Kristalografi sinar-X

Kristalografi sinar-X adalah metode atau alat yang digunakan untuk menentukan struktur atom dan molekul sebuah kristal dengan cara mendifraksikan seberkas sinar-X ke segala arah. Dengan mengukur sudut dan intensitas difraksi sinar ini, kristalografer dapat menghasilkan gambar tiga dimensi mengenai kepadatan elektron di dalam kristal. Dari gambar kepadatan elektron ini, posisi rata-rata atom di dalam kristal dapat ditentukan, serta ikatan kimia yang terkandung dalam atom tersebut, entropi, dan berbagai informasi lainnya.

Karena banyak materi yang bisa membentuk kristal, seperti garam, logam, mineral, semikonduktor, dan sebagainya, kristalografi sinar-X telah menjadi hal yang mendasar dalam pengembangan berbagai bidang ilmu. Pada dekade pertama penggunaannya, metode ini menentukan ukuran atom, panjang dan jenis ikatan kimia, serta perbedaan skala atom pada berbagai materi, terutama mineral dan logam padu. Metode ini juga bisa mengungkapkan struktur dan fungsi dari banyak molekul biologis, termasuk vitamin, obat-obatan, protein, dan asam nukleat seperti DNA. Saat ini, kristalografi sinar-X masih menjadi metode utama untuk menentukan karakteristik struktur atom pada materi baru dan untuk membedakan struktur suatu materi dengan yang lainnya. Struktur kristal sinar-X juga bisa menjelaskan sifat elektronik atau elastis dari suatu materi, menjelaskan interaksi dan proses kimia yang terjadi, dan juga berfungsi sebagai dasar untuk merancang obat-obatan bagi penyakit tertentu. See also   

 Referensi 

 Bacaan lanjutan 




 Pranala luar 

 Crystallography Open Database (COD)
 Protein Data Bank (PDB)
 Nucleic Acid Databank (NDB)
 Cambridge Structural Database (CSD)
 Inorganic Crystal Structure Database (ICSD)
 Biological Macromolecule Crystallization Database  (BMCD)

Kategori:Kristalografi
Kategori:Difraksi
Crystallography
Kategori:Struktur protein