRF - 全反射蛍光X線（Total reflection X-ray fluorescence）

U
Ultrasound attenuation spectroscopy - 
Ultrasonic testing - 超音波探傷検査（Ultrasonic testing）
UPS - 紫外光電子分光法（UV-photoelectron spectroscopy）
USANS - 超小角中性子散乱（Ultra small-angle neutron scattering）
USAXS - 超小角X線散乱（Ultra small-angle X-ray scattering
UV-Vis - 紫外可視分光法（Ultraviolet-visible spectroscopy)

V
VEDIC - Video-enhanced differential interference contrast microscopy
Voltammetry - ボルタンメトリー

W
WAXS  - （Wide angle X-ray scattering）
WDXまたはWDS - 波長分散型X線分光（Wavelength dispersive X-ray spectroscopy）

X
XAES - X線励起オージェ電子分光（X-ray induced Auger electron spectroscopy）
XANES - （X-ray Absorption Near Edge Structure）
XAS - X線吸収分光法（X-ray absorption spectroscopy）
X-CTR - 散乱（X-ray crystal truncation rod scattering）
X-ray crystallography - X線結晶構造解析（X-ray crystallography）
XDS - X線散漫散乱（X-ray diffuse scattering）
XPEEM - X線光電子顕微鏡（X-ray photoelectron emission microscopy）
XPS - X線光電子分光（X-ray photoelectron spectroscopy）
XRD - X線回折（X-ray diffraction）
XRES - X線共鳴交換散乱（X-ray resonant exchange scattering）
XRF - 蛍光X線分析（X-ray fluorescence analysis）
XRR - （X-ray reflectivity）
XRS - （X-ray Raman scattering）
XSW - 法（X-ray standing wave technique）

参考文献

Category:物質科学
Category:分析化学
Category:科学関連の一覧